什么是標準?簡單來說，標準是一組規(guī)則和協(xié)議，特定行業(yè)中的每個參與者都同意遵循并執(zhí)行。在SWD和JTAG之類的協(xié)議出現(xiàn)之前，調試器及其協(xié)議一片混亂，每個MCU制造商都提出了自己的專有方法，將代碼加載到他們的MCU上。制造商每次發(fā)布MCU時，嵌入式軟件工程師都需要了解其專有協(xié)議，以將代碼加載到微控制器中。

而且，調試適配器很昂貴，因為制造商實際上并沒有競爭者可以使調試適配器與他們的協(xié)議相匹配，因為協(xié)議是專有的。它們昂貴的另一個原因是由于體積不足，因為它們只能將調試適配器出售給使用它們制造的MCU的公司(工程師)。

不同協(xié)議還會導致開發(fā)成本增加，比如：你在設計的板上有來自4個不同制造商的4種芯片，并且希望對其進行一些自動化測試以提高生產過程的效率。但是，由于所有電路板都有自己的協(xié)議，因此您需要制作一個能適應復雜性的超級復雜的生產代碼，并且需要在電路板上的測試點安裝4個不同的調試器，從而增加了成本，生產時間和編程時間。

3.制定協(xié)議各種下載調試不同會導致幾個問題：投入更多的學習時間下載調試的成本生成測試效率低下，為了解決這一問題，各大MCU制造和生產商的工程師們就針對調試制定了一些規(guī)范協(xié)議。該小組于1980年后期開始討論，并于1990年正式發(fā)布了解釋IEEE標準的文檔。(IEEE代表電氣與電子工程師協(xié)會，是一個國際組織，其中發(fā)布了所有標準，如WiFi，藍牙等)。他們提出的協(xié)議在1990年被記錄在IEEE 1149.1中。后來對該文檔進行了修訂和完善，在撰寫本文時，最新標準是IEEE 1149.7。JTAG基本上帶有5個引腳：TDI： Test Data In。串行輸入引腳TDO： Test Data Out，串行輸出引腳TCK：Test Clock，時鐘引腳TMS： Test Mode Select，模式選擇(控制信號)引腳TRST： Test Reset，復位引腳

在電子領域，芯片調試是一個至關重要的環(huán)節(jié)。為了更有效地進行芯片調試，我們有必要深入了解不同的調試協(xié)議。本文將詳細解析從JTAG到SWD的轉變，幫助讀者全面理解這兩種協(xié)議的工作原理及其在芯片調試中的應用。

JTAG(Joint Test Action Group，聯(lián)合測試行動小組)是一種國際標準測試協(xié)議，與IEEE 1149.1標準兼容，專為芯片內部測試而設計。如今，多數(shù)高端器件仍支持這一標準，雖然JTAG接口在現(xiàn)代設備上較少見，但ARM、DSP和FPGA等高端器件依然廣泛支持。標準的JTAG接口包含四條線：TMS、TCK、TDI和TDO，分別用于模式選擇、時鐘信號、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出。具體來說，這些引腳的定義如下：

TMS(測試模式選擇)：用于設定JTAG接口的特定測試模式。

TCK(測試時鐘輸入)：提供時鐘信號。

TDI(測試數(shù)據(jù)輸入)：數(shù)據(jù)通過此引腳輸入JTAG接口。

TDO(測試數(shù)據(jù)輸出)：數(shù)據(jù)通過此引腳從JTAG接口輸出。

值得注意的是，由于早期PC機普遍配備并口，JTAG協(xié)議在定義時便與之相連。然而，隨著技術的發(fā)展，現(xiàn)在的計算機尤其是筆記本電腦很少配備并口，取而代之的是USB接口的廣泛應用。因此，JTAG協(xié)議在市場上的應用已逐漸減少。

串行調試(Serial Wire Debug，簡稱SWD)是一種與JTAG不同的調試模式，其使用的調試協(xié)議亦有所差異。最直觀的差異體現(xiàn)在調試接口上：相較于JTAG的20個引腳，SWD僅需4個(或5個)引腳，結構更為簡潔。SWD因其引腳少、結構簡單，在數(shù)據(jù)量大時更穩(wěn)定，適用于有限GPIO資源的場合，建議優(yōu)先使用。雖然SWD的使用范圍目前尚不及JTAG廣泛，主流調試器也是在后期才增設了SWD調試模式。

談及SWD與傳統(tǒng)調試方式的區(qū)別，其優(yōu)勢在高速模式下更為明顯。在處理大數(shù)據(jù)量時，JTAG下載程序可能會失敗，而SWD則能顯著降低此情況的發(fā)生概率。此外，若仿真器支持，用戶可以在基本使用JTAG仿真模式的情況下直接切換至SWD模式，因此推薦大家優(yōu)先考慮使用SWD模式。

遠程調試接口(Remote Debug Interface，簡稱RDI)是ARM公司為ARM芯片仿真而提出的標準調試接口。過去，由于各IDE廠商使用的調試接口各異，硬件調試往往局限于特定平臺。然而，隨著RDI為ARM芯片提供的統(tǒng)一調試接口，使跨平臺硬件調試成為可能，多家IDE廠商逐漸采用標準RDI作為調試接口，跨平臺的硬件調試已成為現(xiàn)實。例如，EasyJTAG便支持這一標準，從而能在任何遵循標準RDI接口的IDE調試環(huán)境中發(fā)揮作用，如ARM公司的ADS1.2及IAR公司的EWARM 3.30等。

ULINK，由ARM/KEIL公司精心打造的仿真器，現(xiàn)已升級為ULINK2和ULINK Pro兩個版本，供用戶選擇。該仿真器與Keil軟件緊密結合，提供強大的仿真功能，支持多種調試技術，但僅限于Keil平臺。它新增了串行調試(SWD)支持、返回時鐘支持以及實時代理等實用特性。

開發(fā)工程師在RealView MDK的調試器與ULINK2的協(xié)同作用下，能輕松地在目標硬件上進行片上調試，包括使用on-chip JTAG、SWD和OCDS技術，以及Flash編程。

ST-LINK仿真器是專為意法半導體STM8和STM32系列芯片設計的。它支持SWIM標準接口和JTAG/SWD標準接口，具備多種功能：

編程功能：能夠燒寫FLASH ROM、EEPROM、AFR等，為芯片提供靈活的編程能力。

仿真功能：支持全速運行、單步調試、斷點調試等多種調試方法，同時提供IO狀態(tài)和變量數(shù)據(jù)的查看，助力開發(fā)者深入理解芯片運行狀態(tài)。

仿真性能：通過USB2.0接口進行仿真調試，單步和斷點調試反應迅速，提升開發(fā)效率。

編程性能：同樣采用USB2.0接口，支持SWIM/JTAG/SWD下載方式，下載速度迅捷，節(jié)省開發(fā)時間。

專為STM系列芯片設計，支持多種接口和功能，提升了編程和調試的效率。

串行調試(Serial Wire Debug)，應該可以算是一種和JTAG不同的調試模式，使用的調試協(xié)議也應該不一樣，所以最直接的體現(xiàn)在調試接口上，與JTAG的20個引腳相比，SWD只需要4個(或者5個)引腳，結構簡單，但是使用范圍沒有JTAG廣泛，主流調試器上也是后來才加的SWD調試模式。

SWD模式比JTAG在高速模式下面更加可靠。在大數(shù)據(jù)量的情況下面JTAG下載程序會失敗，但是SWD發(fā)生的幾率會小很多?；臼褂?a href="/tags/JTAG" target="_blank">JTAG仿真模式的情況下是可以直接使用SWD模式的，只要你的仿真器支持，所以推薦大家使用這個模式。