如何為CCFL和LED背光供電

典型的LCD背光可以是1個(gè)或多個(gè)冷陰極熒光燈(CCFL" target="_blank">CCFL)，或是一組發(fā)光二極管(LED" target="_blank">LED)陣列。圖1分別給出了采用這兩種技術(shù)的一個(gè)例子。背光圖像的質(zhì)量在很大程度上取決于背光驅(qū)動(dòng)

影響開關(guān)電源效率的主要因素

中心議題： * 效率估計(jì) * 開關(guān)器件的損耗 解決方案： * 合理選擇開關(guān)電源IC有助于改善系統(tǒng)效率效率是任何開關(guān)電源的基本指標(biāo)，任何開關(guān)電源的設(shè)計(jì)考首先需要考慮的是效率優(yōu)化，特別是便攜式產(chǎn)品，

影響開關(guān)電源效率的主要因素

中心議題： * 效率估計(jì) * 開關(guān)器件的損耗 解決方案： * 合理選擇開關(guān)電源IC有助于改善系統(tǒng)效率效率是任何開關(guān)電源的基本指標(biāo)，任何開關(guān)電源的設(shè)計(jì)考首先需要考慮的是效率優(yōu)化，特別是便攜式產(chǎn)品，

D類音頻功放IC常見問答

常見問題解答的第1部分提供了關(guān)于D類放大器的概論，并回答了如何進(jìn)行選擇放大器以及D類放大器濾波器的設(shè)計(jì)問題。什么是D類放大器D類放大器使用了脈沖寬度調(diào)制電路來保持其輸出晶體管工作在全開或全關(guān)狀態(tài)。換句話說

用于測(cè)試電容的電路

電解電容會(huì)隨時(shí)間而泄漏。圖1中的電路可以用來測(cè)試電容，決定它們是否值得使用。通過CREF/RREF比值可以設(shè)定對(duì)泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測(cè)試，從1nF的陶瓷電容，到1000μF的電解電容。電路中，

投射電容紅外線技術(shù)給多點(diǎn)觸控帶來支持

2007年美國蘋果公司推出了IPhone一代，多點(diǎn)觸控操作的良好用戶體驗(yàn)不僅帶來了蘋果產(chǎn)品銷量的激增，更引爆了小尺寸電容式觸摸屏的市場(chǎng)需求。根據(jù)瑞銀統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)顯示，2007年全球智能手機(jī)銷量占手機(jī)銷量的比例接近10%，預(yù)

無需重新計(jì)就可升級(jí)至高速USB手機(jī)的方法

無需重新計(jì)就可升級(jí)至高速USB手機(jī)的方法

用于測(cè)試電容的電路

電解電容會(huì)隨時(shí)間而泄漏。圖1中的電路可以用來測(cè)試電容，決定它們是否值得使用。通過CREF/RREF比值可以設(shè)定對(duì)泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測(cè)試，從1nF的陶瓷電容，到1000μF的電解電容。電路中，

用于測(cè)試電容的電路

電解電容會(huì)隨時(shí)間而泄漏。圖1中的電路可以用來測(cè)試電容，決定它們是否值得使用。通過CREF/RREF比值可以設(shè)定對(duì)泄漏的限制條件。圖中的值適用于所有電容的一般測(cè)試，從1nF的陶瓷電容，到1000μF的電解電容。電路中，

用于工業(yè)測(cè)量的隔離方法

概述電壓、電流、溫度、壓力、應(yīng)變和流速的測(cè)試是工業(yè)控制與過程控制應(yīng)用不可或缺的一部分。通常，這些應(yīng)用所處的環(huán)境具有危險(xiǎn)的電壓、瞬態(tài)信號(hào)、共模電壓和地電位波動(dòng)，這會(huì)使測(cè)量系統(tǒng)受損并破壞測(cè)量的精度。為應(yīng)對(duì)

可定時(shí)觸發(fā)開關(guān)電路

工作原理：如圖所示。交流電源經(jīng)電容c1降壓，二極管vDl—vD4橋式整流，電容c2濾波，在穩(wěn)壓二極管VD5兩端獲取12V直流電壓。通過二極管vD6、電阻R2整流與限流后，電源電壓由電位器RP、電阻R3、R4給電容c4充電。當(dāng)

門控,光控開關(guān)電路圖

工作原理如圖所示。開門時(shí)，按鍵開關(guān)SB的接點(diǎn)閉合。市電源經(jīng)電容C1降壓、二極管VDl整流，指示燈HL燃亮。同時(shí)，市電源經(jīng)c2降壓，再由c3濾波輸出12v的直流電壓。白天，光電三極管VTl受到光照其阻值變小，當(dāng)達(dá)到某&mdas

指針式電容測(cè)試電路

小電容長持續(xù)時(shí)間的定時(shí)器電路圖

小電容長持續(xù)時(shí)間的定時(shí)器電路如下圖所示，當(dāng)需要幾個(gè)小時(shí)的延遲時(shí)間，采用兩個(gè)雙輸入的精確電平檢測(cè)器CA3098，不需要使用大容量、低漏電的電容器。如果Rc=22MΩ、RD=100KΩ、CTK只需要16μF，就可以得到

用于工業(yè)測(cè)量的隔離方法

概述電壓、電流、溫度、壓力、應(yīng)變和流速的測(cè)試是工業(yè)控制與過程控制應(yīng)用不可或缺的一部分。通常，這些應(yīng)用所處的環(huán)境具有危險(xiǎn)的電壓、瞬態(tài)信號(hào)、共模電壓和地電位波動(dòng)，這會(huì)使測(cè)量系統(tǒng)受損并破壞測(cè)量的精度。為應(yīng)對(duì)

電容漏泄的測(cè)量

電容器是幾乎所有電氣設(shè)備上都會(huì)用到的主要器件。漏阻是電容器被測(cè)試的眾多電氣特征中的一個(gè)。漏阻通常被稱為“IR”（Insulation Resistance，絕緣電阻），以“兆歐－微法”表示。在其它情況下，

手機(jī)探測(cè)器電路圖

手機(jī)探測(cè)器電路圖

采用電容的軟啟動(dòng)電路圖

下圖是采用LM317構(gòu)成的軟啟動(dòng)電路。在通電瞬間C2上的電壓不能突變，VT被R2、R3偏置而飽和導(dǎo)通，這樣就使R1短路，相當(dāng)于LM317的調(diào)整端接地。電源輸出為1.25V，隨著C2充電時(shí)間加長，輸出電壓逐漸上升，按圖中元件參數(shù)、

網(wǎng)友共享ESD保護(hù)器件分類及優(yōu)缺點(diǎn)分析

目前市面上已經(jīng)存在多種ESD保護(hù)器件，但最常用的可分成三大類：聚合體、壓敏電阻/抑制器和二極管。選擇合適的ESD保護(hù)器件，最大的難點(diǎn)在于如何最容易地明確哪種器件可以提供最大的保護(hù)。系統(tǒng)供應(yīng)商一般是通過數(shù)據(jù)手冊(cè)

中國智能手機(jī)興起 面板廠欲建“一條龍”產(chǎn)線

隨著中國智慧手機(jī)市場(chǎng)興起，大陸投射電容觸控面板在2011年進(jìn)行的積極投資獲得有力的出?？凇Ｈ请娮?Samsung Electronics)也積極推出中低階智慧手機(jī)產(chǎn)品向新興市場(chǎng)促銷，目前已有多家中國觸控面板廠取得觸控面板訂單