收藏!高手分享EMI整改經(jīng)驗(yàn)
關(guān)于晶體部份:
1、晶體到MCU的兩條線不要太細(xì),盡量短直,且這兩條線與兩個(gè)負(fù)載電容所包圍的面積要越小越好,電容地端,最好單獨(dú)用較寬的走線單獨(dú)引至MCU振蕩地,不要與大面積地銅箔相連;
2、晶體背面最好是整片的地銅箔,不要走其它線,也不要在晶體正面上方走別的線;
3、有的MCU與不適合的晶體配合,振幅過(guò)高,產(chǎn)生截頂失真,便會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)的基波及強(qiáng)烈的諧波輻射,這種情況需在Xout上造近MCU一端串幾十至幾百歐電阻,讓振幅峰峰值降至VCC的1/2~2/3為宜;
高速線,一般是SDRAM、及數(shù)字視頻信號(hào)的VCLK了,最好在其走線背面有地銅層,沒(méi)有條件的,至少要有一條較寬的地線“護(hù)送”,能包地就更理想了,有的時(shí)候需要在靠MCU一端串電阻,消除過(guò)沖(過(guò)沖對(duì)輻射影響很大),不要串得太大,以免引起延遲;還有就是背面不要有平行的線,正面也是;另外就是USB,要走差分線;
低速較長(zhǎng)的線,也不容忽視,盡可能用RC抑制高頻分量,靠近對(duì)外的接口處,要串磁豬, 電源進(jìn)線處,串小的共模電感
總而言之,輻射過(guò)強(qiáng)是較大的dv/dt,及較大的環(huán)路面積引起,想辦法抑制電壓瞬變,降低信號(hào)過(guò)沖,縮小信號(hào)與電流回流的環(huán)路面積。還有就是小天線效應(yīng)
最后的沒(méi)有辦法的辦法,才是屏蔽,成本十分昂貴