邏輯分析儀

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基于FPGA的系統(tǒng)易測試性的研究

基于FPGA的系統(tǒng)易測試性的研究

嵌入式教程
2011-09-26

FPGA 邏輯分析儀內(nèi)核嵌入式
安捷倫為U4154A邏輯分析儀推出2.8 Gb/s入門級選件

21ic訊安捷倫科技公司日前宣布為其業(yè)界最快的邏輯分析儀 Agilent U4154A 提供一款低價位、入門級 1.4 Gb/s 狀態(tài)模式選件。該款新選件具有 2.8 Gb/s（68 通道）和 1.4 Gb/s（136 通道）兩種狀態(tài)捕獲速率以及 20 ps 掃

測試測量
2011-09-22

工程師安捷倫 GB 邏輯分析儀
三態(tài)門邏輯功能的Multisim仿真方案

摘要：介紹了用Multisim仿真軟件分析三態(tài)門工作過程的方法，目的是探索三態(tài)門工作波形的仿真實驗技術(shù)，即用Multisim仿真軟件中的字組產(chǎn)生器產(chǎn)生三態(tài)門的控制信號及輸入信號，用Multisim中示波器、邏輯分析儀多蹤同步

電子設(shè)計自動化
2011-09-20

函數(shù) BSP MULTISIM仿真邏輯分析儀
邏輯分析儀的原理及應(yīng)用

作為數(shù)字設(shè)計驗證與調(diào)試過程中重要的工具，邏輯分析儀利用時鐘脈沖從測試設(shè)備上采集和顯示數(shù)位信號，能夠檢驗數(shù)字電路是否正常工作，幫助查找并排除故障，加快產(chǎn)品面市周期。邏輯分析儀只顯示兩個電壓等級（邏輯狀態(tài)

測試測量
2011-09-18

觸發(fā) 示波器電壓邏輯分析儀
未來示波器發(fā)展的五大趨勢

趨勢1：從并行測量發(fā)展到串行測量過去的嵌入式設(shè)計通常采用并行體系結(jié)構(gòu)，這意味著每個總線組成部分都有各自的路徑。因此，只要您可以使用碼型觸發(fā)或狀態(tài)觸發(fā)找出感興趣的事件，就可以直觀地解碼總線上的數(shù)據(jù)。然而，

消費電子
2011-08-19

觸發(fā) 示波器串行數(shù)據(jù) 邏輯分析儀
泰克TLA7SA00系列邏輯分析儀榮獲最佳測試獎

21ic訊泰克公司日前宣布，其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評獎活動中榮獲“最佳測試獎”（Best in Test Award）。在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)大會”（

廠商動態(tài)
2011-05-27

泰克總線 BSP 邏輯分析儀
泰克TLA7SA00系列邏輯分析儀榮獲最佳測試獎

泰克公司日前宣布，其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評獎活動中榮獲“最佳測試獎”（Best in Test Award）。在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)大會”（Embedded Systems Conference）舉

消費電子
2011-05-26

泰克泰克公司總線邏輯分析儀
泰克TLA7SA00系列邏輯分析儀榮獲最佳測試獎

全球領(lǐng)先的測試、測量和監(jiān)測儀器提供商--泰克公司日前宣布，其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評獎活動中榮獲“最佳測試獎”（Best in Test Award）。在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)

消費電子
2011-05-25

泰克泰克公司總線邏輯分析儀
安捷倫高速邏輯分析儀迎接未來存儲技術(shù)挑戰(zhàn)

隨著DDR3和DDR4高速存儲器走向前臺，數(shù)據(jù)速率不斷提高，專注于高性能服務(wù)器和嵌入式系統(tǒng)的工程師對可靠測量和深入分析的需求就變得尤其關(guān)鍵，安捷倫科技公司日前推出業(yè)界最快的U4154A邏輯分析儀以應(yīng)對這種挑戰(zhàn)。安

消費電子
2011-05-12

安捷倫觸發(fā) 存儲技術(shù) 邏輯分析儀
安捷倫推出U4154A邏輯分析儀

安捷倫科技公司日前推出邏輯分析儀U4154A，該款新型邏輯分析儀具有業(yè)界領(lǐng)先的狀態(tài)捕獲速率：68 通道時為 4 Gb/s，136 通道時為 2.5 Gb/s；并且可以在業(yè)界最小的100 ps x 100 mV 眼張開度上穩(wěn)定地捕獲數(shù)據(jù)，為目前業(yè)界

21ic專訪
2011-04-19

安捷倫 AGILENT GBPS 邏輯分析儀
泰克TLA6000系列邏輯分析儀推出新選件

21IC訊泰克公司日前宣布，推出完整的 DDR2 協(xié)議調(diào)試和驗證解決方案，基于屢獲獎項的 TLA6000 系列邏輯分析儀。TLA6000 系列新選件包含了嵌入式工程師——即使并非DDR2專家——用來驗證和調(diào)試設(shè)

測試測量
2011-04-15

泰克 DDR MDASH 邏輯分析儀
安捷倫科技公司推出業(yè)界最快的邏輯分析儀U4154A

21IC訊安捷倫科技公司日前推出業(yè)界最快的邏輯分析儀。該款新型邏輯分析儀具有業(yè)界領(lǐng)先的狀態(tài)捕獲速率：68 通道時為 4 Gb/s，136 通道時為 2.5 Gb/s；并且可以在業(yè)界最小的100 ps x 100 mV 眼張開度上穩(wěn)定地捕獲數(shù)據(jù)

測試測量
2011-04-14

工程師安捷倫科技 BSP 邏輯分析儀
邏輯分析儀SignalTaPⅡ在系統(tǒng)級調(diào)試中的應(yīng)用

邏輯分析儀SignalTaPⅡ在系統(tǒng)級調(diào)試中的應(yīng)用

嵌入式教程
2011-03-19

調(diào)試系統(tǒng)級 SIGNALTAP 邏輯分析儀
泰克新型邏輯分析儀入選年度Hot100產(chǎn)品

泰克公司日前宣布，TLA6000系列邏輯分析儀被EDN雜志評為2010年度Hot100產(chǎn)品。此項殊榮旨在表彰為推動電子工業(yè)進步做出的貢獻年度最佳產(chǎn)品。本年度Hot100產(chǎn)品由EDN編委會評選出EDN編輯和讀者公認為電子界最熱門的新產(chǎn)

消費電子
2011-01-20

泰克觸發(fā) 調(diào)試邏輯分析儀
高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器動態(tài)參數(shù)的定義和測試

高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)的參數(shù)定義和描述如表1所示?！　”? 動態(tài)參數(shù)定義　　　　測試方案中的線路板布局和硬件需求　　為合理測試高速ADC的動態(tài)參數(shù),最好選用制造商預(yù)先裝配好的電路板,或是參考數(shù)據(jù)手冊中推薦的線

測試測量
2010-12-22

模數(shù)轉(zhuǎn)換器 ADC MDASH 邏輯分析儀
泰克擴展邏輯分析儀家族推出新型中端產(chǎn)品系列

全球領(lǐng)先的測試、測量與監(jiān)測設(shè)備供應(yīng)商---泰克公司日前宣布推出TLA6000系列邏輯分析儀，旨在為主流嵌入式系統(tǒng)設(shè)計者提供強大的高端調(diào)試與分析能力。TLA6000系列以更低的價位提供了以前僅在高性能TLA7000系列上才擁

消費電子
2010-09-19

產(chǎn)品系列泰克調(diào)試邏輯分析儀
邏輯分析儀TLA6000系列（泰克）

泰克公司日前宣布推出TLA6000系列邏輯分析儀，旨在為主流嵌入式系統(tǒng)設(shè)計者提供強大的高端調(diào)試與分析能力。TLA6000系列以更低的價位提供了以前僅在高性能TLA7000系列上才擁有的性能和功能，相對便攜式TLA5000系列型號

測試測量
2010-09-15

泰克觸發(fā) 調(diào)試邏輯分析儀
FPGA易測試性分析

現(xiàn)代科技對系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛，因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲，這一切使得設(shè)計調(diào)試和檢驗變

數(shù)字電源
2010-08-11

FPGA 邏輯分析儀內(nèi)核嵌入式
FPGA易測試性分析

FPGA易測試性分析

嵌入式教程
2010-08-11

FPGA 邏輯分析儀內(nèi)核嵌入式
使用SignalTap II邏輯分析儀調(diào)試FPGA

摘要：本文介紹了可編程邏輯器件開發(fā)工具Quartus II 中SingalTap II 嵌入式邏輯分析器的使用，并給出一個具體的設(shè)計實例，詳細介紹使用SignalTap II對FPGA調(diào)試的具體方法和步驟。關(guān)鍵字： SignalTap；硬件調(diào)試

電子設(shè)計自動化
2010-05-23

調(diào)試 SIGNALTAP FPGA 邏輯分析儀

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邏輯分析儀

基于FPGA的系統(tǒng)易測試性的研究

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泰克TLA7SA00系列邏輯分析儀榮獲最佳測試獎

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高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器動態(tài)參數(shù)的定義和測試

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FPGA易測試性分析

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