高速通道無源測試去嵌：TRL校準(zhǔn)與端口延伸的誤差抑制方法 引言

在5G通信、AI芯片等高速電子系統(tǒng)中，無源通道（如PCB走線、連接器、封裝基板）的信號完整性直接影響系統(tǒng)性能。某5G基站因無源通道阻抗失配導(dǎo)致誤碼率高達(dá)10??，數(shù)據(jù)傳輸效率下降30%。傳統(tǒng)測試方法受限于測試夾具、連接線等寄生效應(yīng)，導(dǎo)致測量結(jié)果與真實通道特性偏差達(dá)±15%。TRL（Thru-Reflect-Line）校準(zhǔn)與端口延伸技術(shù)通過數(shù)學(xué)建模和誤差補償，可將測量誤差抑制至±2%以內(nèi)。本文結(jié)合TRL校準(zhǔn)的8項誤差模型與端口延伸的相位補償算法，實現(xiàn)25Gbps通道S參數(shù)的精確提取。