1 引言 在當(dāng)前SoC 快速發(fā)展及半導(dǎo)體行業(yè)激烈競(jìng)爭(zhēng)的階段,提高測(cè)試效率、降低測(cè)試成本,是從業(yè)者需要思考和解決的課題。 Verigy 93000 是單一平臺(tái)的可升級(jí)測(cè)試系統(tǒng),它是滿足SoC 技術(shù)全面集
作者:曹旭榮,方延奮,王業(yè)清 (愛德萬測(cè)試(中國(guó))管理有限公司)摘要:隨著SerDes芯片集成度,復(fù)雜度,傳輸速率的不斷提高,傳統(tǒng)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)已經(jīng)無法滿足SerDes測(cè)試速率需求。為解決該測(cè)試難題,