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可靠性測(cè)試包括哪些
電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的方法及分類
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可靠性測(cè)試
可靠性測(cè)試就是為了評(píng)估產(chǎn)品在規(guī)定的壽命期間內(nèi)，在預(yù)期的使用、運(yùn)輸或儲(chǔ)存等所有環(huán)境下，保持功能可靠性而進(jìn)行的活動(dòng)。
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思達(dá)科技最新一體化可靠性測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)展順利：已開(kāi)始接單出貨
我們距離完全的自給自足還有一段距離，需要再加把勁才行。 6月份的308億顆產(chǎn)量比2020年同期增長(zhǎng)了43.9%，同時(shí)，2021年前6個(gè)月，我們一共生產(chǎn)了1712億個(gè)芯片，同比增長(zhǎng)48.1%。
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電源測(cè)試大全之可靠性測(cè)試
1 反復(fù)短路測(cè)試 測(cè)試說(shuō)明 在各種輸入和輸出狀態(tài)下將模塊輸出短路，模塊應(yīng)能實(shí)現(xiàn)保護(hù)或回縮，反復(fù)多次短路，故障排除后，模塊應(yīng)該能自動(dòng)恢復(fù)正常運(yùn)行。 測(cè)試方
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硅片級(jí)可靠性測(cè)試詳解
引言 硅片級(jí)可靠性（WLR）測(cè)試最早是為了實(shí)現(xiàn)內(nèi)建（BIR）可靠性而提出的一種測(cè)試手段。硅片級(jí)可靠性測(cè)試的最本質(zhì)的特征就是它的快速，因此，近年來(lái)它被越來(lái)越多得用于工藝開(kāi)發(fā)階段。工藝工程師
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LED燈具可靠性測(cè)試詳解
作為光源中的新興力量，led的發(fā)光方式與傳統(tǒng)光源截然不同。它是利用半導(dǎo)體PN節(jié)中的電子與空穴的復(fù)合來(lái)發(fā)光。發(fā)光方式的不同決定了LED與傳統(tǒng)光源有著本質(zhì)的區(qū)別，也決定了它有自己獨(dú)特之處。 首
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可靠性試驗(yàn)分類方法及試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
1. 如可靠性測(cè)試以環(huán)境條件來(lái)劃分,可分為包括各種應(yīng)力條件下的模擬試驗(yàn)和現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn);2. 可靠性試驗(yàn)以試驗(yàn)項(xiàng)目劃分，可分為環(huán)境試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速試驗(yàn)和各種特殊試驗(yàn);3.可靠性試驗(yàn)室若按試驗(yàn)?zāi)康膩?lái)劃分，則可分為篩選
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科普:高加速壽命試驗(yàn)是什么？
一款新產(chǎn)品的推出都要經(jīng)歷很多階段，其中最關(guān)鍵的部分可能要數(shù)設(shè)計(jì)研發(fā)階段了。新的產(chǎn)品理念的提出到試品的出現(xiàn)，可謂是從無(wú)到有的過(guò)程。在整個(gè)產(chǎn)品設(shè)計(jì)研發(fā)階段，工程師們需要通過(guò)很多手段使產(chǎn)品的種種缺陷提早暴露
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EPC可靠性測(cè)試報(bào)告記錄了超過(guò)170億小時(shí)測(cè)試器件的可靠性的現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù) 結(jié)果表明器件的失效率很低
宜普電源轉(zhuǎn)換公司發(fā)布第七階段可靠性測(cè)試報(bào)告，展示出在累計(jì)超過(guò)170億器件-小時(shí)的測(cè)試后的現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)的分布結(jié)果，以及提供在累計(jì)超過(guò)700萬(wàn)器件-小時(shí)的應(yīng)力測(cè)試后的詳盡數(shù)據(jù)。各種應(yīng)力測(cè)試包括間歇工作壽命[(IOL)[、早期壽命失效率[(ELFR)、高濕偏置、溫度循環(huán)及靜電放電等測(cè)試。報(bào)告提供受測(cè)產(chǎn)品的復(fù)合0.24 FIT失效率的現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)。這個(gè)數(shù)值與我們直至目前為止所取得的現(xiàn)場(chǎng)評(píng)估的結(jié)果是一致的，證明在商業(yè)化的功率開(kāi)關(guān)應(yīng)用中，eGaN FET已經(jīng)準(zhǔn)備好可以替代日益老化的等效硅基器件。
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