如下圖所示，UE無法進(jìn)行LTE到SA重選。

UE占用LTE小區(qū)，相關(guān)配置如下。

• LTE小區(qū)：頻點為100，PCI為261，RSRP = -81.75 dBm，小區(qū)頻點優(yōu)先級配置為5。

• SA小區(qū)：頻點為629952，小區(qū)頻點優(yōu)先級配置為7，低優(yōu)先級到高優(yōu)先級重選門限為-114 dBm。

1. 告警檢查

   查看4G/5G小區(qū)均無告警。

   
   

2. 參數(shù)核查

   查看SIB3消息，LTE本小區(qū)重選優(yōu)先級為5，最小接入電平為-122 dBm。

   
   

   查看SIB24消息，SA小區(qū)重選優(yōu)先級為7，Thresh X-High為4。

   
   

   經(jīng)過確認(rèn)參數(shù)設(shè)置無異常。

   
   

3. SA信號檢查

   UE鎖定SA模式，在同一地點開啟飛行模式后再關(guān)閉飛行模式，UE能夠正常占用SA小區(qū)，RSRP=-76 dBm，滿足LTE側(cè)配置的重選到高優(yōu)先級門限-114 dBm。

   
   

   經(jīng)過以上分析，SIB24正常下發(fā)，且SA基站信號正常，因此推測可能原因為：UE占用LTE導(dǎo)致無法檢測到NR側(cè)SSB信號。重選由UE進(jìn)行決策，懷疑UE存在問題。

從LTE側(cè)無法檢測到NR SSB信號開始分析， 目前LTE有兩種GAP模式：

• GAP Pattern 0（type 1）：重復(fù)測量周期為40 ms，測量周期為6 ms。

• GAP Pattern 1（type 2）：重復(fù)測量周期為80 ms，測量周期為6 ms。

GAP測量時利用UE休眠期，周期性的改變UE當(dāng)前工作頻率，讓UE測量指定頻率上的測量指標(biāo)。UE使用6 ms時間改變發(fā)射頻率，去進(jìn)行異頻測量。

連接態(tài)UE通過無GAP測量方案，固定接收20 ms數(shù)據(jù)保證能搜到SSB（SSB周期小于等于20 ms），空閑態(tài)則只能按照LTE側(cè)配置的SMTC窗的起始位置和duration接收數(shù)據(jù)，如果LTE側(cè)配置的SMTC未能包含NR的SSB周期，就搜不到SSB信號。

5G側(cè)配置的SSB周期規(guī)范為20 ms，由于LTE側(cè)采用頻率同步，空閑態(tài)無法與NR側(cè)在時間上進(jìn)行對齊調(diào)整，因此在LTE測量時間6 ms時間內(nèi)，可能無法測量到SSB信號。

解決措施1：修改LTE站點同步方式由頻率同步改為相位同步。

解決措施2：修改NR側(cè)SSB周期為5 ms（小于LTE測量時間）。

現(xiàn)場采用解決措施1，LTE基站修改相位同步后，終端能夠測量到NR側(cè)信號，重選正常。

本案例從LTE側(cè)測量機制的原理以及NR側(cè)SSB發(fā)射周期進(jìn)行對比分析，從FDD和TDD同步方式差異上，針對不同網(wǎng)絡(luò)雙工方式選擇合適的解決方案。對比兩種不同解決方案，對網(wǎng)絡(luò)性能影響參見下表。

根據(jù)以上從LTE和NR互操作和性能綜合進(jìn)行分析，優(yōu)先采用LTE側(cè)進(jìn)行相位同步方案。

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