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Verigy 93000中直流參數(shù)的并行測(cè)試方法
1 引言 在當(dāng)前SoC 快速發(fā)展及半導(dǎo)體行業(yè)激烈競(jìng)爭(zhēng)的階段，提高測(cè)試效率、降低測(cè)試成本，是從業(yè)者需要思考和解決的課題。 Verigy 93000 是單一平臺(tái)的可升級(jí)測(cè)試系統(tǒng)，它是滿足SoC 技術(shù)全面集
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32 Gbps 高速SerDes 量產(chǎn)測(cè)試方案
作者：曹旭榮，方延奮，王業(yè)清 (愛德萬測(cè)試（中國(guó)）管理有限公司)摘要：隨著SerDes芯片集成度，復(fù)雜度，傳輸速率的不斷提高，傳統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)無法滿足SerDes測(cè)試速率需求。為解決該測(cè)試難題，
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