過零檢測電路有多種實現(xiàn)電路方式,下面列舉幾種工程設計常用的幾種設計方案——一、采用比較器的過零檢測電路通過分壓電阻將交流信號衰減至比較器正端輸入,當交流輸入超過零基準電壓時,過零檢測電路會改變比較器的輸出狀態(tài)。設計注意點:1.比較器輸入電壓范圍及保護電路2.可使用一些遲滯來提高抗干擾能力
二、采用三極管的過零檢測電路通過分壓電阻將交流信號衰減至三極管基極,利用三極管特性進行過零檢測來改變輸出狀態(tài)。設計注意點:1.分壓電阻的取值2.三極管的工作狀態(tài)、溫度特性3.圖2注意交流輸入與參考地的關系
三、采用光耦隔離的過零檢測電路利用二極管導通和光耦隔離特性進行過零檢測來改變輸出狀態(tài)。四、采用ADC采集的過零檢測電路通過分壓電阻將交流信號衰減至ADC輸入端,通過ADC進行電壓采樣來檢測過零點。設計注意點:1.ADC量程及精度的選取2.ADC接口的防護3.ADC的參考地
五、采用帶過零檢測功能的芯片例如:1.Power Integrations的linkswitch-tnz系列,帶過零檢測功能的電源芯片;2.羅姆半導體(ROHM)的過零檢測IC,BM1Z系列
上述僅簡單舉例幾種常見的過零檢測電路,除此之外仍有很多電路可實現(xiàn)該功能檢測,當然在實際工程應用中也會碰到一些細節(jié)問題,例如:硬件電路延時、接口防護、零點丟失、軟件同步等,可留言一同交流思考。
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