電子產(chǎn)品的質(zhì)量是技術(shù)性和可靠性兩方面的綜合。電源作為一個(gè)電子系統(tǒng)中重要的部件,其可靠性決定了整個(gè)系統(tǒng)的可靠性,開關(guān)電源由于體積小,效率高而在各個(gè)領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用
電源反饋光耦CTR過大,過???到底有何影響? 通知:張飛無人機(jī)配件、正激、視頻教程已在官方商城上架(點(diǎn)擊藍(lán)字查看詳情)! 1.摘要 近來, LLC拓?fù)湟云涓咝?,高功率?/p>
本文介紹在廣東省計(jì)量科學(xué)研究所申請國家校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可及長度室申請香港hoklas校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可準(zhǔn)備過程中,在分析計(jì)算認(rèn)可項(xiàng)目的測量總不確定度時(shí),對jjg1027一91《測量誤差及數(shù)據(jù)處理》、jjgi仍3一92《
天然氣作為一種重要的能源越來越被重視,其計(jì)量的準(zhǔn)確性成為計(jì)量工作者的主要研究任務(wù)。為了使天然氣計(jì)量準(zhǔn)確可靠,人們逐漸認(rèn)識到僅對流量計(jì) 進(jìn)行研究、改進(jìn)和標(biāo)準(zhǔn)化,要提高流量計(jì)量的準(zhǔn)確、可靠性是
隨著信息技術(shù)的飛速發(fā)展,基于ARM在嵌入式系統(tǒng)方面的優(yōu)勢和CAN總線的廣泛應(yīng)用,目前越來越多的ARM處理器內(nèi)部自帶了CAN控制器,極大的方便了開發(fā)人員對CAN總線的開發(fā)。本課題是基于ARM2104的微處理器C
異步復(fù)位 相比 同步 復(fù)位: 1. 通常情況下(已知復(fù)位信號與時(shí)鐘的關(guān)系),最大的缺點(diǎn)在于異步復(fù)位導(dǎo)致設(shè)計(jì)變成了異步時(shí)序電路,如果復(fù)位信號出現(xiàn)毛刺,將會導(dǎo)致觸發(fā)器的誤動(dòng)作,影響設(shè)計(jì)的穩(wěn)定
單論單片機(jī)硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)解決方案,一般從三個(gè)方面分析:優(yōu)選設(shè)計(jì)方案、增加冗余和容錯(cuò)率、采用硬件抗干擾。本文詳細(xì)的介紹了優(yōu)化這三個(gè)方面對單片硬件可靠性帶來的好處。 1、選優(yōu)設(shè)計(jì) 在系統(tǒng)硬件設(shè)
硬件叱咤江湖,軟件通過控制硬件來統(tǒng)治江湖。當(dāng)今世界,放眼江湖,有電子的地方就有嵌入式軟件,有電子故障的地方,也就有嵌入式軟件設(shè)計(jì)缺陷的影子。我們今天就把軟件所
就像很遙遠(yuǎn)年代的人們思想還很保守,固守著自己一方凈土獨(dú)享著一份安逸??傉J(rèn)為天圓地方一直在平淡而充實(shí)的生活,又好似紅樓夢中的劉姥姥走進(jìn)大觀園看得眼花繚亂。對于75年
對FPGA設(shè)計(jì)中常用的復(fù)位設(shè)計(jì)方法進(jìn)行了分類、分析和比較。針對FPGA在復(fù)位過程中存在不可靠復(fù)位的現(xiàn)象,提出了提高復(fù)位設(shè)計(jì)可靠性的4種方法,包括清除復(fù)位信號上的毛刺、異步復(fù)位同步釋放、采用專用全局異步復(fù)位/置位
可靠性是每一個(gè)產(chǎn)品的靈魂,如果一個(gè)產(chǎn)品可靠性不好,那它就是一個(gè)失敗的產(chǎn)品,因?yàn)榭蛻舨粫褂么嬖陲L(fēng)險(xiǎn)的產(chǎn)品,然而產(chǎn)品的可靠性不僅受到上下電、復(fù)位等內(nèi)部因素影響,還會被供電的突然關(guān)斷、工作環(huán)境等外部因素干擾。
本文所提出的繼電器可靠性檢測系統(tǒng)由服務(wù)器和多臺可靠性檢測裝置(客戶端)組成,可靠性檢測裝置是進(jìn)行可靠性試驗(yàn)的必要手段。服務(wù)器和可靠性檢測裝置通過調(diào)用TCP協(xié)議提供的套接字傳送數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)了服務(wù)
乍一看,PCB不論內(nèi)在質(zhì)量如何,表面上都差不多。正是透過表面,我們才看到差異,而這些差異對PCB在整個(gè)壽命中的耐用性和功能至為關(guān)鍵。客戶并非總能看到這些差異,但他們可以放心的是,NCAB會竭盡努力,確保供應(yīng)的PCB符合最嚴(yán)格的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
從智能手機(jī)、筆記本電腦、以及與各種云應(yīng)用相關(guān)的服務(wù)器,閃存存儲已經(jīng)在我們的現(xiàn)實(shí)世界中無處不在。閃存技術(shù)已經(jīng)如此普遍,我們大多數(shù)人甚至都沒有意識到閃存技術(shù)本質(zhì)上并
無論是在制造組裝流程還是在實(shí)際使用中,PCB都要具有可靠的性能,這一點(diǎn)至關(guān)重要。除相關(guān)成本外,組裝過程中的缺陷可能會由PCB帶進(jìn)最終產(chǎn)品,在實(shí)際使用過程中可能會發(fā)生故障,導(dǎo)致索賠。因此,從這一點(diǎn)來看,可以毫不為過地說,一塊優(yōu)質(zhì)PCB的成本是可以忽略不計(jì)的。
Molex 發(fā)布了 Micro-Lock Plus 線對板連接器系統(tǒng),該系統(tǒng)是尋求高性能、緊湊尺寸與牢固的保持效果的客戶的理想解決方案。Molex 開發(fā)的這一綜合性的端子解決方案具有 1.5
司空見慣的經(jīng)驗(yàn)性的東西,其實(shí)我們都很多都是錯(cuò)的,而這一旦用于設(shè)計(jì),產(chǎn)品可靠性可想而知。所以說“電路設(shè)計(jì)器件選型,先論證其不可行性,慎談可行性;電子設(shè)計(jì)比拼的不是誰的設(shè)計(jì)更好,而是誰的設(shè)計(jì)更少犯錯(cuò)誤”。
電流密度過高導(dǎo)致金屬原子逐漸置換,這時(shí)就會產(chǎn)生電子遷移問題。當(dāng)很長時(shí)間內(nèi)在同一個(gè)方向有過多電流流過時(shí),在互連線上會開始形成空洞(Void,原子耗盡時(shí)出現(xiàn))和小丘(hillock,原子積聚時(shí)產(chǎn)生)。足夠多的原子被置換后,會產(chǎn)生斷路或短路。當(dāng)小丘觸及鄰近的互連線時(shí),短路出現(xiàn),從而引起芯片失效。
本文從最基本、最常用的電子元器件和基本電路的著手,介紹電路設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)該注意的一些問題, 以提高所設(shè)計(jì)電路的可靠性和抗干擾能力。
電流探頭是示波器測量電流的必備配件,但不同品牌之間價(jià)格往往差別很大,到底什么樣的電探頭才是可靠的呢?這里分享了電流探頭可靠性驗(yàn)證的完整過程,并呈現(xiàn)所有實(shí)測結(jié)果,您