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抗單粒子翻轉(zhuǎn)（SEU）的加固單元庫(kù)設(shè)計(jì)：三模冗余與EDAC糾錯(cuò)電路實(shí)現(xiàn) 摘要
隨著汽車電子、航空航天等安全關(guān)鍵領(lǐng)域?qū)呻娐房煽啃砸蟮奶嵘?，抗單粒子翻轉(zhuǎn)（SEU）技術(shù)成為設(shè)計(jì)焦點(diǎn)。本文提出一種基于三模冗余（TMR）與糾錯(cuò)碼（EDAC）的混合加固方案，通過(guò)RTL級(jí)建模實(shí)現(xiàn)高可靠單元庫(kù)設(shè)計(jì)。實(shí)驗(yàn)表明，該方案可使電路SEU容錯(cuò)率提升至99.9999%，同時(shí)面積開(kāi)銷控制在2.3倍以內(nèi)。通過(guò)Verilog硬件描述語(yǔ)言與糾錯(cuò)碼算法的協(xié)同優(yōu)化，本文為安全關(guān)鍵系統(tǒng)提供了從單元級(jí)到系統(tǒng)級(jí)的抗輻射加固解決方案。
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火星探測(cè)器固件設(shè)計(jì)中的自愈機(jī)制與三模冗余表決機(jī)制
在極端環(huán)境如火星探測(cè)任務(wù)中，探測(cè)器的固件設(shè)計(jì)必須極其可靠，以應(yīng)對(duì)各種潛在故障，包括存儲(chǔ)器壞塊和任務(wù)堆棧指針異常等問(wèn)題。本文將探討如何實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)器壞塊的自愈機(jī)制，如何通過(guò)MPU配置實(shí)現(xiàn)故障隔離，以及三模冗余系統(tǒng)的表決機(jī)制實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)。
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