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電纜接頭的內(nèi)置式局放監(jiān)測(cè)缺陷模擬試驗(yàn)研究
摘要:現(xiàn)場(chǎng)制作電纜接頭時(shí)易產(chǎn)生缺陷,造成電纜后期運(yùn)行過(guò)程中出現(xiàn)擊穿故障,據(jù)此對(duì)電纜接頭制作過(guò)程中易發(fā)生的幾種缺陷進(jìn)行了模擬試驗(yàn),通過(guò)對(duì)比內(nèi)置式局部放電監(jiān)測(cè)和實(shí)驗(yàn)室局放儀檢測(cè)的局放量來(lái)驗(yàn)證放電情況,為防止后期現(xiàn)場(chǎng)制作電纜接頭出現(xiàn)類似缺陷提供參考。
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