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SOC的可測試性設計策略
1 引言 可測試設計(DFT)是適應集成電路的發(fā)展要求所出現的一種技術，主要任務是對電路的結構進行調整，提高電路的可測性，即可控制性和可觀察性。按測試結構分，目前比較成熟的技術主要有測試點
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PCB產品設計的可測試性的定義以及重要性分析
產品設計的可測試性(De sign For Testability. OFT) 也是產品可制造性的主要內容從生產角度考慮也是設計的工藝性之一。
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一種提高遙測信號處理器測試性方法
可測試性定義為：產品能及時準確地確定其狀態(tài)，隔離其內部故障的設計特性，以提高產品可測試性為目的而進行的設計被稱為可測試性設計。
