【導(dǎo)讀】科技正在發(fā)生著跨時(shí)代的變革。為了應(yīng)對(duì)新數(shù)字世界所面臨的挑戰(zhàn)，日?qǐng)D科技有限公司中國(guó)合作伙伴美國(guó)泰克為電子測(cè)量測(cè)試行業(yè)中從事研發(fā)設(shè)計(jì)、驗(yàn)證、調(diào)試的工程師們推出了一系列的全新測(cè)試產(chǎn)品平臺(tái)及完善的解決方案應(yīng)對(duì)當(dāng)前在高速串行和嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)中最新的測(cè)試測(cè)量挑戰(zhàn)。

摘要：   科技正在發(fā)生著跨時(shí)代的變革。為了應(yīng)對(duì)新數(shù)字世界所面臨的挑戰(zhàn)，日?qǐng)D科技有限公司中國(guó)合作伙伴美國(guó)泰克為電子測(cè)量測(cè)試行業(yè)中從事研發(fā)設(shè)計(jì)、驗(yàn)證、調(diào)試的工程師們推出了一系列的全新測(cè)試產(chǎn)品平臺(tái)及完善的解決方案應(yīng)對(duì)當(dāng)前在高速串行和嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)中最新的測(cè)試測(cè)量挑戰(zhàn)。

關(guān)鍵字：  電子，  調(diào)試，  嵌入式，  

 測(cè)量設(shè)備行業(yè)盛典

 科技正在發(fā)生著跨時(shí)代的變革。為了應(yīng)對(duì)新數(shù)字世界所面臨的挑戰(zhàn)，日?qǐng)D科技有限公司中國(guó)合作伙伴美國(guó)泰克為電子測(cè)量測(cè)試行業(yè)中從事研發(fā)設(shè)計(jì)、驗(yàn)證、調(diào)試的工程師們推出了一系列的全新測(cè)試產(chǎn)品平臺(tái)及完善的解決方案應(yīng)對(duì)當(dāng)前在高速串行和嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)中最新的測(cè)試測(cè)量挑戰(zhàn)。

 日?qǐng)D科技攜手美國(guó)Tektronix盛邀請(qǐng)您關(guān)注：2011年度Tektronix技術(shù)交流會(huì)廈門喜來(lái)登站

 時(shí)間：2011年3月23日      地點(diǎn)：廈門市喜來(lái)登酒店

 地址：廈門市思明區(qū)嘉禾路386-1號(hào) 喜來(lái)登酒店 (附近站臺(tái)天地花園站， 呂厝北站 ， SM廣場(chǎng)附近)
 
 測(cè)量設(shè)備行業(yè)盛典看點(diǎn)：

 行業(yè)專家論壇 - 業(yè)內(nèi)權(quán)威人士與您分享嵌入式系統(tǒng)市場(chǎng)合作和應(yīng)用前景，掌握測(cè)量技術(shù)的最新資訊和技術(shù)趨勢(shì)，行業(yè)的技術(shù)動(dòng)態(tài)，和未來(lái)的發(fā)展趨勢(shì)。

 技術(shù)應(yīng)用課程 - 行業(yè)知名廠商助您掌握最新技術(shù)應(yīng)用及解決方案 ，提升競(jìng)爭(zhēng)力。

 頂尖產(chǎn)品拆解 - 現(xiàn)場(chǎng)拆解解讀產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、工作原理、產(chǎn)品性能對(duì)比等。

 高端技術(shù)分享 - 尖端產(chǎn)品現(xiàn)場(chǎng)展示，為您解密電子產(chǎn)品的檢測(cè)成功之道！

 測(cè)量設(shè)備行業(yè)盛典看點(diǎn)：

 新品內(nèi)容包含如下：

 DPO/DSA/MSO70000C系列數(shù)字與混合信號(hào)示波器，采樣率達(dá)100 GS/s，低噪聲時(shí)提供5倍過(guò)采樣

 AWG7000C/5000C任意波形發(fā)生器，縮短45%波形創(chuàng)建時(shí)間

 TLA6200邏輯分析儀系列， 為主流嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)者提供了強(qiáng)大的高端調(diào)試與分析能力

 Bertscope BSA系列誤碼率分析儀，增強(qiáng)了Tx/Rx的測(cè)試能力，完善泰克在高速串行和電信的測(cè)試方案

 MSO/DPO5000，MSO/DPO4000B全新系列的混合信號(hào)示波器平臺(tái)，加快調(diào)試的每一個(gè)階段，擁有高端的性能，開(kāi)放式的平臺(tái)，完善的調(diào)試和探測(cè)功能

 屆時(shí)泰克的資深專家會(huì)親臨現(xiàn)場(chǎng)為您做精彩演講，同時(shí)還會(huì)展示泰克的全線產(chǎn)品，涵蓋從便攜式臺(tái)式儀器系列到高性能的系統(tǒng)級(jí)測(cè)試儀器的全明星陣容。

 分段主題介紹：

 加快調(diào)試的每一個(gè)階段--泰克全新MSO/DPO5000混合信號(hào)示波器介紹

 當(dāng)前的工程師和技術(shù)人員正面臨著日益復(fù)雜關(guān)鍵的調(diào)試任務(wù)。新型數(shù)字設(shè)計(jì)給設(shè)計(jì)人員帶來(lái)了新的問(wèn)題：串行總線上的系統(tǒng)集成問(wèn)題，瞬變，信號(hào)畸變，總線爭(zhēng)用問(wèn)題，信號(hào)完整性問(wèn)題等等，當(dāng)然也包括產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期的競(jìng)爭(zhēng)壓力，這一切都要求技術(shù)人員必須迅速準(zhǔn)確地完成調(diào)試工作，縮短產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)周期。

 泰克全新MSO/DPO5000提供了高端的性能和開(kāi)放的平臺(tái)，在日益復(fù)雜的調(diào)試中加快了調(diào)試的每一個(gè)階段。通過(guò)探測(cè)、發(fā)現(xiàn)、捕獲、搜索、分析五個(gè)步驟來(lái)快速完成復(fù)雜電路調(diào)試和驗(yàn)證， 為復(fù)雜的電子電路設(shè)計(jì)提供了業(yè)內(nèi)最優(yōu)秀的解決方案。

 產(chǎn)品特色：

 更快探測(cè)： 突破性的TPP無(wú)源探頭，1GHz帶寬，4pF電容，帶寬增倍，負(fù)荷減半；數(shù)字探頭與通道，1ns毛刺檢測(cè)，3pF電容，速度增倍，負(fù)荷減半倍，支持多種邏輯分析

 更快發(fā)現(xiàn)：DPX波形更新率，比同類最高快100倍

 更快捕獲：MagniVu™數(shù)字采樣，60.6ps定時(shí)分辨率，快同類產(chǎn)品8倍，超過(guò)350種觸發(fā)組合，快速抓住異常故障！

 更快搜索：Wave Inspector®搜索，在250M深存儲(chǔ)，快速自動(dòng)定位故障

 更快分析：53種自動(dòng)測(cè)量，超過(guò)10種應(yīng)用軟件，包括以太網(wǎng)與USB2.0一致性驗(yàn)驗(yàn)證軟件，開(kāi)放式Windows7平臺(tái)

 泰克DDR1/2/3原理和自動(dòng)化測(cè)試方案

 DDR目前正在逐漸滲透到計(jì)算機(jī)行業(yè)，通訊行業(yè)和消費(fèi)電子行業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域，隨著DDR產(chǎn)品的更新?lián)Q代和速度的提升，DDR測(cè)試給產(chǎn)品開(kāi)發(fā)和測(cè)試工程師帶來(lái)越來(lái)越多的困難和挑戰(zhàn)。如何理解DDR物理層和協(xié)議層原理，如何對(duì)DDR數(shù)據(jù)進(jìn)行讀寫分離，如何對(duì)DDR進(jìn)行自動(dòng)化測(cè)試，如何靈活地精確地探測(cè)BGA封裝的DDR信號(hào)，如何對(duì)DDR的協(xié)議層進(jìn)行分析，如何對(duì)PCB板件做阻抗和S參數(shù)的測(cè)量，這些都是我們現(xiàn)在和以后所面臨的困難和挑戰(zhàn)。本講座將就以上問(wèn)題，以及泰克為此所推出的全新的DDR測(cè)試解決方案做深入的分析。[!--empirenews.page--]

 完整的USB3.0發(fā)送端和接收端測(cè)試方案

 驗(yàn)證USB3.0設(shè)計(jì)要求的通常遠(yuǎn)不止于一致性測(cè)試工具。在被測(cè)器件一致性測(cè)試失敗時(shí)，分析其根本原因變得非常關(guān)鍵。我們將討論并演示調(diào)試USB 3.0發(fā)射機(jī)和接收機(jī)使用的工具。系統(tǒng)檢定是了解設(shè)計(jì)余量的關(guān)鍵。例如，不同系統(tǒng)組件(包括信道和電纜)都會(huì)導(dǎo)致互操作能力問(wèn)題。我們將介紹迅速執(zhí)行接收機(jī)檢定的方法，以及確定接收機(jī)測(cè)試失敗根本原因使用的工具。在發(fā)射機(jī)方面，我們將討論在不同信道特點(diǎn)下評(píng)估設(shè)計(jì)的方法。

 PCI Express2.0-3.0演化中的新要求

 PCIe3.0帶來(lái)了許多在設(shè)計(jì)和驗(yàn)證PCIe3.0設(shè)計(jì)時(shí)必需考慮的新的挑戰(zhàn)。由于數(shù)據(jù)速率提高到8Gb/s，其必須采用新的均衡方案，以補(bǔ)償信道損耗，這帶來(lái)了新的發(fā)射機(jī)測(cè)量項(xiàng)目和一致性測(cè)試方法。均衡技術(shù)不能補(bǔ)償系統(tǒng)中的所有抖動(dòng)來(lái)源，因此PCIe3.0要求采用新的抖動(dòng)方法。發(fā)射機(jī)測(cè)量規(guī)定在芯片引腳上進(jìn)行，而芯片引腳一般都不能接觸，因此要求反嵌信道影響，以測(cè)量發(fā)射機(jī)。這就要求進(jìn)行發(fā)射機(jī)測(cè)試，以滿足標(biāo)準(zhǔn)，并提供新的測(cè)試方法。正確測(cè)試發(fā)射機(jī)必不可少，因?yàn)樾诺滥┪驳难蹐D將閉上，從而要求CTLE、CTLE和DFE，實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)服務(wù)器信道。接收機(jī)必須能夠適應(yīng)系統(tǒng)中的信道，因此我們將討論新的接收機(jī)測(cè)試方法，包括自動(dòng)鏈路協(xié)商。

 更多內(nèi)容現(xiàn)場(chǎng)發(fā)放:

 1、確保免費(fèi)席位和相關(guān)資料；                  2、與現(xiàn)場(chǎng)專家直接交流；
 3、獲得會(huì)后研討會(huì)整合資料一份；            4、現(xiàn)場(chǎng)參觀最新產(chǎn)品展示；
 5、免費(fèi)獲得日?qǐng)D科技贈(zèng)送的精明禮品一份；6、免費(fèi)帶產(chǎn)品測(cè)試，幫您現(xiàn)場(chǎng)解答疑難問(wèn)題
 7、免費(fèi)五級(jí)酒店用餐（喜來(lái)登）               8、免費(fèi)現(xiàn)場(chǎng)參加組織方帶來(lái)的萬(wàn)元禮品抽獎(jiǎng)

 萬(wàn)元大獎(jiǎng)任您領(lǐng)

 現(xiàn)場(chǎng)設(shè)有：現(xiàn)場(chǎng)互動(dòng)、技術(shù)問(wèn)答、精彩游戲、產(chǎn)品綜合展示動(dòng)手區(qū)等環(huán)節(jié)，更有千元禮品現(xiàn)場(chǎng)贈(zèng)送。

 凡參加者將可獲贈(zèng)精美禮品1份，活動(dòng)多多，精彩多。

　　一等獎(jiǎng)（1名）：價(jià)值 千元優(yōu)派液晶顯示器
　　二等獎(jiǎng)（2名）：價(jià)值 五百元禮品一份
　　三等獎(jiǎng)（2名）：價(jià)值 三百元禮品一份
　　幸運(yùn)獎(jiǎng)（多名）：凡與會(huì)的工程師均可免費(fèi)領(lǐng)取

 確認(rèn)報(bào)名參加登記

 現(xiàn)在就報(bào)名參加，免費(fèi)領(lǐng)取參觀票（免費(fèi)門票數(shù)量有限，以日?qǐng)D科技官方網(wǎng)站公布為準(zhǔn)）
 請(qǐng)于2011年3月15日前致電800-716-0102，400-616-5217 周小姐、楊小姐報(bào)名參加
 郵箱：zhoulingzhi@rituchina.com 或 yangcheng@rituchina.com
 時(shí)間：2011年3月23日    地址：廈門市思明區(qū)嘉禾路386-1號(hào) 喜來(lái)登酒店