尼得科精密檢測科技株式會(huì)社(以下簡稱“本公司”)將參展2025年5月6日(星期二)～5月8日(星期四)在德國紐倫堡市舉辦的“PCIM Expo & Conference 2025”。

在本次展會(huì)上,電力電子行業(yè)將匯聚一堂,旨在跨越國界共同探索最新的研發(fā)趨勢,整個(gè)行業(yè)共同分享創(chuàng)意,提供解決方案。

本公司在本次展會(huì)上將展示從芯片(Chip)級(jí)到系統(tǒng)級(jí)面向功率器件的先端檢測系統(tǒng)。此外,還將現(xiàn)場實(shí)際演示有助于縮短研發(fā)周期的HILS(Hardware-In-the-Loop Simulation)平臺(tái)。

今后,本公司將繼續(xù)以行業(yè)先端的測量和檢測技術(shù)為全球制造業(yè)做出貢獻(xiàn)。

〈參展概要〉

 ?展期:2025年5月6日(星期二)～5月8日(星期四)

 ?展館:德國紐倫堡市 NürnbergMesse展覽中心

 ?展位:4-432

〈參展內(nèi)容〉

?用于IGBT/SiC功率模塊的絕緣/靜態(tài)特性/動(dòng)態(tài)特性檢測裝置“NATS-1000/1700系列”

?SiC模塊可靠性測試裝置“NATS-8000系列”

?電機(jī)測試臺(tái)用逆變器&POWER HIL電機(jī)模擬器 “R-1100”

?運(yùn)用AI技術(shù)的xEV建模模擬器 “E-Transport Simulator®”

?AC/DC電容測量用多功能測試儀“R-700系列”

?半導(dǎo)體器件穩(wěn)定測量探針“TC-Probe”

?適用于高電壓的加壓結(jié)構(gòu)探針卡 “Chamber head Probe Card”

?適用于高溫/高電流的探針 “3H+ Probe”