觸控按鍵產(chǎn)品應(yīng)用推陳出新，終端產(chǎn)品朝向智能化趨勢(shì)發(fā)展，市場邁入高速成長階段，合泰半導(dǎo)體(HOLTEK)全新推出資源更豐富、效能更高的5V寬電壓Arm® Cortex®-M0+ 觸控單片機(jī)HT32F542xx系列，型號(hào)為HT32F54231、HT32F54241、HT32F54243、HT32F54253，頻率最高可達(dá)60MHz，提供最多28個(gè)觸控鍵，適合用于智能家電、數(shù)字電子鎖、工業(yè)控制等市場。

此系列單片機(jī)除了帶有更穩(wěn)定及可靠的電容式觸控引擎核心硬件外，同時(shí)具備USART/UART/SPI/I2C等標(biāo)準(zhǔn)通信接口，讓設(shè)計(jì)者易于連接各類傳感器、無線模塊等來擴(kuò)展產(chǎn)品功能，進(jìn)而開發(fā)各類智能型家用電器及物聯(lián)網(wǎng)終端設(shè)備。

HOLTEK新推出32-bit Arm® Cortex®-M0+ 單片機(jī) (合泰)

觸控按鍵感應(yīng)依原理大致可區(qū)分為：電阻式、電感式、電容式、紅外線式、表面聲波式等，目前市場主要以電容式為主。終端應(yīng)用產(chǎn)品除了要實(shí)現(xiàn)觸控功能，同時(shí)做到穩(wěn)定及符合EMC規(guī)范、則是技術(shù)上的挑戰(zhàn)。合泰協(xié)助客戶在觸控按鍵應(yīng)用的開發(fā)初期，先建立正確的測(cè)試程序，避免掉潛在性能問題隨貨銷售而導(dǎo)致客訴，諸如AC供電或各種環(huán)境下遭遇的電源高頻干擾、潮濕、水氣等，都極易造成觸控按鍵誤動(dòng)作或失效現(xiàn)象。

影響觸控穩(wěn)定性的原因及完善的測(cè)試方法：

常見干擾源

常見干擾：電壓波動(dòng)、溫度/濕度變化、電磁干擾(RF天線、對(duì)講機(jī)等)、電源干擾(電機(jī)啟動(dòng)、日光燈啟動(dòng))等，都有可能引起觸控不穩(wěn)定。

完善的測(cè)試

以下測(cè)試方法基本可以營造出一般電子設(shè)備的使用環(huán)境，只要通過這些項(xiàng)目的測(cè)試，設(shè)計(jì)出來的觸控產(chǎn)品都是相對(duì)穩(wěn)定可靠的。

1. 功能測(cè)試：操作觸控按鍵的過程，同時(shí)將工作電壓從高調(diào)到低，再從低調(diào)到高反復(fù)做測(cè)試。

2. 潮濕環(huán)境測(cè)試：利用水蒸氣讓待測(cè)的觸控面板上結(jié)滿露水，或者把觸控面板靠近空調(diào)出風(fēng)口，濕度越高電容值越高，相反地，濕度越低則電容值越低。

3. 溫度測(cè)試：用烘箱或熱風(fēng)加熱，放入冰箱或冰柜制冷測(cè)試，設(shè)備充足的情況下還可以用專業(yè)的溫度箱測(cè)試。

4. 電源干擾測(cè)試：測(cè)試EFT脈沖群抗擾度，標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-4、GB/T 17626.4，測(cè)試射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度：標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-6、GB/T 17626.6。

5. 空間輻射測(cè)試：測(cè)試射頻電磁場輻射抗擾度試驗(yàn)，標(biāo)準(zhǔn)IEC 61000-4-3、GB/T 17626.3，測(cè)試場強(qiáng)在3~10V/m之間。

6. ESD測(cè)試：標(biāo)準(zhǔn)IEC61000-4-2、GB/T 17626.6。

合泰半導(dǎo)體(HOLTEK)自2006年開始研發(fā)設(shè)計(jì)觸控按鍵IC，基于提供客戶全面且專業(yè)的技術(shù)服務(wù)，于2008年成立「優(yōu)方科技」，雙方共同致力于觸控感應(yīng)解決方案的研究與發(fā)展，迄今積累十多年經(jīng)驗(yàn)，每年協(xié)助客戶量產(chǎn)數(shù)量多達(dá)2億臺(tái)。2022年全新推出32-bit HT32F542xx系列的觸控單片機(jī)，期望未來在觸控應(yīng)用市場中，提供客戶從快速導(dǎo)入開發(fā)設(shè)計(jì)、終至成品量產(chǎn)出貨的專業(yè)技術(shù)服務(wù)及完整解決方案。