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Mentor芯片測試方案獲聯(lián)電65/40納米制程認(rèn)證
Mentor Graphics宣布其硅芯片測試與診斷方案已經(jīng)獲得晶圓代工大廠聯(lián)電(UMC)認(rèn)證，可運(yùn)用于聯(lián)電的65與40納米參考流程。該硅芯片測試流程的基礎(chǔ)是TestKompress自動化測試向量產(chǎn)生(automated test pattern generation，
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Mentor芯片測試方案獲聯(lián)電65/40納米制程認(rèn)證
Mentor Graphics宣布其硅芯片測試與診斷方案已經(jīng)獲得晶圓代工大廠聯(lián)電(UMC)認(rèn)證，可運(yùn)用于聯(lián)電的65與40納米參考流程。該硅芯片測試流程的基礎(chǔ)是TestKompress自動化測試向量產(chǎn)生(automated test pattern generation，
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GPS接收機(jī)性能驗(yàn)證測試方案
全球定位系統(tǒng)（GPS）接收機(jī)技術(shù)自從1983年免費(fèi)開放民間使用以來，已得到了廣泛應(yīng)用，如今從手機(jī)到個人導(dǎo)航設(shè)備（PND），再到照相機(jī)和帶有RFID標(biāo)簽的其他同類產(chǎn)品，電子世界到處都有GPS的身影。 盡管GPS技術(shù)日益普
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Parasoft全面進(jìn)軍中國市場 提供先進(jìn)的軟件測試方案
Parasoft全面進(jìn)軍中國市場 提供先進(jìn)的軟件測試方案
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一種基于FPGA的誤碼性能測試方案
在數(shù)字通信系統(tǒng)的性能測試中,通常使用誤碼分析儀對其誤碼性能進(jìn)行測量。它雖然具有簡單易用、測試內(nèi)容豐富、誤碼測試結(jié)果直觀、準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn),但是,價格昂貴、不易與某些系統(tǒng)接口適配,通常需要另加外部輔助長線驅(qū)動電路
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一種基于FPGA的誤碼性能測試方案
在數(shù)字通信系統(tǒng)的性能測試中，通常使用誤碼分析儀對其誤碼性能進(jìn)行測量。它雖然具有簡單易用、測試內(nèi)容豐富、誤碼測試結(jié)果直觀、準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)，但是，價格昂貴、不易與某些系統(tǒng)接口適配，通常需要另加外部輔助長線驅(qū)動
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智能卡COS芯片層模塊設(shè)計(jì)與測試方案研究
設(shè)計(jì)了智能卡操作系統(tǒng)底層驅(qū)動模塊和FI。AsH讀寫模塊，并提出針對這些模塊函數(shù)的測試方案。首先介紹智能卡操作系統(tǒng)的基本概念和智能卡硬件的基本結(jié)構(gòu)；然后以接觸式智能卡為例，從芯片的硬件結(jié)構(gòu)出發(fā)，提出COS操作系統(tǒng)通信和硬件模塊以及操作系統(tǒng)的異常處理機(jī)制的設(shè)計(jì)方案，并提出一種操作系統(tǒng)底層的測試方案，即Testing COS。這里從COS性能的角度出發(fā)設(shè)計(jì)底層模塊，并提出針對底層模塊函數(shù)的測試方案。
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全智科技與創(chuàng)意電子推出RF SiP量產(chǎn)測試方案
專注于RFIC/SiP/SoC測試領(lǐng)域的專業(yè)測試服務(wù)公司全智科技與SoC及ASIC設(shè)計(jì)服務(wù)廠商創(chuàng)意電子宣布,雙方合作開發(fā)的移動電視調(diào)諧器(Mobile TV Tuner)的內(nèi)嵌射頻系統(tǒng)封裝(RF SiP)的量產(chǎn)測試解決方案已應(yīng)用于客戶芯片量產(chǎn)。目
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用于現(xiàn)代印制線路板組裝的高效測試策略
當(dāng)今電子制造商正面臨著越來越大要求降低成本、提高質(zhì)量及縮短面市時間的壓力，正確的測試策略可以幫助公司提高效率，制造出合格的產(chǎn)品，同時，在產(chǎn)品設(shè)計(jì)、設(shè)備投資、制造及質(zhì)量保證過程中引入測試還能有效地降低成
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基于CDMA2000的MMS測試方案（羅德與施瓦茨）
CDMA認(rèn)證論壇（CCF）認(rèn)證了來自羅德與施瓦茨公司的新的MMS測試方案。作為R&S CMU200無線綜測儀的一個軟件更新，羅德與施瓦茨提供了業(yè)界第一個用于CDMA2000®的認(rèn)證過的MMS測試用例。認(rèn)證過程完成于2009年初。
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802.16e OFDM/A 柔性測試的 WiMAX 測試方案
概述吉時利最新的 WiMAX 測試方案為用戶開發(fā)和測試 802.16 OFDM/A 產(chǎn)品提供了無可比擬的靈活性。該平臺同樣非常適用于工程開發(fā)和高度自動化的制造環(huán)境。工程人員和生產(chǎn)廠商利用該方案的硬件和軟件架構(gòu)能夠快速分析和
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安捷倫科技推出 USB 3.0 物理層一致性測試方案
安捷倫科技公司日前宣布推出超高速USB 3.0 設(shè)備綜合測試解決方案，該解決方案可確保超高速USB 3.0設(shè)備符合最新公布的標(biāo)準(zhǔn)。 在加州圣何塞市舉行的首屆USB 3.0開發(fā)商大會上，安捷倫演示了其最新的USB 3.0發(fā)射機(jī)和USB
