硬件可測試性設(shè)計規(guī)范：保障質(zhì)量與效率的關(guān)鍵

在快速發(fā)展的科技領(lǐng)域，硬件產(chǎn)品的復(fù)雜性和集成度日益提高，這對硬件的可測試性提出了更高要求。硬件可測試性設(shè)計（DFT, Design for Testability）作為一種重要的設(shè)計方法，旨在通過優(yōu)化硬件設(shè)計，提高測試效率、降低測試成本，并確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。本文將深入探討硬件可測試性設(shè)計規(guī)范，包括其重要性、設(shè)計原則、實施策略以及未來發(fā)展趨勢。