思達科技于「SEMICON JAPAN 2010」展示新版Windows 7 之參數與可靠度測試軟體與系列先進探針卡。思逹科技參與在日本東京幕張國際展覽館舉辦之「SEMICON Japan 2010」。此展會為日本業(yè)界的年度盛會，思達科技借此展現研發(fā)生產的實力，并以高品質產品，拓展當地半導體市場。會中首次除公開展示全球業(yè)界首款因應微軟Windows 7 的半導體參數與可靠度測試軟體 – STAr Sagittarius 7 (人馬座第7代)，并搭配安捷倫(Agilent B1500A)測試設備與自有品牌之先進測試探針卡，共同展出。

思達科技日本總經理西鶴和法先生表示，?我們很高興能參與SEMICON Japan 2010，將最新一代的人馬座系列，以及自行生產的測試探針卡系列，介紹給日本半導體業(yè)界。其中Sagittarius 7，為全球首款針對Windows 7 推出的半導體參數與可靠度測試軟體，其完美整合多種參數測試儀器與矩陣器，是先進的半導體測試管理解決方案，也正是市場積極尋求的測試系統。經由此盛會，我們積極并成功地擴展了品牌與產品知名度。」

Sagittarius Series (人馬座系列) 是思達科技開發(fā)之智慧型測試系統軟體，能將電流電壓(IV)與電容電壓(CV)半導體晶圓測試整合于單一平臺，! 提升生產效率，目前已獲得多家晶圓代工、整合元件廠(IDM)以及IC設計廠商認使用。新版人馬座第七代是針對Windows 7 推出的半導體參數與可靠度測試軟體，其結合微軟最新的軟體技術與思達科技的人工智慧測試平臺，加以提供人性化的操作介面與多功能應用程式，能滿足元件特性量測、制程穩(wěn)定性監(jiān)控、SPICE模擬電訊提取、可靠度驗證，以及與系統無縫結合的各種應用程式等多元需求，給客戶完美的使用經驗。思達科技Sagittarius 7在此日本半導體展中更獲得多家日本IDM客戶的青睞，并決定在不久的將? 巖H采購運用。

而陳列的測試探針卡，則為思達科技自行開發(fā)與制造之產品，其自有技術已能提供不同的應用范圍，含括晶圓電性參數(WAT – Wafer Acceptance Test)與元件可靠度(WLR – Wafer-Level Reliability)測試、超高頻率邏輯IC及Direct Docking測試需求先進測試探針卡等等不同功能之系列產品。借此于日本半導體業(yè)界之公開資訊，思達展現于半導體測試領域的研發(fā)與技術，以及提供客戶全面而完整產品及服務的實力。