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時間片輪轉(zhuǎn)調(diào)度在微控制器C8051F020中的實現(xiàn)及應(yīng)用
在微機(jī)控制領(lǐng)域中，多數(shù)系統(tǒng)是實時控制系統(tǒng)。實時的含義是對隨機(jī)發(fā)生的外部事件做出及時的響應(yīng)并對其進(jìn)行處理。為了更好地完成實時數(shù)據(jù)的采集、處理、存儲和相應(yīng)的多種實時控制操作，必須同時考慮到實時性和多任務(wù)并
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基于MCU的測試系統(tǒng)
1 概述隨著IT產(chǎn)業(yè)和通信技術(shù)、電子技術(shù)、計算機(jī)技術(shù)的高速發(fā)展，大量的生產(chǎn)裝備和產(chǎn)品的電子化、數(shù)字化、自動化、智能化的程度越來越高，與之配套的電子測量設(shè)備必須適應(yīng)這種形勢。因此，綜合測量技術(shù)、電子技術(shù)、自
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ADuC812在井下油氣壓力存儲測試系統(tǒng)中的應(yīng)用設(shè)計
ADuC812是美國ADI(Analog Device Inc)公司生產(chǎn)的高性能單片機(jī)，是全集成的12位數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。它在芯片內(nèi)集成了高性能的自校準(zhǔn)多通道ADC（8通道12位高精度）、2個12位DAC以及可編程的8位MCU（與8051兼容）。片內(nèi)有8kB
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一種測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源的設(shè)計方案
中心議題：探討測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源的設(shè)計方案解決方案：采用S3C2440為核心處理器采用PID控制以保證電壓電流精度和穩(wěn)定度引 言直流穩(wěn)壓電源是一種比較常見的電子設(shè)備，一直被廣泛地應(yīng)用在電子電路、實驗教學(xué)、科學(xué)研
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重復(fù)手機(jī)測試需要完整的檢測系統(tǒng) 而不是單臺儀器
每天，數(shù)以百計手機(jī)因用戶認(rèn)為打不通而退回商店，特別是在保修期內(nèi)。但商店或維修中心如何判定的確是手機(jī)存在缺陷，抑或只是操作不當(dāng)?在實際網(wǎng)絡(luò)中建立手機(jī)通話進(jìn)行測試就像在風(fēng)中用手指測定風(fēng)向和風(fēng)速一樣。本文介紹
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平臺化電源測試及應(yīng)用
測試，是保證產(chǎn)品質(zhì)量與品質(zhì)必不可少的一個環(huán)節(jié)，制造商需要更精準(zhǔn)、更靈活、更經(jīng)濟(jì)的測試系統(tǒng)。發(fā)展越迅速的產(chǎn)業(yè)以及應(yīng)用越廣泛的產(chǎn)品，對測試與相關(guān)技術(shù)的要求就越嚴(yán)格與多變，正如電源產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展所帶來的測試工
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如何選擇測試系統(tǒng)用電纜
同軸電纜是系統(tǒng)中經(jīng)常容易被忽視的組件之一，除非它們出現(xiàn)故障。當(dāng)處于最佳狀態(tài)時，微波電纜組件不會增加任何影響：沒有損耗，也沒有相位失真。當(dāng)處于最差狀態(tài)時，電纜損耗可能變得非常嚴(yán)重，以致于必須用寬帶放大器
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一種測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源的設(shè)計方案
中心議題：探討測試系統(tǒng)數(shù)字穩(wěn)壓電源的設(shè)計方案解決方案：采用S3C2440為核心處理器采用PID控制以保證電壓電流精度和穩(wěn)定度引 言直流穩(wěn)壓電源是一種比較常見的電子設(shè)備，一直被廣泛地應(yīng)用在電子電路、實驗教學(xué)、科學(xué)研
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平臺化電源測試及應(yīng)用
測試，是保證產(chǎn)品質(zhì)量與品質(zhì)必不可少的一個環(huán)節(jié)，制造商需要更精準(zhǔn)、更靈活、更經(jīng)濟(jì)的測試系統(tǒng)。發(fā)展越迅速的產(chǎn)業(yè)以及應(yīng)用越廣泛的產(chǎn)品，對測試與相關(guān)技術(shù)的要求就越嚴(yán)格與多變，正如電源產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展所帶來的測試工
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平臺化電源測試及應(yīng)用
測試，是保證產(chǎn)品質(zhì)量與品質(zhì)必不可少的一個環(huán)節(jié)，制造商需要更精準(zhǔn)、更靈活、更經(jīng)濟(jì)的測試系統(tǒng)。發(fā)展越迅速的產(chǎn)業(yè)以及應(yīng)用越廣泛的產(chǎn)品，對測試與相關(guān)技術(shù)的要求就越嚴(yán)格與多變，正如電源產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展所帶來的測試工
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平臺化電源測試及應(yīng)用
測試，是保證產(chǎn)品質(zhì)量與品質(zhì)必不可少的一個環(huán)節(jié)，制造商需要更精準(zhǔn)、更靈活、更經(jīng)濟(jì)的測試系統(tǒng)。發(fā)展越迅速的產(chǎn)業(yè)以及應(yīng)用越廣泛的產(chǎn)品，對測試與相關(guān)技術(shù)的要求就越嚴(yán)格與多變，正如電源產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展所帶來的測試工
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基于eCAR平臺的發(fā)動機(jī)控制器測試系統(tǒng)
汽車中電子系統(tǒng)的數(shù)量和復(fù)雜程度正在不斷地增長。如果把汽車生產(chǎn)總成本中的電子系統(tǒng)成本作為一項指標(biāo)考慮，到2010年，電子系統(tǒng)成本在生產(chǎn)總成本中所占的份額已達(dá)三分之一，這一比例還有增加的趨勢。目前，新車中約有
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基于FPGA的虛擬測試系統(tǒng)實現(xiàn)
1 引言傳統(tǒng)測試測量儀存在價格昂貴、體積龐大、數(shù)據(jù)傳輸速率低、存儲顯示困難等問題，本文選用FPGA實現(xiàn)數(shù)據(jù)處理、邏輯控制，充分利用PC機(jī)，結(jié)合Labwindows圖形化上層應(yīng)用軟件界面生成的虛擬測試系統(tǒng)具有較強的競爭力
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選擇硬件在環(huán)（HIL）測試系統(tǒng)I/O接口
關(guān)鍵字：硬件 HIL 測試系統(tǒng) IO接口概覽高性能模塊化的I/O接口是構(gòu)建成功硬件在環(huán)測試系統(tǒng)所必須的。硬件在環(huán)（HIL）測試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)教程討論了多種硬件在環(huán)測試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)和用于實現(xiàn)的實時處理技術(shù)。本教程討論了
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基于FPGA的虛擬測試系統(tǒng)實現(xiàn)
基于FPGA的虛擬測試系統(tǒng)實現(xiàn)
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PCB測試系統(tǒng)方案設(shè)計
關(guān)鍵字： NI PXI PCI LabVIEW 結(jié)合NI PXI與PCI硬件，使用NI TestStand和LabVIEW軟件來開發(fā)一個用于測試印刷電路板和太陽能逆變器的標(biāo)準(zhǔn)測試系統(tǒng)。"通過使用全部來自National Instruments的開發(fā)工具，我們開發(fā)了一套個
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選擇硬件在環(huán)（HIL）測試系統(tǒng)I/O接口
關(guān)鍵字：硬件 HIL 測試系統(tǒng) IO接口概覽高性能模塊化的I/O接口是構(gòu)建成功硬件在環(huán)測試系統(tǒng)所必須的。硬件在環(huán)（HIL）測試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)教程討論了多種硬件在環(huán)測試系統(tǒng)體系結(jié)構(gòu)和用于實現(xiàn)的實時處理技術(shù)。本教程討論了
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基于nRF24L01的無線溫濕度測試系統(tǒng)
摘要：針對傳統(tǒng)溫濕度測量中的缺點，設(shè)計了以低功耗MSP430單片機(jī)為控制核心，利用溫濕度一體傳感器SHT11進(jìn)行溫濕度信號的采集，結(jié)合無線傳輸模塊nRF24L01對數(shù)據(jù)進(jìn)行無線傳輸?shù)臏貪穸葴y試系統(tǒng)，并在可靠可信、微功耗的
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基于柔性測試技術(shù)的汽車傳感器測試系統(tǒng)
汽車技術(shù)的迅猛發(fā)展以及消費者對于汽車舒適性和易用性要求不斷提高，越來越多的汽車電子裝置日趨走向智能化、復(fù)雜化，產(chǎn)品生產(chǎn)過程的檢測手段面臨著嚴(yán)峻挑戰(zhàn)——單個獨立的測試儀器已經(jīng)難以滿足不同種類產(chǎn)
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基于GP-IB總線的加速度計測試系統(tǒng)設(shè)計
摘要 通過對當(dāng)前加速度計測試工序多、操作復(fù)雜、易引起誤操作的現(xiàn)狀分析，為能更好地標(biāo)定石英撓性加速度計性能參數(shù)，設(shè)計了基于GPIB總線技術(shù)的加速度計測試系統(tǒng)，確定了系統(tǒng)的硬件組成。同時針對石英撓性加速度計反饋
