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MRI信號鏈優(yōu)化：高速ADC與抗干擾磁屏蔽設(shè)計
磁共振成像（MRI）作為醫(yī)學(xué)影像技術(shù)的核心工具，其信號鏈的穩(wěn)定性直接決定了圖像的分辨率與診斷準(zhǔn)確性。隨著3T以上超導(dǎo)磁體的普及，信號頻率范圍擴展至123MHz-300MHz，傳統(tǒng)ADC（模數(shù)轉(zhuǎn)換器）架構(gòu)面臨帶寬不足、信噪比劣化等挑戰(zhàn)。本文聚焦高速ADC與磁屏蔽技術(shù)的協(xié)同優(yōu)化，提出一種基于FPGA的實時抗干擾方案，并通過仿真驗證其有效性。
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設(shè)計高速ADC的時需要考慮的要點
在設(shè)計高速模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器(ADCS)時的許多討論中,ADC采樣時鐘的影響對滿足特定的設(shè)計要求至關(guān)重要。對于ADC的采樣時鐘,有幾個指標(biāo)可以理解,因為這些指標(biāo)將直接影響ADC的性能,特別是信噪比。
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高速ADC電源設(shè)計的測試測量方法
高速ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)在現(xiàn)代電子系統(tǒng)中扮演著至關(guān)重要的角色，尤其在高速信號采集和數(shù)字化方面。為了確保高速ADC的性能達到最優(yōu)，電源設(shè)計及其測試測量方法顯得尤為重要。
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如何選擇高速ADC?高速ADC有哪些應(yīng)用?
ADC是生活中的重要器件，采用ADC，能幫助我們改善一些設(shè)備等的性能。上篇文章中，小編對ADC偽差分輸入等內(nèi)容有所介紹。為增進大家對ADC的認識，本文將對高速ADC的選擇以及應(yīng)用予以解讀。
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JESD204B概述
一、JESD204B概述1、JED204B是什么？一種新型的基于高速SERDES的ADC/DAC數(shù)據(jù)傳輸接口。ADC/DAC的采樣速率變得越來越高，數(shù)據(jù)的吞吐量越來越大，對于500MSPS以上的ADC
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高速ADC時鐘jitter對信噪比和有效位數(shù)的影響
高速ADC時鐘jitter求解??? 高速ADC的時鐘jitter會影響高速ADC的信噪比SNR，而信噪比決定了模擬前端輸入的有效范圍。所以需要先確定模擬前端的有效輸入范圍，然后確定應(yīng)該滿足的SNR，
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為高速ADC選擇最佳的緩沖放大器
現(xiàn)代通信系統(tǒng)創(chuàng)新設(shè)計主要表現(xiàn)在直接變頻和高中頻架構(gòu)，全數(shù)字接收機的設(shè)計目標(biāo)要求模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)以更高的采樣率提供更高的分辨率(擴大系統(tǒng)的動態(tài)范圍)。在新興的3G和4G數(shù)
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基于高速ADC的脈沖測量
采用脈沖信號的產(chǎn)品方陣不斷增長，包括當(dāng)前能效更高的IC、開關(guān)電源和逆變器，乃至LED模塊和子組件；相應(yīng)的，對于這些最終產(chǎn)品而言，其分立的組成部件在脈沖條件下的測量變得極為重要。僅具備DC源輸出能
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測量高速ADC的INL和DNL
廠商推出了具有出色的靜態(tài)和動態(tài)特性的高性能模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)。你或許會問，“他們是如何測量這些性能的，采用什么設(shè)備?”。下面的討論將聚焦于有關(guān)ADC兩個重要的精度參數(shù)的測量技術(shù)：積分非
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用差分放大器來驅(qū)動高速ADC
當(dāng)今的世界是一個充斥著海量數(shù)據(jù)的世界。人們的生活從中獲益頗多，但系統(tǒng)設(shè)計者面臨的壓力卻日益增大，為模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）挑選合適的驅(qū)動器就是一個重要課題。作為聯(lián)系
