摘 要:近年來,隨著FPGA 電路在軍工和航天領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,用戶對FPGA 電路的可靠性要求也越來越高。在集成電路的可靠性*估試驗中,動態(tài)老化試驗是最重要的試驗之一,F(xiàn)PGA 動態(tài)老化技術(shù)的實現(xiàn)可以提高FPGA 電
摘 要:近年來,隨著FPGA 電路在軍工和航天領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用,用戶對FPGA 電路的可靠性要求也越來越高。在集成電路的可靠性*估試驗中,動態(tài)老化試驗是最重要的試驗之一,F(xiàn)PGA 動態(tài)老化技術(shù)的實現(xiàn)可以提高FPGA 電路的可