隨著LED市場發(fā)展快速，壽命評估已經成為新興照明應用的一個關注點。傳統(tǒng)熱管理面臨一大挑戰(zhàn)：傳統(tǒng)溫度測試并不適合測試所有燈具，這就迫切要求建立一個有效和快速的壽命評定方法，以支持和推動LED產業(yè)發(fā)展。

　　桂林電子科技大學院長、教授楊道國在2012中國國際半導體照明論壇上做題為《LED燈具壽命的快速檢測：階梯壓力加速測試》的報告時提出，半導體行業(yè)通常有一個可靠性測試方法：持續(xù)加速測試。但是這個測試對高可靠性產品并不很適用，因此必須設計出階梯壓力加速測試，以減短測試時間。

　　楊道國教授提出的階梯壓力加速測試有幾個優(yōu)點：適合長壽命的產品、測試時間短、測試樣本小、顯示出LED產品潛在的可靠性試驗應用，其次階梯壓力加速測試對LED產品進行研究，在設計實驗的基礎上取得了一些初步結果。根據這個實驗結果可以得出快速壽命評估方法適用于LED產品。

　　因為內部測試，壽命等方面不同，可靠性測試有很多挑戰(zhàn)。而階梯壓力加速測試是有效的方法，目前已經進行了初步測試，希望未來對模具也能進行測試，期待得到更多結果。

　　在提到有效性測試時，楊道國教授表示目前有幾種方法能減少測試時間、降低測試成本。比如將各個次體統(tǒng)相結合，建立一個完整系統(tǒng)的方法，其模擬結果與真實結果對比，發(fā)現在節(jié)溫上長效機制得到改變。