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針對(duì)雙面PCB的在線測(cè)試儀模塊構(gòu)成
為了確保對(duì)電路板上的器件進(jìn)行功能測(cè)試，就必須強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)器件的邏輯電平，各腳驅(qū)動(dòng)器必須能夠吸收或輸出足夠的電流。根據(jù)國(guó)際防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)文件(00-53/1)所推薦的后驅(qū)動(dòng)安全標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試儀的最大驅(qū)動(dòng)電流被設(shè)計(jì)為240mA，測(cè)試時(shí)間在200ms以內(nèi)。
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針對(duì)雙面PCB的在線測(cè)試儀模塊構(gòu)成
一、電路在線測(cè)試技術(shù)1、在線測(cè)試原理：在線測(cè)試的基本原理是測(cè)試儀為印制電路板上的被測(cè)芯片提供輸入激勵(lì)，同時(shí)在計(jì)算機(jī)控制下自動(dòng)采集記錄被測(cè)芯片的輸出響應(yīng)和狀態(tài)值，通過(guò)計(jì)算機(jī)將其記錄的所有狀態(tài)值與標(biāo)準(zhǔn)的狀態(tài)
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在線測(cè)試技術(shù)的現(xiàn)狀和發(fā)展
1 引言在線測(cè)試曾作為組裝后PCB測(cè)試的主導(dǎo)技術(shù)而占據(jù)市場(chǎng)絕對(duì)優(yōu)勢(shì)，但隨著電子組裝技術(shù)的發(fā)展，PCB的密度越來(lái)越高，測(cè)試點(diǎn)間距越來(lái)越小，測(cè)試點(diǎn)數(shù)量越來(lái)越多，這一切都給傳統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)帶來(lái)挑戰(zhàn)，加之各種新型測(cè)試技
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安捷倫科技擴(kuò)展了用于電子產(chǎn)品生產(chǎn)線的低成本在線測(cè)試儀的功能新功能可提高大批量生產(chǎn)制造的生產(chǎn)效率
2011年10月9日，北京――安捷倫科技公司（NYSE：A）日前宣布為其低成本 U9401B Medalist i1000D 在線測(cè)試系統(tǒng)提供一系列新功能，來(lái)提高大批量電子產(chǎn)品生產(chǎn)制造環(huán)境中的生產(chǎn)效率。i1000D ICT 系統(tǒng)的新功能測(cè)試套件包括
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安捷倫在 NEPCON 上海 2010 展會(huì)上展示最新的 i3070系列 5 在線測(cè)試儀
安捷倫科技公司將于2010年4月20-22日，在最近的“NEPCON 上海2010 展會(huì)”上展示最新的Medalist i3070 系列5在線測(cè)試儀，地點(diǎn)為上海光大會(huì)展中心，4F25 展臺(tái)。這一新測(cè)試平臺(tái)提供的許多重要特性包括：1. ASRU 提速使產(chǎn)
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具有數(shù)字能力的全新在線測(cè)試儀（安捷倫）
安捷倫科技公司日前宣布其Medalist i1000D在線測(cè)試系統(tǒng)現(xiàn)已具有數(shù)字測(cè)試能力。i1000D成為迅速成長(zhǎng)和填補(bǔ)高功能性在線測(cè)試儀與低端制造缺陷分析儀間空缺的解決方案。 為向?qū)Τ杀久舾械闹圃焐烫峁┚哂心M和數(shù)字能力的
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基于MSP430的軌道電路在線測(cè)試儀設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)
針對(duì)UM71無(wú)絕緣軌道電路中補(bǔ)償電容的測(cè)量，設(shè)計(jì)了一種基于超低功耗單片機(jī)MSP430的補(bǔ)償電容以及鐵路信號(hào)頻率測(cè)量的便攜式測(cè)試儀。
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