在以往的測試系統(tǒng)中，一般采用引線式測試法實(shí)現(xiàn)信號的同步采集、顯示與分析，但在武器系統(tǒng)參數(shù)測試裝置所工作的高溫、高沖擊、高壓的惡劣環(huán)境中，引線式測試法布線復(fù)雜，干擾大，采集系統(tǒng)與信號分析系統(tǒng)的實(shí)時(shí)連通極為困難，而且在測試結(jié)束回收過程中，一旦系統(tǒng)意外掉電，則測試數(shù)據(jù)丟失，導(dǎo)致測試失敗[1]。引線式測試法在解決此類問題時(shí)遇到了功能上的瓶頸。為解決此類情況，存儲式測試法作為一種新的測試方法被提出，即把數(shù)據(jù)采集與分析系統(tǒng)分割為兩個(gè)相互獨(dú)立的子系統(tǒng)，測試時(shí)利用存儲測試技術(shù)，將傳感器與記錄電路做成一個(gè)整體，直接放到待測環(huán)境中對相關(guān)參數(shù)進(jìn)行測試并存儲。測試結(jié)束后由專用數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)對測試數(shù)據(jù)進(jìn)行后期分析與處理[2]。隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展，使用虛擬儀器對數(shù)據(jù)分析處理不僅高效準(zhǔn)確，而且很大程度地降低了成本。虛擬儀器技術(shù)已經(jīng)成為現(xiàn)代測試技術(shù)的一個(gè)重要發(fā)展趨勢。本文中設(shè)計(jì)了一種基于虛擬儀器的低成本、高精度、可擴(kuò)展的多通道數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)。
1 系統(tǒng)整體設(shè)計(jì)方案
    多通道數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。

1.1 系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)
    本系統(tǒng)的硬件結(jié)構(gòu)為基于Nandflash技術(shù)的存儲測試子系統(tǒng)。Nandflash是一種非易失性存儲器，具有體積小、功耗小、讀寫速度快等優(yōu)點(diǎn)。本文采用三星公司的Nandflash芯片K9F4GOSUOA作為主要存儲器件，控制器件使用ATMEL公司的ATmegal62和Xi1inx公司CoolRunner-II系列XC2C256，結(jié)合對Nandflash的讀、寫、擦除等操作進(jìn)行時(shí)序配置。A/D芯片使用Maxim公司的MAX1308。另外為實(shí)現(xiàn)通過USB總線將數(shù)據(jù)從采集設(shè)備傳送至PC，采用FTDI公司的FT245R芯片作為USB2.0接口控制器。
    存儲測試子系統(tǒng)共分為兩個(gè)模塊：(1)數(shù)據(jù)采集模塊,將采集的高速數(shù)據(jù)流，通過AVR和CPLD的控制，實(shí)時(shí)地保存到Nandflash中;(2)數(shù)據(jù)傳輸和存儲模塊,將己保存到Nandflash中的數(shù)據(jù), 通過AVR、CPLD和USB專用芯片進(jìn)行控制，經(jīng)由USB總線傳送至PC，以便后續(xù)處理[3]。
1.2 系統(tǒng)軟件結(jié)構(gòu)
    LabVIEW(Laboratory Virtual Instrument Engineering Workbench)是一種圖形化的編程語言和開發(fā)環(huán)境。系統(tǒng)的軟件部分是以LabVIEW為平臺開發(fā)設(shè)計(jì)的多通道數(shù)據(jù)分析子系統(tǒng)，其功能主要是對存儲測試子系統(tǒng)中存儲的測試數(shù)據(jù)進(jìn)行后期分析與處理。
2 多通道數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)的軟件實(shí)現(xiàn)
    系統(tǒng)軟件部分主要用來實(shí)現(xiàn)讀取存儲的測試數(shù)據(jù)文件，將數(shù)據(jù)還原成波形，并對波形進(jìn)行一系列的分析與處理。在功能上由數(shù)據(jù)定點(diǎn)定長讀取、數(shù)據(jù)波形還原與顯示、波形參數(shù)測量、濾波處理、頻譜分析與打印組成。
2.1 軟件前面板的設(shè)計(jì)
    前面板是軟件與用戶間進(jìn)行交流的窗口，通過這個(gè)友好的界面，用戶根據(jù)規(guī)定的操作規(guī)程，可以實(shí)現(xiàn)對軟件的控制，進(jìn)而獲取理想的數(shù)據(jù)結(jié)果。根據(jù)功能需要，前面板上共設(shè)置了數(shù)據(jù)讀取、波形顯示、波形控制、濾波處理、頻譜分析、參數(shù)測量、打印等窗口或旋鈕。
2.2 軟件各模塊的實(shí)現(xiàn)方法
2.2.1 測量數(shù)據(jù)定點(diǎn)、定長讀取
    測量數(shù)據(jù)定點(diǎn)、定長讀取可有效解決單次讀取海量數(shù)據(jù)造成的時(shí)耗過長問題，還可以在海量數(shù)據(jù)中對自己感興趣的區(qū)域進(jìn)行快速定位，有選擇地讀取，從而方便了對測量數(shù)據(jù)中敏感區(qū)域的分析與處理。該模塊通過“起始位置”與“讀取點(diǎn)數(shù)”的組合控制操作，實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)的定點(diǎn)定長讀取，其程序圖如圖2所示。

2.2.2 測量數(shù)據(jù)波形還原與顯示
    該模塊主要用于還原測量數(shù)據(jù)的波形，并實(shí)現(xiàn)對波形的控制。該部分通過一個(gè)5幀數(shù)字CASE結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了通道A、通道B、通道C、通道D、全選通等5種多通道工作模式。
    波形顯示窗口在設(shè)計(jì)過程中將5個(gè)“波形圖”控件透明化處理后與20×10的背景方格疊加，分別完成游標(biāo)和四通道波形的顯示功能。該設(shè)計(jì)方案解決了以往類似軟件中存在的當(dāng)多通道波形同時(shí)顯示時(shí)，不能獨(dú)立控制單通道波形的難題。各通道分別由一組“沿Y軸平移”與“幅基控制”旋鈕控制；而所有通道的“沿X軸平移”與“時(shí)基控制”則由同一組旋鈕控制[4]。其程序圖如圖3、圖4所示。

2.2.3 波形參數(shù)測量
    該模塊主要用來測量波形的基本時(shí)域參數(shù)，主要分為宏觀參數(shù)測量和游標(biāo)測量兩部分。宏觀測量是對讀取的定長數(shù)據(jù)進(jìn)行運(yùn)算，獲取其信號時(shí)域參數(shù)。游標(biāo)測量可以用來對波形中感興趣的點(diǎn)或區(qū)域進(jìn)行測量，獲得該區(qū)域信號的時(shí)域參數(shù)[5]。
2.2.4 濾波處理
    濾波處理主要用來對讀取的定長數(shù)據(jù)波形進(jìn)行濾波操作。該部分調(diào)用了LabVIEW中的Butterworth濾波器、Chebshev濾波器、反Chebshev濾波器、橢圓濾波器、貝塞爾濾波器等函數(shù)單元，實(shí)現(xiàn)了低通濾波、高通濾波、帶通濾波、帶阻濾波等4種濾波功能，通過設(shè)置高截止頻率、低截止頻率、階數(shù)和衰減等參數(shù)達(dá)到濾波目的。
2.2.5 頻譜分析
    根據(jù)“海森堡原理”，對數(shù)據(jù)中某一段敏感區(qū)域進(jìn)行頻譜分析可有效解決對海量數(shù)據(jù)進(jìn)行頻譜分析時(shí)有效信息不能準(zhǔn)確獲取的問題。該模塊主要用到函數(shù)庫中的FFT變換，獲取信號的單邊幅度譜，并把結(jié)果顯示在指定顯示窗口[6]。
2.2.6 打印
    打印是一種非常重要的數(shù)據(jù)存儲方式。該部分通過調(diào)用“添加報(bào)表文本”等控件，實(shí)現(xiàn)了對圖表及參數(shù)等信息的打印。
3 運(yùn)行結(jié)果與分析
    系統(tǒng)構(gòu)建完成以后，為驗(yàn)證系統(tǒng)能夠正常工作以及性能的優(yōu)劣，組織實(shí)驗(yàn)，并通過存儲測試子系統(tǒng)采集了一組正弦波信號數(shù)據(jù)，其參數(shù)如表1所示。

3.1 波形顯示
    打開程序后，將正弦波的測試數(shù)據(jù)文件存儲地址輸入四個(gè)通道的地址欄中，分別調(diào)整各控制旋鈕，得到各通道同時(shí)顯示（即全選通）時(shí)圖形,如圖5所示。

    經(jīng)比對發(fā)現(xiàn)，軟件能夠?qū)y量數(shù)據(jù)無失真還原，并實(shí)現(xiàn)了四通道波形同時(shí)顯示、分別控制的功能。與以往類似軟件相比，該模塊能更方便、更直觀地完成波形的比較。
3.2 波形參數(shù)測量
    經(jīng)多次對數(shù)據(jù)進(jìn)行分段讀取測量，將測量結(jié)果與信號本身參數(shù)進(jìn)行比對如表2所示。

    由表2可知，無論是游標(biāo)測量還是宏觀測量所得的結(jié)果與原信號參數(shù)相比誤差都比較小，該模塊能夠正確測量波形參數(shù)。
3.3 濾波處理
    為驗(yàn)證系統(tǒng)的濾波功能，事先將頻率為50 kHz，幅值為1 V的鋸齒波疊加到正弦波信號中，其混合后波形如圖6所示。

    設(shè)置濾波器參數(shù)為：拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)為Butterworth濾波器，濾波器類型為低通濾波器，截止頻率為0.1(歸一化頻率,為20 kHz)，階數(shù)為2。運(yùn)行濾波處理功能模塊，得到濾波后波形如圖7所示。

    鋸齒波頻率為50 kHz，正弦波頻率為10 kHz，當(dāng)濾波器類型為低通、截止頻率為20 kHz時(shí)，濾波器成功將鋸齒波濾除獲取到正弦波圖形。
3.4 頻譜分析
    在測量數(shù)據(jù)中從第1 000點(diǎn)開始讀取1 024個(gè)點(diǎn)進(jìn)行頻譜分析，得到的頻譜圖形如圖8所示。

    從信號的單邊幅度譜可以看出，信號的功率大部分集中在10 kHz的頻率點(diǎn)上，與事實(shí)相符，而且泄漏與旁瓣較少，信噪比也符合工程需求。
    本文設(shè)計(jì)了基于虛擬儀器的多通道數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)，配合存儲測試技術(shù)，能夠方便、可靠地實(shí)現(xiàn)對武器系統(tǒng)參數(shù)的測試，充分發(fā)揮存儲測試技術(shù)所具有的無需引線、抗干擾能力強(qiáng)的優(yōu)點(diǎn)，是解決高溫、高沖擊、高壓環(huán)境下參數(shù)測試的先進(jìn)手段，有很好的推廣應(yīng)用前景。
參考文獻(xiàn)
[1] 張立.信息存儲技術(shù)的現(xiàn)狀及發(fā)展[J].信息記錄材料, 2006,5(7):47-54.
[2] 馬鐵華,祖靜.沖擊波超壓存儲測試技術(shù)研究[J].儀器儀表學(xué)報(bào)，2004，25(4):134-135.
[3] 杜建海.基于Nandflash陣列的高速數(shù)據(jù)存儲技術(shù)[D].太原：中北大學(xué), 2010:4-26.
[4] 安軍,唐東煒.基于LabVIEW的信號示波分析儀的開發(fā)[J].傳感器與儀器儀表,2007,23(11):139-141.
[5] 張宏群,蔡國英.基于虛擬儀器技術(shù)的信號測量分析儀的設(shè)計(jì)[J].計(jì)算機(jī)技術(shù)與發(fā)展,2008,18(2):244-250.
[6] 包敬民,齊新設(shè),馬剛.基于LabVIEW8.2的虛擬頻譜分析儀的設(shè)計(jì)[J].現(xiàn)代電子技術(shù),2007,22(6):200-202.