摘要:復(fù)雜設(shè)備小子樣、長壽命、整機試驗昂貴的特點使得其可靠性試驗難度加大,傳統(tǒng)的可靠性試驗方案已經(jīng)無法滿足此類設(shè)備的試驗需求。鑒于此,提出在對復(fù)雜設(shè)備的可靠性特征進行分析的基礎(chǔ)上,按照材料一零部件一整機的順序依次進行試驗,既能實現(xiàn)判斷設(shè)備可靠性水平是否達到規(guī)定要求的目的,又能縮短試驗周期,降低試驗成本。
PI高度集成高壓IC,讓電動工具及自行車充電設(shè)備更環(huán)保、安全與高效
開拓者FPGA開發(fā)板教程100講(上)
IT002國家為什么要重點發(fā)展區(qū)塊鏈技術(shù)
C 語言靈魂 指針 黃金十一講 之(4)
6層 HDTV-Player PADS_Layout 設(shè)計實戰(zhàn)視頻教程
內(nèi)容不相關(guān) 內(nèi)容錯誤 其它
本站介紹 | 申請友情鏈接 | 歡迎投稿 | 隱私聲明 | 廣告業(yè)務(wù) | 網(wǎng)站地圖 | 聯(lián)系我們 | 誠聘英才
ICP許可證號:京ICP證070360號 21ic電子網(wǎng) 2000- 版權(quán)所有 用戶舉報窗口( 郵箱:macysun@21ic.com )
京公網(wǎng)安備 11010802024343號