在嵌入式系統(tǒng)開發(fā)中，STM32系列微控制器的內(nèi)部溫度傳感器因其低成本、高集成度特性，廣泛應(yīng)用于設(shè)備自檢、環(huán)境監(jiān)測等場景。然而，受芯片工藝差異和電源噪聲影響，其原始數(shù)據(jù)存在±1.5℃的固有誤差。本文從硬件配置、校準(zhǔn)算法、軟件優(yōu)化三個維度，系統(tǒng)闡述如何實現(xiàn)STM32內(nèi)部溫度傳感器的精準(zhǔn)讀取。

一、硬件配置：激活傳感器與ADC通道

STM32內(nèi)部溫度傳感器通過專用通道與ADC模塊連接，以STM32U5系列為例，其配置流程包含以下關(guān)鍵步驟：

時鐘與電源配置：在系統(tǒng)初始化階段，需優(yōu)先配置ADC時鐘源（如PLL輸出的高速時鐘）并啟用溫度傳感器電源。例如，在STM32CubeMX生成的工程中，需在SystemClock_Config()函數(shù)中確保ADC時鐘分頻系數(shù)合理，避免因時鐘抖動導(dǎo)致采樣失真。

ADC通道選擇：根據(jù)芯片型號確定溫度傳感器對應(yīng)的ADC通道。如STM32U5系列使用通道19，而STM32F4系列則使用通道16。通過HAL庫函數(shù)LL_ADC_SetCommonPathInternalCh(__LL_ADC_COMMON_INSTANCE(ADC1), LL_ADC_PATH_INTERNAL_TEMPSENSOR)可激活內(nèi)部通道。

采樣時間優(yōu)化：溫度傳感器輸出為低頻信號，需設(shè)置足夠長的采樣時間以降低噪聲干擾。推薦采用480個ADC時鐘周期的采樣時間（對應(yīng)STM32F4系列），可通過ADC_ChannelConfTypeDef.SamplingTime參數(shù)配置。

二、校準(zhǔn)算法：消除芯片工藝偏差

STM32在出廠時已對溫度傳感器進(jìn)行兩點校準(zhǔn)，校準(zhǔn)值存儲在芯片內(nèi)部Flash的特定地址：

校準(zhǔn)值讀?。阂許TM32G030為例，TS_CAL1（30℃時校準(zhǔn)值）存儲于0x1FF8007A地址，TS_CAL2（130℃時校準(zhǔn)值）存儲于0x1FF8007E地址。通過指針操作可直接讀取16位校準(zhǔn)值：

c

uint16_t ts_cal1 = *(volatile uint16_t*)(0x1FF8007A);

uint16_t ts_cal2 = *(volatile uint16_t*)(0x1FF8007E);

溫度計算模型：基于兩點校準(zhǔn)的線性插值算法可顯著提升精度。公式如下：

其中，

V25

為25℃時的傳感器電壓（典型值1.43V），

Vhigh/Vlow

為校準(zhǔn)點電壓，

Thigh/Tlow

為校準(zhǔn)點溫度。實際應(yīng)用中，需將ADC原始值轉(zhuǎn)換為電壓值：

c

float voltage = (adc_value * 3.3f) / 4096.0f; // 12位ADC，參考電壓3.3V

三、軟件優(yōu)化：抑制動態(tài)噪聲

多次采樣平均：通過DMA連續(xù)采集多次ADC值并取平均，可有效抑制隨機(jī)噪聲。例如，在STM32H7系列中，配置DMA循環(huán)模式采集16次數(shù)據(jù)：

c

HAL_ADC_Start_DMA(&hadc1, adc_buffer, 16);

HAL_Delay(10); // 等待采樣完成

float avg_voltage = 0;

for(int i=0; i<16; i++) avg_voltage += adc_buffer[i];

avg_voltage /= 16.0f;

動態(tài)斜率補(bǔ)償：針對電源電壓波動，可實時監(jiān)測VREFINT（內(nèi)部參考電壓）并修正計算結(jié)果。STM32F4系列提供VREFINT校準(zhǔn)值（存儲于0x1FFF7A2A地址），通過比對當(dāng)前VREFINT讀數(shù)與校準(zhǔn)值，可動態(tài)調(diào)整溫度計算斜率。

濾波算法：采用移動平均濾波或卡爾曼濾波進(jìn)一步平滑數(shù)據(jù)。例如，移動平均濾波實現(xiàn)：

c

#define WINDOW_SIZE 8

float temp_buffer[WINDOW_SIZE] = {0};

float filtered_temp = 0;

void update_temperature(float new_temp) {

   static uint8_t index = 0;

   temp_buffer[index++] = new_temp;

   if(index >= WINDOW_SIZE) index = 0;

   filtered_temp = 0;

   for(int i=0; i<WINDOW_SIZE; i++) filtered_temp += temp_buffer[i];

   filtered_temp /= WINDOW_SIZE;

}

四、工程實踐：某工業(yè)控制器案例

在某汽車電子控制器項目中，通過以下措施將溫度測量誤差從±2.5℃降至±0.8℃：

硬件層面：在ADC輸入端添加0.1μF去耦電容，降低電源噪聲。

算法層面：結(jié)合兩點校準(zhǔn)與動態(tài)斜率補(bǔ)償，實時修正電源電壓波動影響。

測試驗證：在-40℃~125℃溫箱中對比內(nèi)部傳感器與PT100鉑電阻測量值，最大誤差控制在±1℃以內(nèi)。

結(jié)語

STM32內(nèi)部溫度傳感器的精準(zhǔn)讀取需硬件配置、校準(zhǔn)算法與軟件優(yōu)化的協(xié)同作用。通過合理設(shè)置ADC參數(shù)、利用出廠校準(zhǔn)值、結(jié)合動態(tài)補(bǔ)償與濾波算法，可顯著提升測量精度。在實際工程中，建議根據(jù)具體應(yīng)用場景（如是否需要絕對溫度測量）選擇合適方案，并在全溫范圍內(nèi)進(jìn)行充分測試驗證。