概要
阻抗分析儀IM3570是實(shí)現(xiàn)了測量頻率4Hz~5MHz的日置首款高精度•高速阻抗分析儀。根據(jù)客戶的用途，可以與原來本公司的LCR產(chǎn)品一樣選擇將測量值用數(shù)值顯示模式來顯示頻率/電平特性的測量圖表。

定位
IM3570是類似本公司以往產(chǎn)品LCR測試儀3532-50，并較其功能更為強(qiáng)大的產(chǎn)品。特別加強(qiáng)了頻率的掃描測量、高速測量、低ESR測量、DCR的連續(xù)測量和測量穩(wěn)定性，是HIOKI首款能在掃頻測量時(shí)顯示圖表的產(chǎn)品。此外，這款產(chǎn)品的測試速度、操作性、價(jià)格都非常符合現(xiàn)今市場需求，極具行業(yè)競爭性。

特點(diǎn)
關(guān)于測量精度，特別是低阻抗的操作反復(fù)精度比起以往產(chǎn)品都提高了一位，所以比較適合測量多mΩ、低ESR功能性高分子電容。
另外，測量時(shí)間最快為0.5ms（100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF時(shí)），所以能夠高速測量共振頻率、發(fā)聲零件、振動傳感器等，適合用于生產(chǎn)壓電元件的生產(chǎn)線。
最大的優(yōu)點(diǎn)是，與以往產(chǎn)品相比可高速的切換測量條件后進(jìn)行測量。因此，以往的裝備多臺測試儀的系統(tǒng)現(xiàn)在用一臺IM3570就能搞定。比如，測量線圈，DCR測量（電阻計(jì)）和1MHz的L-Q值測量（LCR）都可以用IM3570測量。

主要應(yīng)用
壓電元件（發(fā)聲零件、濾波器）、高分子電容的生產(chǎn)線上的檢查中，另外頻率掃描測量也可用于電池材料評估等多種用途中。