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[導(dǎo)讀]在泰克先進(jìn)半導(dǎo)體開放實驗室,2024年8月份,我們有幸見證了量芯微(GaN Power)新一代1200V氮化鎵(GaN)功率器件的動態(tài)參數(shù)測試。量芯微作為全球首家成功流片并量產(chǎn)1200V氮化鎵功率器件的廠商,其最新產(chǎn)品在性能上的顯著提升,不僅展現(xiàn)了技術(shù)的進(jìn)步,也為我們的客戶帶來了新的解決方案。

在泰克先進(jìn)半導(dǎo)體開放實驗室,2024年8月份,我們有幸見證了量芯微(GaN Power)新一代1200V氮化鎵(GaN)功率器件的動態(tài)參數(shù)測試。量芯微作為全球首家成功流片并量產(chǎn)1200V氮化鎵功率器件的廠商,其最新產(chǎn)品在性能上的顯著提升,不僅展現(xiàn)了技術(shù)的進(jìn)步,也為我們的客戶帶來了新的解決方案。

測試概覽

今年8月,我們收到了量芯微提供的新一代高壓氮化鎵器件,其額定工作條件提升至1200V/20A(70mΩ),在柵極電壓12V的條件下,輸出電流提升至20A以上。這一性能的提升,使得量芯微的GaN器件在工作性能上可與同規(guī)格的碳化硅(SiC)器件相媲美。

下圖是量芯微提供的TO-247封裝GaN HEMT器件在1200V/15A條件下進(jìn)行開關(guān)測試的波形,柵極電壓為0-12V,陪測器件使用一顆1200V SiC二極管。(測試條件:陪測管SiC二極管,Ron=Roff=10Ω,負(fù)載電感400uH,Vds:800V,Vgs:0~12V,Id:15A)

泰克先進(jìn)半導(dǎo)體實驗室:量芯微1200V氮化鎵器件的突破性測試

測試挑戰(zhàn)與解決方案

泰克先進(jìn)半導(dǎo)體實驗室:量芯微1200V氮化鎵器件的突破性測試

平面結(jié)構(gòu)氮化鎵功率器件實現(xiàn)高壓開關(guān),主要難點是解決電流崩塌問題。GaN功率器件在導(dǎo)通過程中的導(dǎo)通電阻值Rdson值被稱為動態(tài)導(dǎo)通電阻,其詳細(xì)定義和測試方法參見JEP173。常見的GaN器件,當(dāng)工作電壓超過700V時,會出現(xiàn)電流崩塌。動態(tài)導(dǎo)通電阻會突然上升,在大電流、高頻率工作時,這一問題尤其嚴(yán)重,導(dǎo)致器件發(fā)熱,導(dǎo)通損耗加大,電流上升受阻等現(xiàn)象。量芯微這次提供的新一代1200V功率器件也是全球第一款在高頻、高壓開關(guān)下實現(xiàn)穩(wěn)定動態(tài)導(dǎo)通電阻的氮化鎵產(chǎn)品。

泰克先進(jìn)半導(dǎo)體實驗室:量芯微1200V氮化鎵器件的突破性測試

雙脈沖測試使用泰克先進(jìn)半導(dǎo)體實驗室提供的DPT1000A測試機(jī)臺,測試平臺使用高壓測試板,配備泰克公司高分辨率示波器MSO58B,1GHz帶寬8通道示波器,AFG31000雙通道信號源和Magnapower 2000V高壓系統(tǒng)電源。使用泰克公司TPP1000A單端探頭測試柵極電壓和THDP0200高壓差分探頭測試源漏極電壓,電流探頭使用T&M公司的400MHz帶寬電流傳感器。

為了驗證動態(tài)導(dǎo)通電阻的性能,我們還使用了帶有鉗位功能的電壓探頭,進(jìn)行鉗位電壓測試,由于示波器的縱向分辨率有限,即使是高分辨率示波器,也不能在高壓量程下精確測試幾伏特的導(dǎo)通電壓。根據(jù)JEDEC提供的JEP173測試指南,建議通過鉗位電路對導(dǎo)通狀態(tài)下的低壓Vds進(jìn)行測試(參見下圖)。以往的鉗位電路因為GaN器件測試電壓較低,通常500V耐壓條件就可以滿足測試要求。另外,鉗位電路在開關(guān)過程中會引入較大的震蕩,且震蕩持續(xù)時間較長,影響動態(tài)導(dǎo)通電阻的判斷。這次我們使用了1200V耐壓的鉗位探頭進(jìn)行Vds測試,用來得到更高電壓條件下的鉗位測試結(jié)果。

測試結(jié)果

得到鉗位后的Vds-clamp電壓和導(dǎo)通電流Id波形后,通過計算可以得到器件在導(dǎo)通狀態(tài)下的動態(tài)導(dǎo)通電阻曲線。我們在雙脈沖測試過程中,同時連接鉗位探頭,實測電路如下圖所示:

泰克先進(jìn)半導(dǎo)體實驗室:量芯微1200V氮化鎵器件的突破性測試

下圖是增加了鉗位電壓測試功能的波形結(jié)果,其中CH1是柵極電壓Vgs,CH2是源漏極電壓Vds,C3是漏極電流Id,C4是鉗位后的源漏極電壓Vds-clamp,M1是動態(tài)導(dǎo)通電阻Rdson的計算結(jié)果,計算方法M1=C4/C3。放大M1的測試波形,可以在導(dǎo)通階段看到動態(tài)導(dǎo)通電阻波形曲線。可以看到鉗位電壓波形相對穩(wěn)定,且波形震蕩時間較短,可以在幾百納秒時間內(nèi)獲取穩(wěn)定的動態(tài)導(dǎo)通電阻讀數(shù)。

泰克先進(jìn)半導(dǎo)體實驗室:量芯微1200V氮化鎵器件的突破性測試

結(jié)論

根據(jù)計算,Vbus等于400V時,動態(tài)導(dǎo)通電阻約為93mΩ;Vbus等于600V時,動態(tài)導(dǎo)通電阻約為95m歐姆;Vbus等于800V時,動態(tài)導(dǎo)通電阻約為101mΩ。相比在靜態(tài)條件下測試得到的導(dǎo)通電阻74mΩ,開關(guān)條件下隨Vbus電壓上升,器件的動態(tài)導(dǎo)通電阻退化非常有限,且阻值非常接近靜態(tài)導(dǎo)通電阻測試結(jié)果。

泰克先進(jìn)半導(dǎo)體實驗室:量芯微1200V氮化鎵器件的突破性測試

過去幾年里,行業(yè)對于GaN功率器件是否能夠突破小眾應(yīng)用場景一直保持疑慮。1000V以上應(yīng)用市場仍然屬于硅基IGBT和SiC功率器件。GaN大規(guī)模應(yīng)用意味著它必須支持更寬泛的電壓電流范圍,更多的應(yīng)用場景,以及更好的性價比。量芯微通過不懈努力,使平面結(jié)構(gòu)GaN器件實現(xiàn)1200V高壓工作,其高壓GaN在開關(guān)和靜態(tài)特性上已經(jīng)可以媲美相同規(guī)格的SiC器件。這將為GaN功率器件進(jìn)一步拓展了新能源,電動汽車,電力電子等行業(yè)的應(yīng)用場景,打開了新的可能性。

關(guān)于泰克科技

泰克公司總部位于美國俄勒岡州畢佛頓市,致力提供創(chuàng)新、精確、操作簡便的測試、測量和監(jiān)測解決方案,解決各種問題,釋放洞察力,推動創(chuàng)新能力。70多年來,泰克一直走在數(shù)字時代前沿。歡迎加入我們的創(chuàng)新之旅,敬請登錄:tek.com.cn。

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