在新能源汽車電控系統(tǒng)、5G基站等高可靠性電子設(shè)備中,一根直徑僅1-3微米、長度可達(dá)毫米級的錫須,可能引發(fā)短路、電弧放電甚至設(shè)備燒毀。這種由純錫鍍層自發(fā)生長的金屬單晶,已成為制約電子產(chǎn)品壽命的核心隱患。本文將深度解析錫須檢測的國際標(biāo)準(zhǔn)體系與判定邏輯,揭示如何通過科學(xué)檢測筑牢電子可靠性防線。
在新能源汽車電控系統(tǒng)、5G基站等高可靠性電子設(shè)備中,PCBA(印刷電路板組件)的失效模式呈現(xiàn)復(fù)合化特征。某頭部車企曾因電控板電遷移引發(fā)批量性短路,導(dǎo)致車輛召回?fù)p失超2億元;某通信設(shè)備廠商的5G基站因枝晶生長導(dǎo)致信號中斷,單站年維護(hù)成本增加15萬元。這些案例揭示,電遷移、枝晶、錫須與腐蝕并非孤立現(xiàn)象,而是相互關(guān)聯(lián)的失效鏈。本文通過典型案例解析,揭示清洗工藝在阻斷失效鏈中的核心作用。