基于FPGA的系統(tǒng)易測試性的研究
21ic訊 安捷倫科技公司日前宣布為其業(yè)界最快的邏輯分析儀 Agilent U4154A 提供一款低價位、入門級 1.4 Gb/s 狀態(tài)模式選件。該款新選件具有 2.8 Gb/s(68 通道)和 1.4 Gb/s(136 通道)兩種狀態(tài)捕獲速率以及 20 ps 掃
摘要:介紹了用Multisim仿真軟件分析三態(tài)門工作過程的方法,目的是探索三態(tài)門工作波形的仿真實驗技術,即用Multisim仿真軟件中的字組產生器產生三態(tài)門的控制信號及輸入信號,用Multisim中示波器、邏輯分析儀多蹤同步
作為數字設計驗證與調試過程中重要的工具,邏輯分析儀利用時鐘脈沖從測試設備上采集和顯示數位信號,能夠檢驗數字電路是否正常工作,幫助查找并排除故障,加快產品面市周期。邏輯分析儀只顯示兩個電壓等級(邏輯狀態(tài)
趨勢1:從并行測量發(fā)展到串行測量過去的嵌入式設計通常采用并行體系結構,這意味著每個總線組成部分都有各自的路徑。因此,只要您可以使用碼型觸發(fā)或狀態(tài)觸發(fā)找出感興趣的事件,就可以直觀地解碼總線上的數據。然而,
21ic訊 泰克公司日前宣布,其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評獎活動中榮獲“最佳測試獎”(Best in Test Award)。 在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)大會”(
泰克公司日前宣布,其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評獎活動中榮獲“最佳測試獎”(Best in Test Award)。 在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)大會”(Embedded Systems Conference)舉
全球領先的測試、測量和監(jiān)測儀器提供商--泰克公司日前宣布,其 TLA7SA00系列邏輯分析儀在《Test & Measurement World》的2011年度評獎活動中榮獲“最佳測試獎”(Best in Test Award)。 在2011年5月4日“嵌入式系統(tǒng)
隨著DDR3和DDR4高速存儲器走向前臺,數據速率不斷提高,專注于高性能服務器和嵌入式系統(tǒng)的工程師對可靠測量和深入分析的需求就變得尤其關鍵,安捷倫科技公司日前推出業(yè)界最快的U4154A邏輯分析儀以應對這種挑戰(zhàn)。 安
安捷倫科技公司日前推出邏輯分析儀U4154A,該款新型邏輯分析儀具有業(yè)界領先的狀態(tài)捕獲速率:68 通道時為 4 Gb/s,136 通道時為 2.5 Gb/s;并且可以在業(yè)界最小的100 ps x 100 mV 眼張開度上穩(wěn)定地捕獲數據,為目前業(yè)界
21IC訊 泰克公司日前宣布,推出完整的 DDR2 協(xié)議調試和驗證解決方案,基于屢獲獎項的 TLA6000 系列邏輯分析儀。TLA6000 系列新選件包含了嵌入式工程師——即使并非DDR2專家——用來驗證和調試設
21IC訊 安捷倫科技公司日前推出業(yè)界最快的邏輯分析儀。該款新型邏輯分析儀具有業(yè)界領先的狀態(tài)捕獲速率:68 通道時為 4 Gb/s,136 通道時為 2.5 Gb/s;并且可以在業(yè)界最小的100 ps x 100 mV 眼張開度上穩(wěn)定地捕獲數據
邏輯分析儀SignalTaPⅡ在系統(tǒng)級調試中的應用
泰克公司日前宣布,TLA6000系列邏輯分析儀被EDN雜志評為2010年度Hot100產品。此項殊榮旨在表彰為推動電子工業(yè)進步做出的貢獻年度最佳產品。 本年度Hot100產品由EDN編委會評選出EDN編輯和讀者公認為電子界最熱門的新產
高速模數轉換器(ADC)的參數定義和描述如表1所示?! ”? 動態(tài)參數定義 測試方案中的線路板布局和硬件需求 為合理測試高速ADC的動態(tài)參數,最好選用制造商預先裝配好的電路板,或是參考數據手冊中推薦的線
全球領先的測試、測量與監(jiān)測設備供應商---泰克公司日前宣布推出TLA6000系列邏輯分析儀,旨在為主流嵌入式系統(tǒng)設計者提供強大的高端調試與分析能力。TLA6000系列以更低的價位提供了以前僅在高性能TLA7000系列上才擁
泰克公司日前宣布推出TLA6000系列邏輯分析儀,旨在為主流嵌入式系統(tǒng)設計者提供強大的高端調試與分析能力。TLA6000系列以更低的價位提供了以前僅在高性能TLA7000系列上才擁有的性能和功能,相對便攜式TLA5000系列型號
現(xiàn)代科技對系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求,而FPGA技術在電子系統(tǒng)中應用已經非常廣泛,因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內部信號十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲,這一切使得設計調試和檢驗變
FPGA易測試性分析
摘 要 :本文介紹了可編程邏輯器件開發(fā)工具Quartus II 中SingalTap II 嵌入式邏輯分析器的使用,并給出一個具體的設計實例,詳細介紹使用SignalTap II對FPGA調試的具體方法和步驟。 關鍵字 : SignalTap;硬件調試