摘要:現(xiàn)有的高壓信號引出裝置可靠性較差的原因是密封性差和零部件互換,性差。為提高其可靠,性,文中設計了一種新型高壓信號引出裝置,并對其密封塞進行了可靠性實驗,同時對新設計的高壓信號引出裝置進行了高壓密封性實驗和電絕緣性能實驗。實驗結果表明,新型高壓信號引出裝置的密封,性能和電絕緣性能良好。得到的結論是:該設計能有效地解決高壓信號引出裝置的密封性問題,提高產(chǎn)品可靠性。
由于用戶產(chǎn)品小型化的需要,對0201元件的需求將與日俱增。本文重點介紹0201元件的PCB設計要求,包括0201元件焊盤的設計,以及0201元件之間或者0201元件和其它元件之間的最小間距設計。使用了兩種試驗方案,和三次實驗
成品率下滑已成為當今納米集成電路設計中面臨的最大挑戰(zhàn)之一。如何在研發(fā)高性能IC 同時保證較高的成品率已成為近年來學術界及工業(yè)界關注的熱點問題。 一 芯片成品率在電子產(chǎn)品生產(chǎn)中,成品率問題由于與生產(chǎn)成本以及企