NCV70522在汽車自適應(yīng)前照燈系統(tǒng)(AFS)應(yīng)用中堵轉(zhuǎn)檢測的實(shí)現(xiàn)
簡介
由于機(jī)械結(jié)構(gòu)的限制，自適應(yīng)前照燈系統(tǒng)(AFS)應(yīng)用中，步進(jìn)電機(jī)有時(shí)可能會堵轉(zhuǎn)。一旦電機(jī)堵轉(zhuǎn)，電子控制單元(ECU)將失去前照燈位置的跟蹤信息并作出不恰當(dāng)?shù)姆磻?yīng)，滋生極嚴(yán)重的安全問題，所以AFS應(yīng)用中堵轉(zhuǎn)檢測是必不可少的。
通?？梢酝ㄟ^電機(jī)的反電動勢(BEMF)來判斷電機(jī)堵轉(zhuǎn)與否。BEMF因電機(jī)速度、負(fù)載及供電電壓的不同而變化。傳統(tǒng)的步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動芯片無BEMF輸出，但包含內(nèi)置堵轉(zhuǎn)檢測算法?？蛻魞H可以在寄存器里設(shè)定固定的堵轉(zhuǎn)認(rèn)定臨界值，這表示在真實(shí)道路條件下所有設(shè)定值都必須在工作之前“離線”預(yù)設(shè)，而不能適配真實(shí)工作條件。
安森美半導(dǎo)體的NCV70522微步步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動器透過SLA引腳提供BEMF輸出，這表示它能實(shí)時(shí)進(jìn)行停轉(zhuǎn)檢測計(jì)算，并根據(jù)不同條件來調(diào)節(jié)檢測等級。
算法說明
由于線圈電流衰減期間的再循環(huán)電流相對較大，線圈電壓Vcoil就展示出瞬態(tài)特性。由于應(yīng)用軟件中并不總是想要瞬態(tài)，就可以通過
為了將采樣的BEMF輸出電平適應(yīng)到(0 V至5 V)范圍，采樣的線圈電壓Vcoil可選擇被除以2或4。此設(shè)定通過SPI位
此BEMF電壓在每個所謂的“線圈電流過零”期間采樣。每個線圈在每個電氣周期內(nèi)存在2個零電流位置，因而每個電氣周期共有4個過零觀察點(diǎn)，故可以測量4次BEMF。如果微步位置位于“線圈電流過零點(diǎn)”，BEMF電壓將僅由電機(jī)驅(qū)動器采樣。微步位置可以通過SPI接口來讀取。
通過軟件，我們可以基于測量的1個電氣周期內(nèi)的4次SLA值來靈活地判斷是否堵轉(zhuǎn)。
算法應(yīng)用
NCV70522是一款微步步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動器，用于雙極型步進(jìn)電機(jī)。這芯片通過I/O引腳及SPI接口連接至外部微控制器。NCV70522輸出電流有多種選擇。它根據(jù)“NXT”輸入引腳上的脈沖信號以及方向寄存器[DIRCTRL]或“DIR”輸入引腳的狀態(tài)來轉(zhuǎn)動下一個微步。這器件提供從滿步到32微步的細(xì)分、由SPI寄存器SM[2:0]來選擇的7種步進(jìn)模式。NCV70522包含SLA的輸出，可以用于堵轉(zhuǎn)檢測算法及根據(jù)電機(jī)的BEMF來調(diào)節(jié)轉(zhuǎn)矩和速度計(jì)算。典型應(yīng)用電路圖如圖2所示。
當(dāng)系統(tǒng)上電時(shí)候，微控制器就會初始化，NCV70522復(fù)位。這些動作完成時(shí)，線圈電流及步進(jìn)模式將被設(shè)定。然后電機(jī)驅(qū)動器將啟用。NXT脈沖將被發(fā)送實(shí)現(xiàn)轉(zhuǎn)動電機(jī)。電機(jī)轉(zhuǎn)速等于NXT脈沖頻率乘以步進(jìn)細(xì)分模式的值。圖3是流程圖。
示例：在正常狀態(tài)及堵轉(zhuǎn)狀態(tài)時(shí)檢查SLA輸出電平，如下所示：
因此，我們可以認(rèn)為：如果4個“線圈電流過流點(diǎn)”中有2個SLA電平低于1.5 V，那么就處于堵轉(zhuǎn)狀態(tài)。
簡介
與傳統(tǒng)步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動器IC相比，NCV70522包含BEMF輸出，能夠?qū)崟r(shí)地 準(zhǔn)確地反應(yīng)電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)情況，非常適合汽車自適應(yīng)前照燈系統(tǒng)中的應(yīng)用。堵轉(zhuǎn)檢測閾值可以根據(jù)電機(jī)速度、負(fù)載特性及供電電壓的不同來調(diào)節(jié)。
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