隨著半導體產(chǎn)業(yè)環(huán)境持續(xù)變化,業(yè)界亟需一款開放式的標準平臺,以協(xié)助現(xiàn)有的ATE測試降低成本、縮短測試時間并提升產(chǎn)能。美商國家儀器(NI)指出,得益于多核心、PCI Expresss與FPGA等現(xiàn)有技術進展,模塊化PXI架構正進一
日前, LTE方面測試設備的全球領先供應商 Aeroflex 宣布,該公司已將最新 LTE 測試功能添加到了其靈活的模塊化 PXI3000 平臺中。此次最新添加的功能可使生產(chǎn)測試工程師縮短射頻元件及 LTE 用戶設備實現(xiàn)量產(chǎn)的時間。該
NI全新6款切換器模組,適用於高密度矩陣、多工器、一般繼電器,與RF應用。NI PXIe-2527、PXIe-2529、PXIe-2532、PXIe-2569、PXIe-2575,與PXIe-2593切換器,亦均提供PXI版本,並幾乎可搭配任何PXI Express儀器,可提
亞洲最大的數(shù)據(jù)采集與PXI平臺產(chǎn)品供貨商——凌華科技于5月26日在北京參加由美國國家儀器(NI)公司主辦的第六屆PXI技術和應用論壇(PXI TAC 2009)。據(jù)悉,凌華科技作為PXI技術的積極推進者,已是第六次受邀參加此次
亞洲最大的數(shù)據(jù)采集與PXI平臺產(chǎn)品供貨商——凌華科技于5月26日在北京參加由美國國家儀器(NI)公司主辦的第六屆PXI技術和應用論壇(PXI TAC 2009)。據(jù)悉,凌華科技作為PXI技術的積極推進者,已是第六次受邀參加此次
PXI Express將PXI平臺推向新應用領域(圖)