隨著汽車(chē)電子、航空航天等安全關(guān)鍵領(lǐng)域?qū)呻娐房煽啃砸蟮奶嵘?,抗單粒子翻轉(zhuǎn)(SEU)技術(shù)成為設(shè)計(jì)焦點(diǎn)。本文提出一種基于三模冗余(TMR)與糾錯(cuò)碼(EDAC)的混合加固方案,通過(guò)RTL級(jí)建模實(shí)現(xiàn)高可靠單元庫(kù)設(shè)計(jì)。實(shí)驗(yàn)表明,該方案可使電路SEU容錯(cuò)率提升至99.9999%,同時(shí)面積開(kāi)銷(xiāo)控制在2.3倍以內(nèi)。通過(guò)Verilog硬件描述語(yǔ)言與糾錯(cuò)碼算法的協(xié)同優(yōu)化,本文為安全關(guān)鍵系統(tǒng)提供了從單元級(jí)到系統(tǒng)級(jí)的抗輻射加固解決方案。
這些連接器提供了針對(duì)臟物和灰塵的絕對(duì)防護(hù),該公司的快速整體式密封技術(shù)提供的防水作業(yè)可在深達(dá)1米的水中浸泡最多30分鐘,其雙鎖閉解決方案在完全插接時(shí)提供了可感知的咔嗒雙響。