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深空探測器PCB抗輻照設計：屏蔽層拓撲優(yōu)化與單粒子效應容錯布局
深空探測任務是人類探索宇宙奧秘、拓展認知邊界的重要途徑。然而，深空環(huán)境充滿了高能粒子輻射，如質子、重離子等，這些輻射會對探測器中的電子系統(tǒng)，尤其是印刷電路板（PCB）造成嚴重影響。高能粒子可能引發(fā)單粒子效應（SEE），導致電路邏輯錯誤、數(shù)據(jù)丟失甚至器件損壞。因此，開展深空探測器PCB抗輻照設計，通過屏蔽層拓撲優(yōu)化與單粒子效應容錯布局，對于保障探測器的可靠運行至關重要。
