集成運(yùn)放參數(shù)測(cè)試儀
一、任務(wù)
設(shè)計(jì)并制作一臺(tái)能測(cè)試通用型集成運(yùn)算放大器參數(shù)的測(cè)試儀。
二、要求
1、基本要求
(1) 能測(cè)試VIO(輸入失調(diào)電壓)、IIO(輸入失調(diào)電流)、AVD (交流差模開(kāi)環(huán)電壓增益)和KCMR (交流共模抑制比)四項(xiàng)基本參數(shù),顯示器最大顯示數(shù)為 3999;
(2)各項(xiàng)被測(cè)參數(shù)的測(cè)量范圍及精度如下(被測(cè)運(yùn)放的工作電壓為±15V):
VIO:測(cè)量范圍為0~40mV(量程為4mV和40mV),誤差絕對(duì)值小于3%讀數(shù)+1個(gè)字;
IIO:測(cè)量范圍為0~4μA(量程為0.4μA和4μA),誤差絕對(duì)值小于3%讀數(shù)+1個(gè)字;
AVD:測(cè)量范圍為 60dB~120dB,測(cè)試誤差絕對(duì)值小于3dB;
KCMR:測(cè)量范圍為 60dB~120dB,測(cè)試誤差絕對(duì)值小于3dB;
(3)測(cè)試儀中的信號(hào)源(自制)用于AVD、KCMR參數(shù)的測(cè)量,要求信號(hào)源能輸出頻率為5Hz、輸出電壓有效值為4 V的正弦波信號(hào),頻率與電壓值誤差絕對(duì)值均小于1%;
(4)按照本題附錄提供的符合GB3442-82的測(cè)試原理圖(見(jiàn)圖2~圖4),再制作一組符合該標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試VIO、IIO、AVD 和KCMR參數(shù)的測(cè)試電路,以此測(cè)試電路的測(cè)試結(jié)果作為測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),對(duì)制作的運(yùn)放參數(shù)測(cè)試儀進(jìn)行標(biāo)定。
2、發(fā)揮部分
(1)增加電壓模運(yùn)放BWG (單位增益帶寬)參數(shù)測(cè)量功能,要求測(cè)量頻率范圍為
100kHz~3.5MHz,測(cè)量時(shí)間≤10秒,頻率分辨力為1kHz;
為此設(shè)計(jì)并制作一個(gè)掃頻信號(hào)源,要求輸出頻率范圍為 40kHz~4MHz,頻率誤差絕對(duì)值小于1%;輸出電壓的有效值為2V±0.2 V;
(2)增加自動(dòng)測(cè)量(含自動(dòng)量程轉(zhuǎn)換)功能。該功能啟動(dòng)后,能自動(dòng)按VIO、IIO、AVD 、KCMR 和BWG的順序測(cè)量、顯示并打印以上5個(gè)參數(shù)測(cè)量結(jié)果;
(3)其他。