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無(wú)線智能疲勞監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的研制與實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證
摘要：疲勞監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)以其對(duì)于判定結(jié)構(gòu)安全狀況的重要作用而引起業(yè)內(nèi)專(zhuān)家的廣泛關(guān)注。因此，文中設(shè)計(jì)了一種基于無(wú)線傳感技術(shù)的智能疲勞監(jiān)測(cè)系統(tǒng)，該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)無(wú)線低頻檢測(cè)，以判定結(jié)構(gòu)的疲勞損傷，進(jìn)而識(shí)別結(jié)構(gòu)的安全狀況。文章同時(shí)提出了系統(tǒng)的總體架構(gòu)并確定了核心算法，完成了智能無(wú)線疲勞監(jiān)測(cè)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，并通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證了該系統(tǒng)的可行性。結(jié)果表明：該無(wú)線智能疲勞監(jiān)測(cè)系統(tǒng)無(wú)需布線、安裝方便，具有良好的工程適用性，在低頻結(jié)構(gòu)的疲勞監(jiān)測(cè)中具有很好的應(yīng)用前景。
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考試成績(jī)總不好?研究發(fā)現(xiàn)學(xué)生成績(jī)與他們的睡眠習(xí)慣密切相關(guān)
10月1日，麻省理工大腦與認(rèn)知科學(xué)系研究人員在《自然》合作刊物《學(xué)習(xí)科學(xué)》上發(fā)表論文稱，大學(xué)生的睡眠質(zhì)量、時(shí)間以及睡眠習(xí)慣的持續(xù)性與學(xué)習(xí)成績(jī)成正相關(guān)。 眾所周知，睡眠對(duì)于鞏固記憶至關(guān)重要的人體神經(jīng)元突
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基于FPGA技術(shù)高頻疲勞試驗(yàn)機(jī)控制器的設(shè)計(jì)
1簡(jiǎn)介 現(xiàn)場(chǎng)可編程門(mén)陣列FPGA(FieldProgrammable Gate Array)是美國(guó)Xilinx公司于1984年首先開(kāi)發(fā)的一種通用型用戶可編程器件。FPGA既具有門(mén)陣列器件的高集成度和通用性，又有可編程邏輯器件用戶可編程的靈活性。 FPGA由
小軒窗
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