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利用大功率數(shù)字源表構(gòu)建多源測量單元（SMU）系統(tǒng)-連載六
進(jìn)行布線和夾具設(shè)計(jì)時(shí)，考慮系統(tǒng)安全性也很重要。為了確定操作人員以及儀器會(huì)遇到什么危險(xiǎn)，要對各種故障情況進(jìn)行思考，包括因操作人員失誤以及因器件狀態(tài)變化而帶來的故障。大電流測試的潛在危險(xiǎn)之一是火災(zāi)或或燒傷
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利用大功率數(shù)字源表構(gòu)建多源測量單元（SMU）系統(tǒng)-連載七
一旦系統(tǒng)建立完畢，就要對其功能進(jìn)行測試，并優(yōu)化儀器建立，以獲得最佳測量。對于開啟狀態(tài)特性分析在當(dāng)今進(jìn)行的大部分開啟狀態(tài)特性分析中，為了實(shí)現(xiàn)最小熱量，都對器件施加脈沖信號(hào)。此外，許多功率半導(dǎo)體器件的最終
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C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——基于數(shù)字源表的準(zhǔn)靜態(tài)電容測
在準(zhǔn)靜態(tài)電容測量[1]中，我們通過測量電流和電荷來計(jì)算電容值。這種“斜率”方法使用簡單，但是它的頻率范圍有限（1～10Hz），因而只能用于一些特殊情況下。 SMU1-力常數(shù)SMU2-測量
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利用大功率數(shù)字源表構(gòu)建多源測量單元（SMU）系統(tǒng)-連載五
在測試系統(tǒng)問題中，被誤解最多的就是接地。這里，“接地”定義為到接地端的連接。不過，許多人往往使用“接地”一詞表示測試電路中源測量單元（SMU）的基準(zhǔn)點(diǎn)。在本應(yīng)用筆記中，這個(gè)基準(zhǔn)點(diǎn)被稱作
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專為緊密耦合源和測量的低壓測試設(shè)計(jì)的2401低壓數(shù)字源表
2401低壓數(shù)字源表是吉時(shí)利2400系列數(shù)字源表家族的新成員，專為需要緊密耦合源和測量的低壓測試應(yīng)用設(shè)計(jì)。2401數(shù)字源表是市面上價(jià)格最實(shí)惠的精密SMU儀器并提供了用獨(dú)立可編程電源和數(shù)字萬用表實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)和測試臺(tái)配置的一
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利用大功率數(shù)字源表構(gòu)建多源測量單元（SMU）系統(tǒng)-連載四
確保測試期間使用的電纜符合測試系統(tǒng)最大電壓額定值。在功率器件關(guān)閉狀態(tài)特性分析期間經(jīng)常遇到高壓、低電流測試，要使用能夠?qū)崿F(xiàn)這類測試所需性能的電纜。在高壓測試時(shí)，要保證充分絕緣，并使漏電流和系統(tǒng)電容帶來的
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利用大功率數(shù)字源表構(gòu)建多源測量單元（SMU）系統(tǒng)-連載二
確定器件接口過去，大多數(shù)功率半導(dǎo)體制造商為了測試不得不對器件進(jìn)行封裝，因?yàn)楫?dāng)時(shí)對晶片上器件施加數(shù)十或數(shù)千伏電壓的技術(shù)尚未廣泛使用。商用探測器解決方案的應(yīng)用使得諸多制造商可以對晶片上器件進(jìn)行測試，從而降
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2401數(shù)字源表與吉時(shí)利其它數(shù)字源表的共性
觸發(fā)鏈路接口所有數(shù)字源表都包含吉時(shí)利獨(dú)有的觸發(fā)鏈路接口，以實(shí)現(xiàn)與吉時(shí)利許多其它儀器的高速、無縫通信。例如，使用觸發(fā)鏈路接口連接數(shù)字源表與7000系列開關(guān)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)完整的多點(diǎn)測試方案。通過觸發(fā)鏈路，7000系列開
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利用大功率數(shù)字源表構(gòu)建多源測量單元（SMU）系統(tǒng) -連載八
當(dāng)同時(shí)使用多個(gè)儀器時(shí)，對待測器件的源和測量時(shí)序進(jìn)行協(xié)調(diào)非常重要。因此，利用可用的軟件方案、以簡化和/或避免昂貴的編程，是非常有利的。利用商家提供的免費(fèi)啟動(dòng)軟件驗(yàn)證測試系統(tǒng)配置和功能。2600A與2650A系列源測
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利用大功率數(shù)字源表構(gòu)建多源測量單元（SMU）系統(tǒng)-連載三
儀器連接待測器件(DUT)與儀器的連接對于獲得有意義的結(jié)果是至關(guān)重要的。在使用吉時(shí)利8010型大功率測試夾具時(shí)，利用吉時(shí)利公司提供的電纜連接儀器直截了當(dāng)。關(guān)于連接圖，請參見本文件中“系統(tǒng)實(shí)例”部分的圖
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利用大功率數(shù)字源表構(gòu)建多源測量單元（SMU）系統(tǒng)-連載一
簡介利用高壓、大電流源測量單元(SMU)來設(shè)計(jì)和構(gòu)建功率半導(dǎo)體器件直流特性分析測試系統(tǒng)包括以下幾個(gè)步驟:• 選擇滿足測試要求的設(shè)備• 選擇連接待測器件(DUT)與儀器的電纜和夾具• 檢查系統(tǒng)安全和儀器保
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利用大功率數(shù)字源表構(gòu)建多源測量單元系統(tǒng)系統(tǒng)實(shí)例
利用測試夾具對封裝器件進(jìn)行測試吉時(shí)利8010型大功率器件測試夾具與2651A以及2657A型大功率系統(tǒng)數(shù)字源表一起完善了功率半導(dǎo)體器件測試解決方案。圖1給出源測量單元(SMU)儀器與8010型夾具的連接圖。在8010型互連參考指
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基于2400系列數(shù)字源表構(gòu)建電阻網(wǎng)絡(luò)測試系統(tǒng)
電阻網(wǎng)絡(luò)生產(chǎn)測試的目的是在生產(chǎn)的各個(gè)階段盡可能快速地檢驗(yàn)這些器件的性能，以及它們最終的封裝形式。這些測試必須可靠以確保所有裝箱的產(chǎn)品都滿足制造規(guī)范。通常情況下，我們需要對網(wǎng)絡(luò)中的每個(gè)單元進(jìn)行電阻測量。
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用2600系列數(shù)字源表進(jìn)行IDDQ測試和待機(jī)電流測試
CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測量靜態(tài)(或“待機(jī)”)電源電流用于驗(yàn)證生產(chǎn)測試質(zhì)量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過程被稱為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態(tài)條件下測
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用2600系列數(shù)字源表進(jìn)行IDDQ測試和待機(jī)電流測試
CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測量靜態(tài)(或“待機(jī)”)電源電流用于驗(yàn)證生產(chǎn)測試質(zhì)量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過程被稱為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態(tài)條件下測
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吉時(shí)利儀器推出2450型數(shù)字源表®的固件升級(jí)服務(wù)包
吉時(shí)利儀器日前宣布，推出新的固件升級(jí)服務(wù)包，用于更加完善其非常成功的2450型數(shù)字源表® 源測量一體單元(SMU)儀器---全球首款電容式觸摸屏的交互式SMU臺(tái)式儀器。此服務(wù)包滿足了客戶提出的眾多要求，包含了對若
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吉時(shí)利SMU2450數(shù)字源表讓測量不再枯燥
如今，年輕的電子工程師比例上升，經(jīng)驗(yàn)也就相對較少。而這些工程師也更偏愛使用簡潔、易上手的軟件。由于產(chǎn)品成本的壓低，專門的測量工程師變少。相反，產(chǎn)品更新?lián)Q代的周期變短，速度變快，上市時(shí)間的壓力變大，對于
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吉時(shí)利推出全球首款2450型觸摸屏數(shù)字源表
集I-V特性測試、曲線追蹤儀和半導(dǎo)體分析儀的功能于一體的低成本數(shù)字源表21ic訊 吉時(shí)利儀器日前宣布推出首款采用電容性觸摸屏和圖標(biāo)化操作界面的臺(tái)式數(shù)字源表(SMU)。2450型數(shù)
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新型數(shù)字源表專為低電壓測試而優(yōu)化
吉時(shí)利儀器公司日前推出專為低電壓測試而優(yōu)化的低成本方案—2400系列數(shù)字源表。新推出的2401型數(shù)字源表與所有吉時(shí)利SMU(源測量單元)儀器一樣，對光伏(太陽能)電池、高亮度LED(HBLED)、低壓材料和半導(dǎo)體器件的電
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吉時(shí)利三款最新型2600B系列數(shù)字源表
21ic訊 吉時(shí)利儀器公司，作為先進(jìn)電性測試儀器與測試系統(tǒng)的領(lǐng)導(dǎo)者，推出三款最新的源測量單元(SMU)儀器，非常適合臺(tái)式及研發(fā)應(yīng)用，拓展了2600B系列數(shù)字源表產(chǎn)品系列，提高量產(chǎn)生產(chǎn)率，產(chǎn)品更具易用性。這是目前測試與
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