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消除測(cè)試設(shè)備對(duì)射頻器件測(cè)量影響
提高精度已成為最早期矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）測(cè)量的目標(biāo)。通過校準(zhǔn)和矢量誤差校正技術(shù)，可以將VNA精度從儀器端口擴(kuò)展到測(cè)試電纜的端點(diǎn)。當(dāng)待測(cè)器件（DUT）直接連接到測(cè)試端口電纜時(shí)，校準(zhǔn)面和測(cè)量面是同
提高精度已成為最早期矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）測(cè)量的目標(biāo)。通過校準(zhǔn)和矢量誤差校正技術(shù)，可以將VNA精度從儀器端口擴(kuò)展到測(cè)試電纜的端點(diǎn)。當(dāng)待測(cè)器件（DUT）直接連接到測(cè)試端口電纜時(shí)，校準(zhǔn)面和測(cè)量面是同
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