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IC晶圓測(cè)試走揚(yáng) 頎邦相對(duì)強(qiáng)
閻光濤/整理 臺(tái)股盤中逆勢(shì)走升，帶動(dòng)IC測(cè)試和晶圓測(cè)試股表現(xiàn)，幾乎全面翻紅，頎邦明顯走升，臺(tái)星科相對(duì)弱勢(shì)。 據(jù)中央社1日?qǐng)?bào)導(dǎo)：LCD驅(qū)動(dòng)晶片封測(cè)廠頎邦開盤明顯走揚(yáng)，漲幅一度超過4%，股價(jià)來到28元附近，成交
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河洛IC測(cè)試機(jī)提升邏輯與混合訊號(hào)IC測(cè)試效率
河洛半導(dǎo)體(Hi-Lo Systems)發(fā)表針對(duì)邏輯或混合訊號(hào)IC測(cè)試需求而設(shè)計(jì)的 HV-256 IC測(cè)試機(jī)，可透過 USB 2.0 和 PC 連結(jié)，在優(yōu)異的測(cè)試軟體環(huán)境ITE (Integrated Test Environment)下，提供工程開發(fā)、量產(chǎn)測(cè)試失敗分析及良
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久元 投資中國(guó)巨豐半導(dǎo)體
LED挑檢及IC測(cè)試大廠久元（6261）透過轉(zhuǎn)投資第三地之境外公司間接投資中國(guó)巨豐半導(dǎo)體，正式跨入IC后段封裝領(lǐng)域。久元表示，此次董事會(huì)通過投資金額約1,467萬(wàn)美元，未來將持有該公司6成股權(quán)，并結(jié)合久元舊有IC測(cè)試的實(shí)
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IC晶圓測(cè)試訂單 強(qiáng)者恒強(qiáng)
張達(dá)智/整理 目前晶圓測(cè)試和IC測(cè)試訂單似乎出現(xiàn)「強(qiáng)者恒強(qiáng)、弱者恒弱」的極端現(xiàn)象，法人表示整體看來晶片商對(duì)第4季景氣保守看待，大家預(yù)估錢賺少不代表下單有明顯差異。 中央社17日?qǐng)?bào)導(dǎo)，業(yè)者表示，目前晶片
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IC測(cè)試營(yíng)收弱 久元Q3不佳
張達(dá)智/整理 由于半導(dǎo)體測(cè)試營(yíng)收平淡，加上設(shè)備銷售部份明顯下滑，IC測(cè)試和設(shè)備銷售商久元電子(6261)第3季營(yíng)收表現(xiàn)不佳，季減幅度超過16%。 中央社11日?qǐng)?bào)導(dǎo)，久元日前公布自結(jié)9月營(yíng)收新臺(tái)幣1.96億元，比8月營(yíng)
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京元電 下季業(yè)績(jī)保守看
專業(yè)IC測(cè)試廠京元電（2449）總經(jīng)理梁明成昨（6）日表示，盡管半導(dǎo)體庫(kù)存修正已近尾聲，但目前仍未見圣誕節(jié)的備貨需求，將影響第四季營(yíng)收表現(xiàn)；他保守看待下半年半導(dǎo)體景氣。 他說，值得慶幸的是，日本整合元件大廠
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立足電源IC測(cè)試 思達(dá)提供高效能符合成本效益測(cè)試平臺(tái)
經(jīng)營(yíng)半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)、儀器、軟體、探針卡(Probe Card)，及測(cè)試周邊產(chǎn)品多年的思達(dá)科技，成立至今已經(jīng)超過10年以上，是亞洲第1家半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試的專業(yè)設(shè)備商。近年來除了專注于前、后端測(cè)試探針卡的研發(fā)與制造外，并積
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著眼大陸商機(jī) 臺(tái)系中小型封測(cè)廠啟動(dòng)在地購(gòu)并
李洵穎／臺(tái)北 近期半導(dǎo)體景氣疲軟，臺(tái)廠中小IC封測(cè)廠有志一同看好大陸當(dāng)?shù)厣虣C(jī)，出手購(gòu)并大陸本土同業(yè)，以拓展當(dāng)?shù)貥I(yè)務(wù)。繼第2季記憶體測(cè)試廠泰林取得宏茂微電子(上海)經(jīng)營(yíng)權(quán)后，IC測(cè)試廠久元電子也買下當(dāng)?shù)氐腎C測(cè)試
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晶圓測(cè)試
李洵穎 晶圓測(cè)試服務(wù)主要功能，系在于IC封裝前檢查及測(cè)試晶圓的缺陷。晶圓針測(cè)是對(duì)于出廠的晶圓進(jìn)行檢測(cè)，以篩選出良品與不良品的制造過程。檢測(cè)的結(jié)果為晶片封裝的重要依據(jù)，并可作為前段晶圓制程良率檢討的參考與佐
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惠瑞捷可擴(kuò)展測(cè)試機(jī)臺(tái)系列 降低新一代IC測(cè)試成本
Advantest 集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展、高性價(jià)比的測(cè)試機(jī)臺(tái)系列，可用來測(cè)試28 納米及更小尺寸工藝和 3D 架構(gòu)的芯片。Smart Scale 系列是具備先進(jìn)通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測(cè)試機(jī)臺(tái)，與惠瑞捷久經(jīng)大
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京元電 大盤拖累 尋求年線支撐
京元電（2449）股價(jià)近期跌破多條均線支撐，上周五股價(jià)以下跌2.17％收市，收盤價(jià)15.8元，周線較前一周下滑4.24％左右。 IC測(cè)試廠京元電5月營(yíng)收回升，達(dá)9.5億元，雖然還是在10億元以下，不過已較4月9.1億元增加4.26
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臺(tái)IC產(chǎn)值Q2預(yù)估季增6.9%
臺(tái)灣半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)協(xié)會(huì)（TSIA）指出，第1季臺(tái)灣IC產(chǎn)值為新臺(tái)幣3979億元，季減6.8%；預(yù)期第2季可望攀高至4253億元，將季增6.9%。根據(jù)TSIA調(diào)查，第1季臺(tái)灣包括IC制造、IC設(shè)計(jì)、IC封裝及IC測(cè)試業(yè)產(chǎn)值全面較去年第4季滑落；
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IC測(cè)試泰林斥11.5億元買下上海宏茂微電子 跨足封裝領(lǐng)域
記憶體測(cè)試廠泰林(5466-TW)今(22)日宣布，將斥資3995萬(wàn)美元(約新臺(tái)幣11.5億元)向百慕達(dá)南茂公司購(gòu)買其與Modern Mind Technology(簡(jiǎn)稱Modern Mind)簽定之合約上的債權(quán)，以承受Modern Mind對(duì)其100%持有之宏茂微電子公司
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久元 Q2業(yè)績(jī)將創(chuàng)新高
久元電子（6261）昨（12）日法說會(huì)中樂觀表示，今年最具成長(zhǎng)爆發(fā)力的AOI（自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)）將較去年成長(zhǎng)40％至50％，其中被動(dòng)元件將較去年30臺(tái)成長(zhǎng)1倍以上，LED今年也將成長(zhǎng)近1倍，另一主力IC測(cè)試今年也將成長(zhǎng)2
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加快發(fā)展IC測(cè)試設(shè)備
諸玲珍 前一段在業(yè)內(nèi)傳得沸沸揚(yáng)揚(yáng)的集成電路測(cè)試設(shè)備大廠愛德萬(wàn)(Advantest)收購(gòu)惠瑞捷(Verigy)一案近日終于塵埃落定。Verigy高層已于本月21日向Advantest表示同意其所提收購(gòu)案的想法，Advantest將以每股15美元的價(jià)格
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巨有與致茂合作 突破IC測(cè)試技術(shù)瓶頸
巨有科技（PGC）近日宣布，己與致茂電子（Chroma）展開緊密合作。巨有選購(gòu)致茂的Chroma 3650平臺(tái)，以提供其消費(fèi)型電子產(chǎn)品及其他裝置的工程測(cè)試使用。Chroma 3650配備完整的測(cè)試模組，如邏輯模組、ADC/DAC模組、ALPG
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精密測(cè)試插座為您的芯片保駕護(hù)航
關(guān)鍵字： 測(cè)試插座 IC測(cè)試 二月的深圳，花紅草綠，鶯歌燕舞。IIC 2011在深圳會(huì)展中心隆重開幕，來自國(guó)內(nèi)外半導(dǎo)體廠商匯聚一堂，熱鬧非
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蔚華科推電源管理IC測(cè)試設(shè)備，刺激銷售動(dòng)能
半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備廠蔚華科(3055)今日在新竹與策略夥伴L(zhǎng)TX-Credence Corporation (NASDAQ: LTXC)舉行新款的電源管理IC測(cè)試設(shè)備ASLx的發(fā)表暨應(yīng)用研討會(huì)。蔚華科表示，該款新產(chǎn)品不僅提供更有效率的測(cè)試服務(wù)，透過技術(shù)升級(jí)
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IC測(cè)試趨向整合 本土廠商期待作為
“從目前看，國(guó)外IC測(cè)試設(shè)備廠商之間的并購(gòu)，對(duì)國(guó)內(nèi)用戶來說不是好消息，設(shè)備過分集中在大公司手中，會(huì)使我們采購(gòu)設(shè)備價(jià)格的談判余地更小。”這是中國(guó)電子標(biāo)準(zhǔn)化研究所副總工程師、集成電路測(cè)試驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室
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IC測(cè)試趨向整合 本土廠商期待作為
“從目前看，國(guó)外IC測(cè)試設(shè)備廠商之間的并購(gòu)，對(duì)國(guó)內(nèi)用戶來說不是好消息，設(shè)備過分集中在大公司手中，會(huì)使我們采購(gòu)設(shè)備價(jià)格的談判余地更小?！边@是中國(guó)電子標(biāo)準(zhǔn)化研究所副總工程師、集成電路測(cè)試驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室主任陳大為
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