www.久久久久|狼友网站av天堂|精品国产无码a片|一级av色欲av|91在线播放视频|亚洲无码主播在线|国产精品草久在线|明星AV网站在线|污污内射久久一区|婷婷综合视频网站

晶圓(Wafer)測試

我要報(bào)錯(cuò)
  • 半導(dǎo)體廠商如何做芯片的出廠測試?

    芯片測試分兩個(gè)階段,一個(gè)是CP(Chip Probing)測試,也就是晶圓(Wafer)測試。另外一個(gè)是FT(Final Test)測試,也就是把芯片封裝好再進(jìn)行的測試。CP測試的目的就是在封裝前就把壞的芯片篩選出來,以節(jié)省封裝的成本。同時(shí)可以更直接的知道Wafer 的良率。CP測試可檢查fab廠制造的工藝水平?,F(xiàn)在對于一般的wafer成熟工藝,很多公司多把CP給省了,以減少CP測試成本。具體做不做CP測試,就是封裝成本和CP測試成本綜合考量的結(jié)果。