柵極電荷測(cè)量原理圖解析,十分有料!
在這篇文章中,小編將對(duì)MOS晶體管柵極電荷測(cè)量的相關(guān)內(nèi)容和情況加以介紹以幫助大家增進(jìn)對(duì)它的了解程度,和小編一起來(lái)閱讀以下內(nèi)容吧。
一、柵極電荷
柵極電荷是設(shè)計(jì)柵極驅(qū)動(dòng)電路的關(guān)鍵參數(shù),它描述了啟動(dòng)功率器件所需的電荷總量。
柵極電荷Qg是MOSFET和IGBT等開(kāi)關(guān)器件的一個(gè)重要特性參數(shù),它表示使柵極電壓從0升到特定值(如10V)所需的電荷量。這個(gè)參數(shù)的單位是庫(kù)侖(C)。柵極電荷的大小直接影響開(kāi)關(guān)器件的開(kāi)關(guān)損耗,因?yàn)榭倴艠O電荷值較大時(shí),導(dǎo)通MOSFET所需的電容充電時(shí)間變長(zhǎng),從而導(dǎo)致開(kāi)關(guān)損耗增加。相反,較小的柵極電荷值意味著開(kāi)關(guān)損耗較小,可以實(shí)現(xiàn)更快的開(kāi)關(guān)速度。
在實(shí)際應(yīng)用中,柵極電荷Qg可以通過(guò)測(cè)量柵極充電時(shí)間和相應(yīng)的柵極電壓變化來(lái)計(jì)算。例如,在10V的柵極電壓下,通過(guò)測(cè)量VGS從0V到10V的充電時(shí)間可以計(jì)算出Qg值。此外,Qg值還受到柵源電壓的影響,使用更低的Vgs可以減少開(kāi)關(guān)損耗。
柵極電荷Qg對(duì)開(kāi)關(guān)性能的影響非常大,因?yàn)樗苯雨P(guān)系到MOSFET導(dǎo)通和關(guān)閉的轉(zhuǎn)換時(shí)間,以及每次開(kāi)關(guān)過(guò)程中對(duì)柵極電容充電所需的能量。為了減少開(kāi)關(guān)損耗,新的技術(shù)如溝道厚底氧化已經(jīng)被開(kāi)發(fā)出來(lái),旨在減少柵極電荷。因此,了解和控制柵極電荷是優(yōu)化開(kāi)關(guān)器件性能和效率的關(guān)鍵因素之一。
二、柵極電荷測(cè)量原理圖解析
在柵極電荷測(cè)量方法中,將固定測(cè)試電流(Ig)引入MOS晶體管的柵極,并且測(cè)量的柵極源電壓(Vgs)與流入柵極的電荷相對(duì)應(yīng)。對(duì)漏極端子施加一個(gè)固定的電壓偏置。圖1顯示了功率MOSFET的柵極電壓與柵極電荷的關(guān)系。
柵電荷(Q)由給柵極施加電流和時(shí)間(Igdt)提取得出。柵源電荷(Qgs)是所需要的電荷,如圖1所示,以達(dá)到飽和區(qū)域的開(kāi)始,在那里的電壓(Vgs)幾乎是恒定的。根據(jù)JEDEC標(biāo)準(zhǔn),平臺(tái)(或Miller)電壓(Vpl)定義為dVgs/dt最小時(shí)的柵源電壓。電壓平臺(tái)是當(dāng)晶體管從OFF狀態(tài)切換到ON狀態(tài)時(shí)的區(qū)域。
完成這個(gè)開(kāi)關(guān)所需的柵電荷,即將器件從平臺(tái)區(qū)開(kāi)始切換到結(jié)束所需的電荷,被定義為柵漏電荷(Qgd),稱為米勒電荷。柵電荷(Qg)是指從原點(diǎn)到柵源電壓(Vgs)等于指定最大值(VgsMax)的電荷。
圖1. 功率MOSFET的典型柵電壓與柵電荷
S1是線段從起點(diǎn)到第一個(gè)飽和電壓點(diǎn)的斜率。S2是線段從最后一個(gè)平臺(tái)點(diǎn)到指定的最大柵極電壓(VgsMax)的斜率。根據(jù)JESD24-2標(biāo)準(zhǔn),用坡度計(jì)算Qgs和Qgd。
圖2顯示了典型的柵極和漏極波形作為時(shí)間的函數(shù)。當(dāng)電流被迫進(jìn)入柵極時(shí),Vgs增加,直到達(dá)到閾值電壓。此時(shí),漏極電流(Id)開(kāi)始流動(dòng)。當(dāng)Cgs在t1時(shí)刻充電時(shí),Id保持恒定,漏極電壓(Vd)減小。Vgs一直保持不變,直到它到達(dá)飽和電壓的末端。一旦 Cgd在時(shí)間t2被充電,柵極-源極電壓(Vgs)就會(huì)再次開(kāi)始增加,直到它達(dá)到指定的最大柵極電壓(VgsMax)。
圖2. MOSFET的Vgs 、Vd和Id與時(shí)間關(guān)系的曲線
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