?數(shù)字示波器?是一種高性能的電子測(cè)試儀器,通過(guò)數(shù)據(jù)采集、A/D轉(zhuǎn)換和軟件編程等技術(shù),將被測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號(hào)進(jìn)行處理和顯示。
反激變換器(Flyback Converter),也稱為反激式轉(zhuǎn)換器或反激式變換器,是一種廣泛應(yīng)用于交流直流(AC/DC)和直流直流(DC/DC)轉(zhuǎn)換的電力電子器件。
DC/DC轉(zhuǎn)換器是開關(guān)電源芯片,指利用電容、電感的儲(chǔ)能的特性,通過(guò)可控開關(guān)(MOSFET等)進(jìn)行高頻開關(guān)的動(dòng)作,將輸入的電能儲(chǔ)存在電容(感)里,當(dāng)開關(guān)斷開時(shí),電能再釋放給負(fù)載,提供能量。
單片機(jī),作為一種集成電路芯片,集成了中央處理器CPU、隨機(jī)存儲(chǔ)器RAM、只讀存儲(chǔ)器ROM以及多種I/O口和中斷系統(tǒng)、定時(shí)器/計(jì)數(shù)器等功能。
音頻處理是我們?cè)谑褂煤芏啻笮碗娮釉O(shè)備時(shí)所要經(jīng)常用到的音頻處理裝置,它能夠幫助我們控制音樂或配樂,使其在不同場(chǎng)景中產(chǎn)生不同的聲音效果。
眾多 專業(yè)人士和音響愛好者一直在努力探索和開發(fā)全頻喇叭的技術(shù)。 專業(yè)人士和愛好者致力于開發(fā)全頻喇叭技術(shù),以期實(shí)現(xiàn)聲音的無(wú)損傳遞。
慣性導(dǎo)航系統(tǒng)(INS,以下簡(jiǎn)稱慣導(dǎo))是一種不依賴于外部信息、也不向外部輻射能量的自主式導(dǎo)航系統(tǒng)。其工作環(huán)境不僅包括空中、地面,還可以在水下。
在當(dāng)今數(shù)字化時(shí)代,集成電路(IC)作為電子設(shè)備的核心,其重要性不言而喻。數(shù)字 IC 在眾多電子產(chǎn)品中扮演著關(guān)鍵角色,而數(shù)字 IC 的中后端設(shè)計(jì)服務(wù)以及模擬 IP,更是集成電路領(lǐng)域中不可或缺的重要環(huán)節(jié),它們對(duì)于芯片的性能、成本和上市時(shí)間有著深遠(yuǎn)影響。
在當(dāng)今數(shù)字化時(shí)代,半導(dǎo)體器件無(wú)處不在,從智能手機(jī)到汽車,從工業(yè)控制到醫(yī)療設(shè)備,它們?nèi)缤⑿《鴱?qiáng)大的 “大腦”,驅(qū)動(dòng)著現(xiàn)代科技的飛速發(fā)展。而在這些半導(dǎo)體器件中,有一個(gè)關(guān)鍵組件常常被忽視,卻對(duì)器件的性能與可靠性起著舉足輕重的作用,它就是引線框架。
UPS,即不間斷電源(uninterruptible power system),是一種關(guān)鍵的外部設(shè)備,旨在提供持續(xù)、穩(wěn)定且無(wú)間斷的電力供應(yīng)。
納祥科技應(yīng)客戶需求推出LED電子沙漏計(jì)時(shí)器方案,方案集成了主控MCU、重力傳感器、LED驅(qū)動(dòng)、電源管理、PWM調(diào)光等關(guān)鍵組件,支持無(wú)限計(jì)時(shí)模式與30分鐘內(nèi)計(jì)時(shí)模式
量子計(jì)算邁向?qū)嵱没倪M(jìn)程,量子-經(jīng)典混合芯片架構(gòu)成為突破技術(shù)瓶頸的關(guān)鍵路徑。超導(dǎo)量子比特雖具備高速門操作與可擴(kuò)展性優(yōu)勢(shì),但其運(yùn)行需在毫開爾文級(jí)低溫環(huán)境中維持量子態(tài)相干性;而CMOS控制電路則依賴室溫環(huán)境下的成熟工藝與高集成度。這種物理?xiàng)l件的極端差異,催生了量子-經(jīng)典接口設(shè)計(jì)的核心挑戰(zhàn):如何在超低溫與室溫之間實(shí)現(xiàn)高效、低噪聲的信號(hào)傳輸與協(xié)同控制。從超導(dǎo)諧振腔的量子態(tài)編碼到CMOS芯片的脈沖序列生成,接口設(shè)計(jì)正成為連接量子世界與經(jīng)典世界的橋梁。
半導(dǎo)體技術(shù)逼近物理極限,扇出型晶圓級(jí)封裝(FOWLP)憑借其高I/O密度、小型化潛力與系統(tǒng)級(jí)集成能力,成為延續(xù)摩爾定律的關(guān)鍵技術(shù)。然而,隨著封裝結(jié)構(gòu)復(fù)雜度指數(shù)級(jí)增長(zhǎng),從重布線層(RDL)的可靠性到應(yīng)力遷移的仿真驗(yàn)證,F(xiàn)OWLP正面臨多重可靠性挑戰(zhàn)。這些挑戰(zhàn)不僅源于材料熱膨脹系數(shù)不匹配、工藝缺陷積累,更涉及多物理場(chǎng)耦合作用下的長(zhǎng)期失效機(jī)制。
在多路遙測(cè)系統(tǒng)中,TLV2548 作為一款常用的 12 位串行模數(shù)轉(zhuǎn)換器,因其具備多通道、高速、低功耗等特性,被廣泛應(yīng)用于各類數(shù)據(jù)采集場(chǎng)景。然而,在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中,TLV2548 多路遙測(cè)常受到多種干擾問題的困擾,這些干擾嚴(yán)重影響了數(shù)據(jù)采集的準(zhǔn)確性與可靠性。深入解析這些常見干擾問題,并探尋有效的解決策略,對(duì)于提升系統(tǒng)性能至關(guān)重要。
在當(dāng)今的物聯(lián)網(wǎng)時(shí)代,射頻識(shí)別(RFID)技術(shù)憑借其非接觸、高效率的特點(diǎn),已經(jīng)廣泛應(yīng)用于各行各業(yè)。