21ic訊 泰克公司日前宣布推出針對最新移動高清連接 (MHL) 一致性測試規(guī)范 (CTS) 2.0的自動測試解決方案,支持對發(fā)射器 (Tx)、接收器 (Rx) 和dongle 進行物理 (PHY) 層及協(xié)議層的測試。該解決方案提供了獨特一體化的
這種網絡自動測試器,可方便地檢測網絡線的連通情況的連接線序,具有一定的實用價值,最適合初學者自制。電路工作原理見下圖所示。用NE555型電路制作成頻率約f=1Hz的對稱方波,由3腳輸出至十進制計數/分頻器的IC2、I
安捷倫科技公司日前宣布,將在 2012 年自動測試會議(AUTOTESTCON 2012)上展出其最近發(fā)布的多種 ATE 儀器和軟件。該會議將于 9 月 11 日至 13 日在加州阿納海姆迪斯尼樂園度假酒店(Disneyland Resort in Anaheim,
安捷倫科技公司日前宣布,將在 2012 年自動測試會議(AUTOTESTCON 2012)上展出其最近發(fā)布的多種 ATE 儀器和軟件。該會議將于 9 月 11 日至 13 日在加州阿納海姆迪斯尼樂園度假酒店(Disneyland Resort in Anaheim,
21ic訊 安捷倫科技公司日前宣布,將在 2012 年自動測試會議(AUTOTESTCON 2012)上展出其最近發(fā)布的多種 ATE 儀器和軟件。該會議將于 9 月 11 日至 13 日在加州阿納海姆迪斯尼樂園度假酒店(Disneyland Resort in Ana
摘要:為滿足現代越來越復雜的電子裝備的測試需求,結合測試儀器接口多元化的發(fā)展,提出了將VXI、GPIB、1394集成于一體的多總線自動化測試系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)采用具有高傳輸速率的VXI與1394總線,提高了電路板功能測試
ASIC設計的平均門數不斷增加,這迫使設計團隊將20%到50%的開發(fā)工作花費在與測試相關的問題上,以達到良好的測試覆蓋率。盡管遵循可測試設計(DFT)規(guī)則被認為是好做法,但對嵌入式RAM、多時鐘域、復位線和嵌入式IP的測
杭州中為光電技術有限公司技術總監(jiān)周銘分析了國內LED封裝生產企業(yè)對自動測試與分揀設備的需求情況及標準化現狀,介紹LED自動測試與分揀設備實現高速高精度的關鍵問題,以及LED測試與分揀設備工作原理、目前的技術狀況
杭州中為光電技術有限公司技術總監(jiān)周銘分析了國內LED封裝生產企業(yè)對自動測試與分揀設備的需求情況及標準化現狀,介紹LED自動測試與分揀設備實現高速高精度的關鍵問題,以及LED測試與分揀設備工作原理、目前的技術狀況
中國通訊產業(yè)的高速增長促進了通訊制造業(yè)的測試技術水平不斷改進和發(fā)展。在通訊設備的制造過程中,越來越復雜的測試條件和高度自動化的大生產環(huán)境,迫切需要開發(fā)出功能更強大、成本更低廉、系統(tǒng)更靈活的通用測試儀器
傳統(tǒng)自動測試系統(tǒng)缺乏通用性,最根本的解決方法是標準化。本文以ABBET(A BroadBased Environment for Test)標準為主,與ATS(Automatic Test System)相關的其他國際標準為輔,采用符合標準描述的軟件層次結構,使用C
中國北京,2012年3月13日 –全球示波器市場的領導廠商---泰克公司日前宣布,推出針對最新移動高清連接(MHL™)一致性測試規(guī)范(CTS)1.2的自動測試解決方案,支持對發(fā)射機、接收機和轉換器(dongle)進行
關鍵字:LabVIEW、多核技術 FPGA技術編輯筆記:Eric Starkloff,美國國家儀器的模塊化儀器和儀器控制產品營銷總監(jiān)。他將和我們一起討論影響儀器技術和自動測試的一些變化,以及NI的LabVIEW,多核處理器技術和現場可編
21ic訊 泰克公司日前宣布,推出用于SFF-8431、SFP+ PHY和SFP+直連電纜規(guī)范“10GSFP+CU”測量的首款完善的自動測試和調試解決方案,可顯著減少測試時間,并大大提高設計工程師和技術人員的生產力。用于DPO/
2010年8月26日,世界著名集成電路測試設備公司日本愛德萬(ADVANTEST)公司董事長丸山利雄一行三人到北京自動測試技術研究所訪問,所長張東、總工程師馮建科給予了熱情的接待。 張東所長向來訪人員介紹了測試所目前
據了解,LED芯片測試和分選技術,是繼LED芯片和外延片后,困擾我國LED行業(yè)的另一個重大技術難題。不過,日前已被志成華科率先突破。并成功研發(fā)設計了LED芯片自動測試與分選設備,正醞釀開展產業(yè)化。據悉目前,志成華
據了解,LED芯片測試和分選技術,是繼LED芯片和外延片后,困擾我國LED行業(yè)的另一個重大技術難題。不過,日前已被志成華科率先突破。并成功研發(fā)設計了LED芯片自動測試與分選設備,正醞釀開展產業(yè)化。據悉目前,志成華
ASIC設計的平均門數不斷增加,這迫使設計團隊將20%到50%的開發(fā)工作花費在與測試相關的問題上,以達到良好的測試覆蓋率。盡管遵循可測試設計(DFT)規(guī)則被認為是好做法,但對嵌入式RAM、多時鐘域、復位線和嵌入式IP的測
隨著IT產業(yè)和通信技術、電子技術、計算機技術的高速發(fā)展,大量的生產裝備和產品的電子化、數字化、自動化、智能化的程度越來越高,與之配套的電子測量設備必須適應這種形勢。因此,綜合測量技術、電子技術、自動化技
摘要:針對國內某型號直升機自動測試系統(tǒng)的實際應用需求,設計了基于TMS320F2812的可配置參數的實時數據采集及濾波模塊。模塊能夠對實時數據進行FIR濾波、FFT頻譜分析,實現CAN通訊。在介紹硬件系統(tǒng)的基礎上,研究了