在電路中，有一些元器件容易引發(fā)電路故障，因為它們通常處于電路的關鍵位置，或者因為它們的特性和性能容易受到外部環(huán)境或操作條件的影響。以下是一些常見的容易引發(fā)電路故障的元器件：

一、電容

電容是電路中常見的元件之一，它的主要作用是存儲電荷和濾波。然而，電容也是容易出現(xiàn)故障的元器件之一。

電容老化：長期使用后，電容的性能會逐漸下降，容量減小、漏電增加等問題可能會出現(xiàn)。這會導致電路的穩(wěn)定性下降，甚至引發(fā)故障。例如，在電源濾波電路中，如果電容老化，可能會使輸出電壓不穩(wěn)定，影響整個系統(tǒng)的正常工作。

過電壓擊穿：當電容兩端的電壓超過其額定電壓時，電容可能會被擊穿。這會導致電容短路，從而引發(fā)電路故障。例如，在電路中出現(xiàn)瞬間高壓脈沖時，如果電容的耐壓不夠，就可能會被擊穿。

極性接反：對于有極性的電容，如果極性接反，也會導致電容損壞。例如，在電解電容中，如果極性接反，可能會使電容爆炸，引發(fā)嚴重的電路故障。

二、電阻

電阻在電路中起到限流、分壓等作用。雖然電阻通常比較穩(wěn)定，但也可能會出現(xiàn)故障。

電阻值變化：長期使用后，電阻的阻值可能會發(fā)生變化。這可能是由于電阻的材料老化、溫度變化等原因引起的。電阻值的變化會影響電路的性能，甚至導致電路故障。例如，在放大電路中，如果電阻值變化，可能會使放大倍數(shù)發(fā)生改變，影響電路的正常工作。

開路故障：電阻可能會因為過熱、機械損傷等原因而出現(xiàn)開路故障。這會導致電路中的電流中斷，影響電路的正常工作。例如，在串聯(lián)電路中，如果一個電阻開路，整個電路將無法工作。

短路故障：在某些情況下，電阻可能會出現(xiàn)短路故障。這可能是由于電阻的兩端被導電物質連接在一起，或者電阻內(nèi)部出現(xiàn)短路等原因引起的。短路故障會使電路中的電流增大，可能會損壞其他元器件。

三、二極管

二極管是一種具有單向導電性的半導體器件。它在電路中起到整流、穩(wěn)壓等作用。然而，二極管也容易出現(xiàn)故障。

反向擊穿：當二極管兩端的反向電壓超過其反向擊穿電壓時，二極管會被反向擊穿。這會導致二極管短路，從而引發(fā)電路故障。例如，在穩(wěn)壓電路中，如果二極管的反向擊穿電壓不夠，就可能會被反向擊穿，使穩(wěn)壓電路失效。

正向導通壓降變化：二極管的正向導通壓降會隨著溫度、電流等因素的變化而變化。如果正向導通壓降變化過大，可能會影響電路的性能。例如，在整流電路中，如果二極管的正向導通壓降變化過大，可能會使輸出電壓不穩(wěn)定。

開路故障：二極管可能會因為過熱、機械損傷等原因而出現(xiàn)開路故障。這會導致電路中的電流中斷，影響電路的正常工作。例如，在整流電路中，如果一個二極管開路，整流效果將大打折扣。

四、三極管

三極管是一種具有放大作用的半導體器件。它在電路中起到放大、開關等作用。然而，三極管也容易出現(xiàn)故障。

擊穿故障：三極管可能會因為過電壓、過電流等原因而出現(xiàn)擊穿故障。這會導致三極管短路，從而引發(fā)電路故障。例如，在放大電路中，如果三極管的集電極 - 發(fā)射極之間的電壓超過其擊穿電壓，三極管就可能會被擊穿。

放大倍數(shù)變化：三極管的放大倍數(shù)會隨著溫度、電流等因素的變化而變化。如果放大倍數(shù)變化過大，可能會影響電路的性能。例如，在放大電路中，如果三極管的放大倍數(shù)變化過大，可能會使放大效果不穩(wěn)定。

開路故障：三極管可能會因為過熱、機械損傷等原因而出現(xiàn)開路故障。這會導致電路中的電流中斷，影響電路的正常工作。例如，在開關電路中，如果三極管開路，開關將無法正常工作。

五、集成電路

集成電路是將多個電子元器件集成在一個芯片上的器件。它具有體積小、性能高、可靠性強等優(yōu)點。然而，集成電路也容易出現(xiàn)故障。

過熱損壞：集成電路在工作時會產(chǎn)生熱量，如果散熱不良，可能會導致集成電路過熱損壞。例如，在功率放大器中，如果集成電路的散熱不好，可能會使集成電路燒毀。

靜電損壞：集成電路對靜電非常敏感，靜電可能會導致集成電路損壞。例如，在安裝、調試集成電路時，如果不采取防靜電措施，可能會使集成電路被靜電損壞。

引腳開路或短路：集成電路的引腳可能會因為機械損傷、腐蝕等原因而出現(xiàn)開路或短路故障。這會影響集成電路的正常工作。例如，在數(shù)字電路中，如果集成電路的引腳開路或短路，可能會使數(shù)字信號傳輸錯誤。

運算放大器在電子設備中扮演著重要的角色，其好壞直接影響到電路的性能。理想運算放大器具有“虛短”和“虛斷”的特性，這些特性對于分析線性運用的運放電路非常有用。然而，在實際應用中，運放往往需要閉環(huán)(負反饋)才能保證線性運用。如果沒有負反饋，開環(huán)放大下的運放將變?yōu)楸容^器，其性能將受到影響。因此，在判斷運算放大器的好壞時，我們需要首先明確它在電路中的具體作用，進而根據(jù)其特性進行分析和測試。

根據(jù)放大器虛短的原理，如果運算放大器工作正常，其同向輸入端和反向輸入端電壓必須相等，或者僅有毫伏級的差異。但在高輸入阻抗電路中，萬用表的內(nèi)阻可能會對電壓測試產(chǎn)生微小影響，但通常不會超過2V。一旦發(fā)現(xiàn)5V以上的電壓差異，便可斷定放大器已損壞。

對于用作比較器的器件，同向輸入端和反向輸入端的電壓不等是允許的。具體來說，當同向電壓高于反向電壓時，輸出電壓將接近正的最大值;而同向電壓低于反向電壓時，輸出電壓則接近0V或負的最大值(取決于雙電源或單電源配置)。任何不符合這一規(guī)則的電壓情況都指示著器件的損壞。

此外，對于貼片元件的檢修，我們可以采用一種簡便方法。取兩枚細小的縫衣針與萬用表筆靠緊，再取一根多股電纜中的細銅線，將其與表筆和縫衣針綁牢并焊錫焊牢。這樣，帶有針尖的表筆便能輕松刺破絕緣涂層，直觸SMT元件的關鍵部位，無需費力刮除薄膜。

在電路板維修中，公共電源短路是一個常見的難題。由于多個器件共用同一電源，每個使用該電源的器件都可能成為短路的嫌疑對象。但通過細致的檢測和分析，我們?nèi)匀荒軌蛘页霾⑿迯凸收显础?

如果電路板上的元件數(shù)量不多，采用“鋤大地”的方法通常能夠找到短路點。然而，當元件數(shù)量眾多時，這種方法的效果就可能大打折扣，更多時候需要依賴運氣。為此，我們推薦一種更為有效的方法：首先，準備一個電壓電流皆可調的電源，其電壓范圍為0-30V，電流范圍為0-3A，這樣的電源價格適中，大約在300元左右。將此電源的開路電壓調整至與電路中的器件電源電壓相當?shù)乃剑缓笾饾u增加電流。在操作過程中，應時刻注意安全，確保電壓不超過器件的工作電壓，并且電源的極性正確，以避免損壞其他正常器件。

當進行到這一步時，你可以用手觸摸電路板上的器件。如果某個器件明顯發(fā)熱，這往往意味著該器件已經(jīng)損壞。此時，你可以將其取下進行進一步測量以確認故障。

此外，工業(yè)控制中經(jīng)常使用的板卡也可能會遇到各種問題。由于工業(yè)現(xiàn)場環(huán)境復雜，多塵、潮濕和腐蝕性氣體等因素可能導致板卡出現(xiàn)接觸不良的故障。在這種情況下，你可以嘗試使用橡皮擦輕輕擦拭板卡上的金手指部分，清除上面的污垢。這樣簡單的操作有時就能解決問題，既經(jīng)濟又實用。

這是最常見的情況

由于長期插拔，連接器或插座的金屬接觸面可能會磨損、氧化，使接觸電阻增大。例如，電腦主機后的插座，在多次插拔插頭后，其內(nèi)部的金屬彈片可能無法緊密夾住插頭的金屬片，這會導致設備供電不穩(wěn)定，出現(xiàn)信號傳輸中斷或產(chǎn)生電火花。

此外，短路也是一個需要關注的問題。當插座內(nèi)部的電極之間或連接器的引腳之間的絕緣材料損壞時，相鄰的導電部分可能接觸，從而形成短路。例如，插座進水或被導電雜物侵入都可能造成短路故障，引發(fā)跳閘并可能損壞與之相連的電器設備。

另外，機械損壞也不容忽視。插座外殼或連接器的殼體可能因外力沖擊而破裂、變形，這不僅影響使用，還可能使內(nèi)部的導電部分暴露，帶來安全隱患。

此外，保險絲和斷路器也可能出現(xiàn)問題。保險絲可能因電路中的瞬時電流沖擊或自身老化而誤熔斷或老化熔斷。同時，保險絲與保險絲座之間的接觸不良也會產(chǎn)生接觸電阻，可能導致提前熔斷或局部過熱。斷路器則可能因電路中的短暫尖峰電流或電磁干擾而誤跳閘或出現(xiàn)不跳閘的情況。

由于斷路器內(nèi)部的機械部件損壞、脫扣機構故障或觸頭熔焊，當電路真正發(fā)生過載或短路時，斷路器可能無法正常跳閘，使故障電路持續(xù)處于危險狀態(tài)，可能損壞電氣設備，甚至引發(fā)火災。此外，斷路器的觸頭長期使用可能出現(xiàn)磨損、氧化，導致接觸不良、發(fā)熱，降低斷路器性能，影響其正常分合閘操作。

除了斷路器，電路中還有其他易故障元件。

例如，二極管在電路中具有單向導電性，常用于整流、穩(wěn)壓、開關等功能，但可能因過電壓、過電流、高溫等因素損壞。在電源電路中，若輸入電壓超過二極管的反向擊穿電壓，可能導致二極管擊穿短路，進而影響電源輸出甚至損壞后續(xù)電路元件。此外，續(xù)流二極管在開關電源、電感負載電路中起續(xù)流作用，一旦故障可能損壞主開關元件。三極管在電路中用于信號放大、開關控制等，可能因過壓、過流、靜電擊穿等原因損壞。

集成電路作為將多個電子元件集成在一起的芯片器件，雖然功能強大但較為脆弱。高溫環(huán)境可能導致集成電路參數(shù)漂移、耐久性下降和內(nèi)部缺陷暴露等不良影響。在一些高性能處理器中，若散熱不良導致溫度過高，處理器可能會自動降頻工作或關閉某些工作單元以避免損壞集成電路。