如何改善功率轉(zhuǎn)換效率和降低功耗
–選擇損耗最低的有源器件(如新型的功率半導(dǎo)體)
–測量輸入和輸出功率
–測量功率損耗,與每個器件的預(yù)計結(jié)果進(jìn)行對比
–試著改變器件,看損耗是否下降
–試著改變電路拓?fù)湓O(shè)計,看效率是否改善
–重復(fù)上述流程幾次,嘗試進(jìn)行小的改進(jìn),直到滿足產(chǎn)品規(guī)范
泰克功率電子測試測量解決方案
如何改善功率轉(zhuǎn)換效率和降低功耗
–選擇損耗最低的有源器件(如新型的功率半導(dǎo)體)
–測量輸入和輸出功率
–測量功率損耗,與每個器件的預(yù)計結(jié)果進(jìn)行對比
–試著改變器件,看損耗是否下降
–試著改變電路拓?fù)湓O(shè)計,看效率是否改善
–重復(fù)上述流程幾次,嘗試進(jìn)行小的改進(jìn),直到滿足產(chǎn)品規(guī)范
泰克功率電子測試測量解決方案
為保障測試安全,在對直流電源進(jìn)行串聯(lián)運行時,必須使用串聯(lián)連接盒(SCB)。憑借25μs的過壓檢測響應(yīng)時間,該裝置能有效防止串聯(lián)設(shè)備超過額定絕緣電壓,保障系統(tǒng)安全運行。
關(guān)鍵字: 測試測量本文介紹了Force-I QSCV技術(shù),解釋了如何在Clarius軟件中使用這些測試,將該技術(shù)與其他方法進(jìn)行了比較,驗證了Force-I QSCV在測量速度、穩(wěn)定性、精度及設(shè)備需求方面的顯著優(yōu)勢。
關(guān)鍵字: 測試測量本文通過引入脈沖應(yīng)力與電荷泵技術(shù),解決了傳統(tǒng)直流方法在先進(jìn)CMOS及高K材料可靠性評估中的三大盲區(qū):動態(tài)恢復(fù)效應(yīng)、頻率相關(guān)壽命、界面陷阱實時監(jiān)測。
關(guān)鍵字: 測試測量RIGOL提供了專業(yè)的功率半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試解決方案,助力工程師實現(xiàn)高效評估與優(yōu)化器件性能。
關(guān)鍵字: 測試測量日前在上海舉行的飛行汽車與低空經(jīng)濟(jì)生態(tài)大會上,泰克科技(Tektronix)攜覆蓋“核心三電-航電感知-控制總線”的全鏈路測試解決方案重磅亮相,展示其賦能電動垂直起降飛行器(eVTOL)智能航電系統(tǒng)及新型電推進(jìn)技術(shù)的創(chuàng)新...
關(guān)鍵字: 測試測量面對氮氧傳感器日益復(fù)雜的測試需求,泰克MSO4/5/6B示波器級聯(lián)方案憑借硬件與軟件的深度協(xié)同,實現(xiàn)了從信號采集到數(shù)據(jù)分析的全鏈路突破。
關(guān)鍵字: 測試測量