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圖像處理技術(shù)在零件表面破損檢測(cè)中的設(shè)計(jì)及應(yīng)用
表面破損檢測(cè)問題的提出 準(zhǔn)確、快速地探測(cè)零件表面缺陷，直接關(guān)系產(chǎn)品質(zhì)量，若不及時(shí)剔除不合格產(chǎn)品，將會(huì)帶來質(zhì)量隱患。但在以批量生產(chǎn)方式為特徵的汽車、摩托車、內(nèi)燃機(jī)等行業(yè)，識(shí)別和檢測(cè)重要零件關(guān)鍵部位的表
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圖像處理技術(shù)在零件表面破損檢測(cè)中的設(shè)計(jì)及應(yīng)用
表面破損檢測(cè)問題的提出 準(zhǔn)確、快速地探測(cè)零件表面缺陷，直接關(guān)系產(chǎn)品質(zhì)量，若不及時(shí)剔除不合格產(chǎn)品，將會(huì)帶來質(zhì)量隱患。但在以批量生產(chǎn)方式為特徵的汽車、摩托車、內(nèi)燃機(jī)等行業(yè)，識(shí)別和檢測(cè)重要零件關(guān)鍵部位的表
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航天嵌入式圖像處理技術(shù)
航天嵌入式圖像處理技術(shù)
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基于數(shù)字圖像處理技術(shù)的巖石節(jié)理寬度測(cè)量
介紹了采用數(shù)字圖像處理技術(shù)對(duì)不規(guī)則巖石節(jié)理裂隙進(jìn)行寬度測(cè)量的不同方法。對(duì)比分析了常用的等面積圓算法、等面積橢圓算法和簡單Ferret算法的應(yīng)用缺陷，提出了改進(jìn)的Ferret算法，詳細(xì)說明了其實(shí)現(xiàn)原理，并通過實(shí)例驗(yàn)證了改進(jìn)的Ferret算法的可行性
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中星微發(fā)布場(chǎng)景高保真圖像處理技術(shù)
中星微電子有限公司在美國拉斯維加斯舉行的2010年國際消費(fèi)電子產(chǎn)品展（CES）上發(fā)布了場(chǎng)景高保真圖像處理技術(shù)，場(chǎng)景高保真是國家標(biāo)準(zhǔn)《安全防范監(jiān)控?cái)?shù)字視音頻編解碼技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)》（簡稱SVAC，Surveillance Video and Au
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中星微CES發(fā)布場(chǎng)景高保真圖像處理技術(shù)
中星微電子有限公司在美國拉斯維加斯舉行的2010年國際消費(fèi)電子產(chǎn)品展（CES）上發(fā)布了場(chǎng)景高保真圖像處理技術(shù)，場(chǎng)景高保真是國家標(biāo)準(zhǔn)《安全防范監(jiān)控?cái)?shù)字視音頻編解碼技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)》（簡稱SVAC，Surveillance Video and Au
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ST-ERICSSON攜手ARM，開發(fā)圖像處理技術(shù)
ST-Ericsson公司與ARM公司近日共同宣布將合作推出專為內(nèi)容和應(yīng)用開發(fā)者設(shè)計(jì)的支持Mali技術(shù)的開發(fā)平臺(tái)，以加速移動(dòng)用戶體驗(yàn)和圖像創(chuàng)新的進(jìn)一步發(fā)展。該平臺(tái)將通過ARM Mali Developer Center （ARM Mali開發(fā)中心）提供
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ST-ERICSSON與ARM合力圖像處理技術(shù)，加速移動(dòng)用戶體驗(yàn)創(chuàng)新
ST-Ericsson公司與ARM公司近日共同宣布將合作推出專為內(nèi)容和應(yīng)用開發(fā)者設(shè)計(jì)的支持Mali技術(shù)的開發(fā)平臺(tái)，以加速移動(dòng)用戶體驗(yàn)和圖像創(chuàng)新的進(jìn)一步發(fā)展。該平臺(tái)將通過ARM Mali Developer Center （ARM Mali開發(fā)中心）提供
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基于數(shù)字圖像處理技術(shù)的集成塊姿態(tài)檢測(cè)
基于數(shù)字圖像處理技術(shù)，研究了工業(yè)目標(biāo)檢測(cè)中集成塊的定位和姿態(tài)檢測(cè)方法。先通過對(duì)目標(biāo)圖像的預(yù)處理和閾值分割完成圖像的前期處理，然后通過面積法實(shí)現(xiàn)了集成塊管腳的定位和檢測(cè)，再用中心點(diǎn)斜率法完成了對(duì)集成塊姿態(tài)的檢測(cè)。
