在電子工程領(lǐng)域,高速運(yùn)算放大器(簡(jiǎn)稱高速運(yùn)放)廣泛應(yīng)用于信號(hào)處理、通信、測(cè)量?jī)x器等領(lǐng)域。然而,在實(shí)際電路板測(cè)試中,高速運(yùn)放有時(shí)會(huì)出現(xiàn)振蕩現(xiàn)象,這不僅影響電路的性能,還可能損壞電路元件。本文旨在深入探討高速運(yùn)放在電路板測(cè)試中產(chǎn)生振蕩的原因,并提出相應(yīng)的解決方案。
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