Advanced Probing Systems, Inc. (APS)美國珀鑠公司宣布任命新總裁和技術總監(jiān)
美國科羅拉多州路易斯維爾市 –Advanced Probing Systems, Inc. (APS)公司2022年3月15日宣布,Jerry Broz博士已經(jīng)加入公司,成為新的總裁和技術總監(jiān)。
Jerry Broz擁有科羅拉多大學博爾德分校的機械工程博士學位,是探測和設備測試界的資深人士。他為APS帶來了超過20年的市場和銷售經(jīng)驗,APS是探針和測試針技術的全球領導者。Jerry Broz博士的技術遠見和創(chuàng)新將是領導APS擴大現(xiàn)有能力和滲透新市場的關鍵。
"2011年7月收購APS的私募股權公司Foundation Investment Partners (FIP)的管理合伙人David Wood說:"在我們技術發(fā)展的這個階段有Jerry Broz加入APS,我們再幸運不過了。他在開發(fā)和商業(yè)化新產(chǎn)品和技術方面的豐富經(jīng)驗將是APS未來幾年的一個關鍵優(yōu)勢"。
"我們很高興Jerry Broz博士加入APS擔任總裁和技術總監(jiān),"APS的首席執(zhí)行官Edward Johnson補充說。"Jerry Broz作為晶圓測試和封裝測試的技術專家的廣泛經(jīng)驗使他有獨特的資格帶領APS上一個新臺階,未來可期。"
"我很高興接受APS總裁和技術總監(jiān)的職位,并重新加入這個成熟的組織,"Broz博士說。"我領導APS的目標將是在過去32年杰出成就的基礎上,與Edward Johnson(首席執(zhí)行官)以及整個FIP團隊合作,努力加強公司的技術力量和捕捉新的發(fā)展機遇?!?
Advanced Probing Systems, Inc. (APS)總部位于美國科羅拉多州路易斯維爾市,是全球領先的探針制造商,其產(chǎn)品用于晶片分類測試、LCD探針測試和LED探針測試、各種納米技術探針應用、醫(yī)療電極、基因組測試的點狀針坯、離子發(fā)射器和各種其他工業(yè)應用。