基于CMOS電路的IDDQ測(cè)試電路設(shè)計(jì)

引言　　測(cè)試CMOS電路的方法有很多種，測(cè)試邏輯故障的一般方法是采用邏輯響應(yīng)測(cè)試，即通常所說的功能測(cè)試。功能測(cè)試可診斷出邏輯錯(cuò)誤，但不能檢查出晶體管常開故障、晶體管常閉故障、晶體管柵氧化層短路，互連橋短路

On Semi NCV7341 CAN收發(fā)應(yīng)用方案

On Semi 公司的NCV7341是CAN收發(fā)器,是CAN協(xié)議控制器和物理總線間接口,用于12V和24V系統(tǒng). NCV7341對(duì)總線提供不同的傳輸功能和對(duì)CAN控制器提供不同的接收能力.單電源去掉后, NCV7341具有理想的無源特性,完全和ISO 1189

基于CMOS電路的IDDQ測(cè)試電路設(shè)計(jì)

引言　　測(cè)試CMOS電路的方法有很多種，測(cè)試邏輯故障的一般方法是采用邏輯響應(yīng)測(cè)試，即通常所說的功能測(cè)試。功能測(cè)試可診斷出邏輯錯(cuò)誤，但不能檢查出晶體管常開故障、晶體管常閉故障、晶體管柵氧化層短路，互連橋短路

用JTAG邊界掃描測(cè)試電路板、BGA和互連

當(dāng)?shù)谝慌娐钒鍢影宸旁谟布こ處熥烂娴臅r(shí)候，在測(cè)試時(shí)他會(huì)感到非常困擾。工程師耗費(fèi)幾個(gè)星期的時(shí)間設(shè)計(jì)電路圖和布板，現(xiàn)在電路板做出來了，上面也安裝好了元器件并拿在手上，現(xiàn)在必須確定它能否工作。工程師插上板

用JTAG邊界掃描測(cè)試電路板、BGA和互連

當(dāng)?shù)谝慌娐钒鍢影宸旁谟布こ處熥烂娴臅r(shí)候，在測(cè)試時(shí)他會(huì)感到非常困擾。工程師耗費(fèi)幾個(gè)星期的時(shí)間設(shè)計(jì)電路圖和布板，現(xiàn)在電路板做出來了，上面也安裝好了元器件并拿在手上，現(xiàn)在必須確定它能否工作。工程師插上板

用TDA8350Q構(gòu)成的測(cè)試電路圖

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指針式電容測(cè)試電路

多功能晶體管測(cè)試電路

半導(dǎo)體元器件耐壓測(cè)試電路

基于PlCl6LF874單片機(jī)的電容測(cè)試電路方案設(shè)計(jì)

本文用到美國(guó) Micmchip公司PICl6LF874單片機(jī)，該單片機(jī)采用RISC精簡(jiǎn)指令集、哈佛總線結(jié)構(gòu)、流水線指令方式，具有抗干擾能力強(qiáng)、功耗低、高性能、價(jià)格低等特性。 　　1 PICl6LF874單片機(jī)　　PICl6系列單片機(jī)采用精簡(jiǎn)指

具有自動(dòng)收發(fā)轉(zhuǎn)換的RS-485接口電路及其測(cè)試電路

圖l所示的虛線框中為接口電路，通過對(duì)真值表進(jìn)行分析，其發(fā)送和接收過程為：當(dāng)發(fā)送端DI=O時(shí)，DE/RE=1發(fā)送O電平，接收端RO=O；當(dāng)發(fā)送端DI=1時(shí)，DE/RE=0，VA=VB=2.5V，接收端由于上拉電阻的作用RO=1。在此接口電路的TX

CMOS電路IDDQ測(cè)試電路設(shè)計(jì)

引言　　測(cè)試CMOS電路的方法有很多種，測(cè)試邏輯故障的一般方法是采用邏輯響應(yīng)測(cè)試，即通常所說的功能測(cè)試。功能測(cè)試可診斷出邏輯錯(cuò)誤，但不能檢查出晶體管常開故障、晶體管常閉故障、晶體管柵氧化層短路，互連橋短路

采用單片集成電路的電阻測(cè)試電路

二極管測(cè)試電路電路圖

新中興GDH電動(dòng)機(jī)保護(hù)器測(cè)試電路

測(cè)試電路

抗瞬變干擾測(cè)試電路

開關(guān)特性測(cè)試電路

開關(guān)測(cè)試電路

測(cè)試電路